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Defect recognition and image processing in semiconductors 1995
Defect recognition and image processing in semiconductors 1995
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1.
Investigations on Epitaxial and Processed InP by Optical Photoreflectance Spectroscopy
机译:
光学反射光谱法研究外延和加工后的InP
作者:
S Hildebrandt
;
J Schreiber
;
R Kuzmenko
;
A Gansha
;
W Kircher
;
L Hoering
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
2.
Defect energy levels in Cd-based compounds
机译:
镉基化合物中的能级缺陷
作者:
A.Castaldini
;
A.Cavallini
;
B.Fraboni
;
J.Piqueras
;
L.Polenta
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
3.
Spectroscopy of Defects Induced by Ohmic Contact Preparation in LEC GaAs Particle Detectors
机译:
LEC GaAs粒子探测器中欧姆接触制备引起的缺陷的光谱学
作者:
A. Castaldini
;
A. Cavallini
;
C. del Papa
;
C. Canali
;
F. Nava
;
C. Lanzieri
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
4.
Effect of Temperature on implant isolation characteristics of AlGaAs/GaAs multilayer heterojunction structure
机译:
温度对AlGaAs / GaAs多层异质结结构注入隔离特性的影响
作者:
Hong-Da Xu
;
Sen Wang
;
Dong Zheng
;
Huan-Zhang Liu
;
Li-Shou Zhou
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
5.
Surface Morphology of Silicon Carbide Layers Deposited by Cyclotron Resonance Plasma
机译:
回旋共振等离子体沉积的碳化硅层的表面形态
作者:
F.J. Gomez
;
M.L. Rodriguez-Mendez
;
J. Piqueras
;
J. Jimenez
;
J.A. De Saja
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
6.
Morphological and MicroRaman Study of MBE In_xGa_(1-x)Sb / In_yAl_(1-y) Sb Heterostructures Grown on (100) GaAs Substrates
机译:
(100)GaAs衬底上生长的MBE In_xGa_(1-x)Sb / In_yAl_(1-y)Sb异质结构的形态学和显微拉曼研究
作者:
P.Martin
;
J.J. Perez-Camacho
;
J.Ramos
;
J.Jimenez
;
F.Briones
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
7.
Thermal Treatment of ZnSe Crystals Studied by Light Scattering and Photoluminescence Tomography
机译:
ZnSe晶体的光散射和光致发光层析成像研究
作者:
Toshihide Tsuru
;
Minya Ma
;
Tomoya Ogawa
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
8.
Noncontact separate measurements of bulk lifetime and surface recombination velocities in silicon wafers with oxidized mirror, etched, sliced, and sandblasted surfaces
机译:
非接触式分别测量带有氧化镜面,蚀刻,切片和喷砂表面的硅片中的总寿命和表面重组速度
作者:
Y. Ogita
;
M. Minegishi
;
H. Higuma
;
Y. Shigeto
;
K. Yakushiji
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
9.
Detection of Interstitial Oxygen in CZ Silicon Wafers by Light Scattering
机译:
光散射法检测CZ硅晶片中的间隙氧
作者:
Nobuhito NANGO
;
Tomoya OGAWA
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
10.
Growth studies at bulk III-Vs by image processing
机译:
通过图像处理在III-V体上进行生长研究
作者:
J Donecker
;
G Hempel
;
J Kluge
;
M Seifert
;
B Lux
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
11.
Dislocation Lines and Walls in Vapor Phase Grown ZnSe Crystals Studied by Light Scattering Tomography
机译:
气相相生长ZnSe晶体的位错线和壁的光散射层析成像研究
作者:
Minya MA
;
Tomoya OGAWA
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
12.
Scanning internal-photoemission microscopy: an imaging technique to reveal microscopic inhomogeneity at metal- semiconductor interfaces
机译:
扫描内部光发射显微镜:一种成像技术,揭示金属-半导体界面的微观不均匀性
作者:
Tsugunori Okumura
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
13.
The role of defects in electroless metal deposition on silicon (100)
机译:
缺陷在硅上化学镀金属沉积中的作用(100)
作者:
P. Gorostiza
;
J. Servat
;
F. Sanz
;
J. R. Morante
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
14.
Defect-Induced Oxidation of TiN in Ion-Beam-Assisted Deposition
机译:
离子束辅助沉积中TiN的缺陷诱导氧化
作者:
H.Kubota
;
M.Easterbrook
;
M.Tokunaga
;
M. Nagata
;
I.Sakata
;
M.A.Nicolet
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
15.
Fundamental Studies of Defect Imaging by SEM-CL/EBIC on Compound Semiconductor Materials
机译:
SEM-CL / EBIC在化合物半导体材料上缺陷成像的基础研究
作者:
J. Schreiber
;
S. Hildebrandt
;
H. Uniewski
;
V. Bechstein
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
16.
On the strain determination in cross-sectioned heterostructures by TEM/LACBED
机译:
用TEM / LACBED确定截面异质结构中的应变
作者:
A.Armigliato
;
A.Benedetti
;
R.Balboni
;
S.Frabboni
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
17.
Degradation and defects in electron-beam-pumped Zn_(1-x)Cd_xSe/ ZnSe GRINSCH blue-green lasers
机译:
电子束泵浦Zn_(1-x)Cd_xSe / ZnSe GRINSCH蓝绿色激光器的降解和缺陷
作者:
J-M Bonard
;
D Herve
;
J-D Ganiere
;
L Vanzetti
;
J J Paggel
;
L Sorba
;
E Molva
;
A Franciosi
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
18.
Laser Scanning Tomography Studies of Lithium Niobate Crystals
机译:
铌酸锂晶体的激光扫描层析成像研究
作者:
D. Benhaddou
;
A. R. Mickelson
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
19.
Photon tunneling transfer through semiconductors with atomic force microscopy
机译:
通过原子力显微镜在半导体中进行光子隧穿传输
作者:
P. Gall-Borrut
;
A. Bakro
;
M. Castagne
;
J. Bonnafe
;
J.P. Fillard
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
20.
Comparative study of the topography of submicron opto-electronic device structures using coherence probe microscopy, SEM and AFM
机译:
使用相干探针显微镜,SEM和AFM对亚微米光电器件结构的形貌进行比较研究
作者:
P C Montgomery
;
P Gall-Borrut
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
21.
Composition fluctuations in (In,Ga)(As,P) single layers and laser structures based on GaAs
机译:
基于GaAs的(In,Ga)(As,P)单层和激光结构中的成分波动
作者:
I. Rechenbei
;
A. Knauer
;
U. Zeimer
;
F. Bugge
;
U. Richter
;
A. Klein
;
M. Weyers
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
22.
High Speed, High Density SPV Mapping of Iron Contamination in Silicon Wafers
机译:
硅晶片中铁污染的高速,高密度SPV映射
作者:
J. Lagowski
;
P. Edelman
;
R. Erickson
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
23.
Raman and Photoluminescence Imaging of the Gan/Substrate Interface
机译:
Gan /底物界面的拉曼光谱和光致发光成像
作者:
H. Siegle
;
P. Thurian
;
L. Eckey
;
A. Hoffmann
;
C. Thomsen
;
B. K. Meyer
;
T. Detchprohm
;
K. Hiramatsu
;
H. Amano
;
I. Akasaki
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
24.
Device Degradation and Defects in GaAs
机译:
GaAs中的器件性能下降和缺陷
作者:
K. Wada
;
H. Fushimi
;
N. Watanabe
;
M. Uematsu
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
25.
On the nature of large-scale defect accumulations in Czochralski-grown silicon
机译:
直拉生长硅中大规模缺陷累积的性质
作者:
V P Kalinushkin
;
A N Buzynin
;
V A Yuryev
;
O V Astafiev
;
D I Murin
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
26.
Electron microscopy techniques for evaluating epitaxial and bulk III-V compound semiconductors
机译:
电子显微镜技术,用于评估外延和块状III-V化合物半导体
作者:
C Frigeri
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
27.
Defect Studies in LiNbO_3
机译:
LiNbO_3中的缺陷研究
作者:
Alan R Mickelson
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
28.
Microscopic defect characterization of damage-introduced regions in GaAs due to dry-etching processes
机译:
由于干蚀刻工艺导致的砷化镓损伤引入区域的微观缺陷表征
作者:
Y. Mochizuki
;
M. Mizuta
;
T. Ishii
;
A. Mochizuki
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
29.
IR-LST a powerful non-invasive tool to observe crystal defects in as-grown silicon, after device processing, and in heteroepitaxial layers
机译:
IR-LST是一种功能强大的无创工具,可在器件加工后以及异质外延层中观察生长的硅中的晶体缺陷
作者:
G Kissinger
;
J Vanhellemont
;
D Graef
;
C Claeys
;
H Richter
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
30.
Measurement and mapping of materials parameters for gallium arsenide wafers by infrared transmission topography
机译:
红外透射形貌法测量和映射砷化镓晶片的材料参数
作者:
M. G. Mier
;
D. C. Look
;
D. C. Walters
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
31.
Electrooptic sampling for measuring proton (H~+) exchanged induced defects in LiNbO_3
机译:
电光采样法测量LiNbO_3中质子(H〜+)交换引起的缺陷
作者:
Paul D. Biernacki
;
Alan R. Mickelson
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
32.
Determination of three-dimensional deep level defect distribution by Capacitance-Voltage Transient Technique (CVTT)
机译:
电容电压瞬变技术(CVTT)确定三维深层缺陷分布
作者:
S Duenas
;
R Pinacho
;
L Quintanilla
;
E Castan
;
J Barbolla
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
33.
Recognition and recombination strength evaluation by LBIC of dislocations in FZ and Cz silicon wafers
机译:
LBIC对FZ和Cz硅片中位错的识别和复合强度评估
作者:
I. Perichaud
;
J.J. Simon
;
S. Martinuzzi
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
34.
Detection of vacancy defects in gallium arsenide by positron lifetime spectroscopy
机译:
正电子寿命光谱法检测砷化镓中的空位缺陷
作者:
K. Saarinen
;
S. Kuisma
;
P. Hautojaervi
;
C. Corbel
;
C. LeBerre
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
35.
Investigation of the Radiation Damage of GaAs Detectors by Protons, Pions, Neutrons and Photons
机译:
质子,离子,中子和光子对GaAs探测器辐射损伤的研究
作者:
W.Braunschweig
;
Z.Chu
;
T.Kubicki
;
K.Lubelsmeyer
;
R.Krais
;
O.Syben
;
F.Tenbusch
;
M.Toporowsky
;
B.Wittmer
;
W.Xiao
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
36.
Imaging of the Si-Buried Oxide Interface Charges by Surface Photovoltage for the SOI CMOS Applications
机译:
SOI CMOS应用中通过表面光电压成像的硅埋氧化物界面电荷
作者:
K. Nauka
;
M.Cao
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
37.
Influence of Multi Wafer Annealing of LEC GaAs Substrates on the Quality of epitaxial Layers
机译:
LeC GaAs衬底的多晶圆退火对外延层质量的影响
作者:
J. Forker
;
M. Baeumler
;
J.L. Weyher
;
W. Jantz
;
D. Bernklau
;
H. Riechert
;
T. Inoue
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
38.
Improved thermally stimulated current analysis in semi-insulating GaAs: new conclusions
机译:
改进的半绝缘GaAs中的热激励电流分析:新结论
作者:
Z-Q. Fang
;
D. C. Look
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
39.
LIGHT SCATTERING TOMOGRAPHY STUDY OF LATTICE DEFECTS IN HIGH QUALITY AS-GROWN CZ SILICON WAFERS AND THEIR EVOLUTION DURING GATE OXIDATION
机译:
高质量成晶CZ硅晶片中晶格缺陷的光散射层析成像及其在门氧化过程中的演化
作者:
J. Vanhellemont
;
G. Kissinger
;
D. Graef
;
K. Kenis
;
M. Depas
;
P. Mertens
;
U. Lambert
;
M. Heyns
;
C. Claeys
;
H. Richter
;
P. Wagner
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
40.
Possibilities of application of elastic mid-IR light scattering for inspection of internal gettering operations
机译:
可以应用弹性中红外光散射检查内部吸气操作
作者:
O V Astafiev
;
A N Buzynin
;
V P Kalinushkin
;
D I Murin
;
V A Yuryev
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
41.
Optical beam-induced scattering mode of mid-IR laser microscopy: a method for defect investigation in near-surface and near-interface regions of bulk semiconductors
机译:
中红外激光显微镜的光束诱导散射模式:一种在体半导体的近表面和近界面区域进行缺陷研究的方法
作者:
O V Astafiev
;
V P Kalinushkin
;
V A Yuryev
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
42.
Fine structure observed in the thermal emission process for defects in semiconductors
机译:
在热发射过程中观察到的精细结构可发现半导体中的缺陷
作者:
L. Dobaczewski
;
M. Surma
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
43.
Recombination activity of oxygen precipitation related defects in Si
机译:
Si中氧沉淀相关缺陷的复合活性
作者:
W Seifert
;
M Kittler
;
J Vanhellemont
;
E Simoen
;
C Claeys
;
F G Kirscht
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
44.
Photocurrent Mapping of Fe-doped Semi-insulating InP
机译:
掺铁半绝缘InP的光电流映射
作者:
J.Jimenez
;
M. Avella
;
A.Alvarez
;
M. Gonzalez
;
R. Fornari
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
45.
A New Method for Measuring Mobile Charge in SiO_2 on Si; The First Real-Time Wafer Mapping Capability
机译:
一种测量Si上SiO_2中移动电荷的新方法;首个实时晶圆映射功能
作者:
P. Edelman
;
J. Lagowski
;
L. Jastrzebski
;
A.M. Hoff
;
A. Savchuk
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
46.
Surface Photovoltage and Contact Potential Difference Imaging of Defects Induced by Plasma Processing of IC Devices
机译:
IC器件的等离子体处理引起的缺陷的表面光电压和接触电势差成像
作者:
K. Nauka
;
J.Lagowski
;
P.Edelman
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
47.
Applications of Atomic Force Microscopy for Silicon Wafer Characterization
机译:
原子力显微镜在硅晶圆表征中的应用
作者:
M. Suhren
;
D. Graef
;
R. Schmolke
;
H. Piontek
;
P. Wagner
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
48.
Microscopic correspondence between Schottky-barrier height and interface morphology at thermally degraded Al/(111)Si contacts
机译:
热降解的Al /(111)Si接触点的肖特基势垒高度与界面形态之间的微观对应关系
作者:
S Miyazaki
;
T. Okuraura
;
Y. Miura
;
K. Hirose
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
49.
Recognition and Characterization of Precipitates in Annealed Cz and FZ Silicon by S.I.R.M. and L.B.I.C
机译:
S.I.R.M.对退火Cz和FZ硅中沉淀物的识别和表征和L.B.I.C
作者:
C. VEVE
;
N. GAY
;
J. GERVAIS
;
S. MARTINUZZI
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
50.
Identification of the mechanism of stacking fault nucleation in In_xGa_(1-x)As and In_yAl_(1-y)As layers grown by MBE on InP substrates
机译:
MBE在InP衬底上生长的In_xGa_(1-x)As和In_yAl_(1-y)As层中的堆垛层错成核机理的识别
作者:
F Peiro
;
A Cornet
;
J R Morante.
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
51.
Infrared Microscopic Photoluminescence Mapping on Semiconductors at Low Temperatures
机译:
低温下半导体上的红外显微光致发光映射
作者:
M. Tajima
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
52.
Evaluation of localized area epitaxy by spectrally resolved scanning photoluminescence
机译:
通过光谱分辨扫描光致发光评估局部外延
作者:
M F Nuban
;
S K Krawczyk
;
M Buchheit
;
R C Blanchet
;
S C Nagy
;
B J Robinson
;
D A Thompson
;
J G Simmons
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
53.
Microscopic Photoluminescence Mapping of Si-Doped GaAs around Dislocations at Low Temperatures
机译:
低温下位错周围硅掺杂砷化镓的微观光致发光映射
作者:
M. Tajima
;
Y. Kawate
;
R. Toba
;
M. Warashina
;
A. Nakamura
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
54.
Influence of photoexcitation depth on luminescence spectra of bulk GaAs single crystals: application to defect structure characterization
机译:
光激发深度对块状砷化镓单晶发光光谱的影响:在缺陷结构表征中的应用
作者:
V A Yuryev
;
V P Kalinushkin
;
A V Zayats
;
Yu A Repeyev
;
V G Fedoseyev
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
55.
Semiconductor defect characterization in the Scanning Electron Microscope
机译:
扫描电子显微镜中的半导体缺陷表征
作者:
H.-U. Habermeier
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
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1995年
56.
High resolution electron beam induced current measurements in an SEM-SPM hybrid system by tip induced barriers
机译:
尖端感应势垒在SEM-SPM混合系统中的高分辨率电子束感应电流测量
作者:
R. Heiderhoff
;
R.M. Cramer
;
L.J. Balk
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
57.
Imaging of defects in InGaAs/InP avalanche photo-detectors created during electrostatic discharge stress
机译:
静电放电应力产生的InGaAs / InP雪崩光电探测器中缺陷的成像
作者:
H.C.Neitzert
;
R.Crovato
;
G.A.Azzini
;
P.Montangero
;
L.Serra
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
|
1995年
58.
Extended defect related excess low-frequency noise in Si junction diodes
机译:
Si结二极管中与缺陷相关的扩展的过大低频噪声
作者:
E Simoen
;
J Vanhellemont
;
G Bosman
;
A Czerwinski
;
C Claeys
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
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1995年
59.
Linking Interface Quality to the Current-Voltage Characteristic of a Resonant Tunneling Diode
机译:
将接口质量链接到谐振隧穿二极管的电流电压特性
作者:
J S Hurley
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
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1995年
60.
Recent improvements in NFO for semiconductor defect or device imaging
机译:
用于半导体缺陷或器件成像的NFO的最新改进
作者:
JP Fillard
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
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1995年
61.
Cathodoluminescence and Electron Beam Induced Current techniques applied to the failure analysis of 980 nm pump lasers used in optical fiber amplification
机译:
阴极发光和电子束感应电流技术应用于光纤放大中使用的980 nm抽运激光器的失效分析
作者:
R B Martins
;
G Salmini
;
F Magistrali
会议名称:
《Defect recognition and image processing in semiconductors 1995》
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1995年
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