INFM and Dept. of Physics, Univ. Bologna, Italy;
INFM and Dept. of Physics, Univ. Bologna, Italy;
Dept of Physics, Univ. Udine, Italy;
Dept. of Physics, Univ. Modena, Italy;
INFN;
Alenia S.p.A. Roma, Italy;
机译:1.5 MeV He-4粒子在a-Si:H中的辐射诱导缺陷的光电导和光热偏转光谱研究
机译:缺陷诱导的化学镀镍镍/ PA12复合颗粒用于SLS加工的镍/ PA12复合颗粒
机译:微波检测的光感应电流瞬态光谱法(MD-PICTS)和微波检测的光导率(MDP)表征半导体中的非接触电缺陷
机译:LEC GaAs粒子检测器中欧姆接触制剂诱导的缺陷光谱
机译:通过固相反应开发与n-Ga(或Al)(0.5)In(0.5)P的不尖峰欧姆接触以及对n-GaAs进行低温处理的欧姆接触
机译:通过缺陷诱导化学镀制备用于SLS工艺的镍/ PA12复合颗粒
机译:准备与GaAs / AlGaAs核/壳纳米线的欧姆接触
机译:基于pd的欧姆接触Gaas和alGaas / Gaas的二次离子质谱研究