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International Test Conference
International Test Conference
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1.
Failure analysis of timing and IDDq-only failures from the SEMATECH test methods experiment
机译:
SEMATECH试验方法实验中的时序和IDDQ失败的失败分析
作者:
Phil Nigh
;
Dave Vallett
;
Atul Patel
;
Jason Wright
;
Franco Motika
;
Donato Forlenza
;
Ray Kurtulik
;
Wendy Chong
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
2.
The effects of test compaction on fault diagnosis
机译:
测试压实对故障诊断的影响
作者:
Yun Shao
;
Ruifeng Guo
;
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
3.
SymSim: symbolic fault simulation of data-flow data-path designs at the register-transfer level
机译:
Symsim:寄存器传输级别数据流数据路径设计的符号故障模拟
作者:
Sitaram Yadavalli
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
RTL ATPG;
Symbolic fault simulation;
Register-transfer level test;
High-level test generation;
Dependency set;
Fault modeling;
Test synthesis;
4.
DFT, test lifecycles and the product lifecycle
机译:
DFT,测试生命周期和产品生命周期
作者:
Gordon D. Robinson
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
5.
Practical scan test generation and application for embedded FIFOs
机译:
实用扫描测试生成和嵌入式FIFO的应用
作者:
Jeff Rearick
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
6.
Test features of a core-based Co-processor array for video applications
机译:
用于视频应用的基于核心的协处理器阵列的测试功能
作者:
Jos van Beers
;
Harry van Herten
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
7.
STAR-ATPG: a high speed test pattern generator for large scan designs
机译:
Star-ATPG:用于大型扫描设计的高速测试图案发生器
作者:
K. -H. Tsai
;
R. Tompson
;
J. Rajski
;
M. Marek-Sadowska
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
8.
Static component interconnection test technology in practice
机译:
静态分量互连测试技术在实践中
作者:
Frans de Jong
;
Rob Raaijmakers
;
Steffen Hellmold
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
9.
Probe contact resistance variations during elevated temperature wafer test
机译:
升高温度晶片试验期间的探针接触电阻变化
作者:
Jerry J. Broz
;
Reynaldo M. Rincon
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
10.
Optimal conditions for boolean and current detection of floating gate faults
机译:
布尔和电流检测浮闸断层的最佳条件
作者:
M. Renovell
;
A. Ivanov
;
Y. Bertrand
;
F. Azais
;
S. Rafiq
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
11.
The testability features of the 3rd generation coldfire family of microprocessors
机译:
第三代Coldfire族微处理器的可测试性功能
作者:
Alfred L. Crouch
;
Michael Mateja
;
Teresa L. McLaurin
;
John C. Potter
;
Dat Tran Motorola
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
12.
The HASS development process
机译:
汉气发育过程
作者:
David Rahe
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
HALT;
HASS;
ESS;
13.
Effective oscillation-based test for application to a DTMF filter bank
机译:
基于振荡的基于振荡的测试,用于应用于DTMF滤波器
作者:
Gloria Huertas
;
Diego Vazquez
;
Adoracion Rueda
;
Jose L. Huertas
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
14.
Defect-based delay testing of resistive vias-contacts a critical evaluation
机译:
基于缺陷的电阻通孔延迟测试 - 联系人关键评估
作者:
Keith Baker
;
Guido Gronthoud
;
Maurice Lousberg
;
Ivo Schanstra
;
Charles Hawkins
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
15.
RF (gigahertz) ate production testing on wafer: options and tradeoffs
机译:
RF(Gigahertz)在晶圆上吃生产测试:选项和权衡
作者:
Dean A. Gahagan
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
16.
Exploiting defect clustering to screen bare die for infant mortality failures: an experimental study
机译:
利用缺陷聚类以筛选婴儿死亡故障的屏蔽裸片:实验研究
作者:
David R. Lakin II
;
Adit D. Singh
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
17.
A method to improve the performance of high-speed waveform digitizing
机译:
一种提高高速波形数字化性能的方法
作者:
Koji Asami
;
Shinsuke Tajiri
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
18.
Limited access testing of analog circuits: handling tolerances
机译:
模拟电路的有限访问测试:处理公差
作者:
Cherif Ahrikencheikh
;
Michael Spears
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
In-circuit test;
Limited access;
Component tolerance;
Linear programming;
Singular value decomposition;
19.
Diagnostic techniques for the IBM S/390 600 MHz G5 microprocessor
机译:
IBM S / 390 600 MHz G5微处理器的诊断技术
作者:
Peilin Song
;
Franco Motika
;
Dan Knebel
;
Rick Rizzolo
;
Mary Kusko
;
Julie Lee
;
Moyra McManus
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
20.
Embedded X86 testing methodology
机译:
嵌入式X86测试方法
作者:
Luis Basto
;
Asif Khan
;
Pete Hodakievic
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
21.
Testing high speed high accuracy analog to digital converters embedded in systems on a chip
机译:
测试高速高精度模拟到芯片上系统中的数字转换器
作者:
Solomon Max
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
22.
Switch-level delay test
机译:
开关级延迟测试
作者:
Suriyaprakash Natarajan
;
Sandeep K. Gupta
;
Melvin A. Breuer
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
23.
A DFT technique for high performance circuit testing
机译:
高性能电路测试的DFT技术
作者:
Mansour Shashaani
;
Manoj Sachdev
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
24.
HD-BIST: a hierarchical framework for BIST sched-uling and diagnosis in SoCs
机译:
HD-Beis:Square-Ulity和SoC诊断的分层框架
作者:
Alfredo Benso
;
Silvia Cataldo
;
Silvia Chiusano
;
Paolo Prinetto
;
Yervant Zorian
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
25.
LT-RTPG: a new test-per-scan BIST TPG for low heat dissipation
机译:
LT-RTPG:用于低散热的新型测试每扫描BIST TPG
作者:
Seongmoon Wang
;
Sandeep K. Gupta
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
26.
Using roving STARs for on-line testing and diagnosis of FPGAs in fault-tolerant applications
机译:
在容错应用中使用粗纱恒星在线测试和诊断FPGA
作者:
Miron Abramovici
;
Charles Stroud
;
Carter Hamilton
;
Sajitha Wijesuriya
;
Vinay Verma
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
27.
On achieving complete coverage of delay faults in full scan circuits using locally available lines
机译:
使用本地可用行实现完整扫描电路延迟故障的完整覆盖
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
28.
Flexible ATE module with reconfigurable circuit and its application
机译:
具有可重新配置电路的柔性ATE模块及其应用
作者:
Takashi Kitagaki
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
29.
Interconnect delay fault testing with IEEE 1149.1
机译:
IEEE 1149.1互连延迟故障测试
作者:
Yuejian Wu
;
Paul Soong
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
30.
Built-in self-test for GHz embbedded srams using flexible pattern generator and new repair algorithm
机译:
使用灵活图案发生器和新修复算法的GHz嵌入式SRAM的内置自检
作者:
Shigeru Nakahara
;
Keiichi Higeta
;
Masaki Kohno
;
Toshiaki Kawamura
;
Keizo Kakitani
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
31.
Testability evaluation of sequential designs incorporating the multi-mode scannable memory element
机译:
包含多模可扫描存储元件的顺序设计的可测试性评估
作者:
Adit D. Singh
;
Egor S. Sogomonyan
;
Michael Gossel
;
Markus Seuring
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
32.
Port interference faults in two-port memories
机译:
双端口存储器中的港口干扰故障
作者:
Said Hamdioui
;
A. J. van de Goor
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
Multi-port memories;
Single port memories;
Memory fault models;
Weak faults;
March tests;
Test length;
Fault coverage;
33.
Logic BIST for large industrial designs: real issues and case studies
机译:
大型工业设计的逻辑BIST:真正的问题和案例研究
作者:
Graham Hetherington
;
Tony Fryars
;
Nagesh Tamarapalli
;
Mark Kassab
;
Abu Hassan
;
Janusz Rajski
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
34.
A study of test quality/tester scan memory trade-offs using the SEMATECH test methods data
机译:
使用SEMATECH测试方法数据研究测试质量/测试仪扫描存储器权衡
作者:
Kenneth M. Butler
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
35.
BIST for phase-locked loops in digital applications
机译:
用于数字应用中锁相环的BIST
作者:
Stephen Sunter
;
Aubin Roy
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
36.
Accuracy requirements in at-speed functional test
机译:
高速功能测试中的准确性要求
作者:
Burnell G. West
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
37.
Low overhead test point insertion for scan-based BIST
机译:
基于扫描的BIST的低开销测试点插入
作者:
Michinobu Nakao
;
Seiji Kobayashi
;
Kazumi Hatayama
;
Kazuhiko Iijima
;
Seiji Terada
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
38.
The test requirements model (TeRM) communicating test information throughout the product life cycle
机译:
测试要求模型(术语)在整个产品生命周期中传达测试信息
作者:
Lee A. Shombert
;
Danny C. Davis
;
Eric M. Bukata
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
39.
An embedded technique for at-speed interconnect testing
机译:
用于速度互连测试的嵌入式技术
作者:
Benoit Nadeau-Dostie
;
Jean-Francois Cote
;
Harry Hulvershorn
;
Stephen Pateras
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
40.
Testing an MCM for high-energy physics experiments: a case study
机译:
测试MCM用于高能量物理实验:案例研究
作者:
Alfredo Benso
;
Silvia Chiusano
;
Paolo Prinetto
;
Simone Giovannetti
;
Riccardo Mariani
;
Silvano Motto
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
41.
The test and debug features of the AMD-K7 microprocessor
机译:
AMD-K7微处理器的测试和调试功能
作者:
Timothy J. Wood
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
42.
Towards a standardized procedure for automatic test equipment timing accuracy evaluation
机译:
朝着自动测试设备定时准确度评估的标准化程序
作者:
Y. Cai
;
W. R. Ortner
;
C. T. Garrenton
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
43.
Silicon debug: scan chains alone are not enough
机译:
Silicon调试:单独扫描链是不够的
作者:
Gert Jan van Rootselaar
;
Bart Vermeulen
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
44.
Testability of the Philips 80C51 micro-controller
机译:
Philips 80C51微控制器的可测试性
作者:
M. H. Konijnenburg
;
J. Th. van der Linden
;
A. J. van de Goor
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
45.
A probe scheduling algorithm for MCM substrates
机译:
MCM基板的探针调度算法
作者:
Bruce C. Kim
;
Pinshan Jiang
;
Se Hyun Park
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
MCM testing;
Scheduling;
Interconnect;
Low-cost;
46.
An on-line bisted SRAM IP core
机译:
一条在线Bisted SRAM IP核心
作者:
Monica Lobetti-Bodoni
;
Alessio Pricco
;
Alfredo Benso
;
Silvia Chiusano
;
Paolo Prinetto
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
47.
Design for testability: it is time to deliver it for time-to-market
机译:
设计可测试性:是时候为上市时间提供
作者:
Bulent Dervisoglu
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
48.
Breaking the complexity spiral in board test
机译:
在船上测试中打破复杂性螺旋
作者:
Stephen F. Scheiber
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
49.
Applications of semiconductor test economics, and multisite testing to lower cost of test
机译:
半导体测试经济学的应用,以及较低测试成本的多路测试
作者:
Andrew C. Evans
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
50.
Accurate path delay fault coverage is feasible
机译:
准确的路径延迟故障覆盖是可行的
作者:
S. Tragoudas
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
51.
High speed digital transceivers: a challenge for manufacturing
机译:
高速数字收发器:制造业挑战
作者:
Clifford B. Cole
;
Thomas Phillip Warwick
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
52.
A design diversity metric and reliability analysis for redundant systems
机译:
冗余系统的设计分集度量和可靠性分析
作者:
Subhasish Mitra
;
Nirmal R. Saxena
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
53.
An efficient on-line-test and back-up scheme for embedded processors
机译:
用于嵌入式处理器的有效的在线测试和备用方案
作者:
M. Pflanz
;
F. Pompsch
;
H. T. Vierhaus
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
54.
Minimized power consumption for scan-based BIST
机译:
最大限度地减少了基于扫描的BIST的功耗
作者:
Stefan Gerstendorfer
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
BIST;
Low power;
Power consumption;
55.
PC manufacturing test in a high volume environment
机译:
高批量环境中的PC制造测试
作者:
David Williams
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
56.
Industrial evaluation of stress combinations for march tests applied to SRAMs
机译:
3月试验的应力组合的工业评估应用于SRAM
作者:
Ivo Schanstra
;
Ad J. van de Goor
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
RAM testing;
Base test;
Test primitive;
Stress combination;
Diagnostics;
57.
Towards a standard for embedded core test: an example
机译:
朝向嵌入式核心测试的标准:一个例子
作者:
Erik Jan Marinissen
;
Yervant Zorian
;
Rohit Kapur
;
Tony Taylor
;
Lee Whetsel
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
58.
Estimating the integral non-linearity of AD-converters via the frequency domain
机译:
通过频域估计广告器的积分非线性
作者:
Nico Csizmadia
;
A. J. E. M. Janssen
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
59.
Fault modeling of suspended thermal MEMS
机译:
悬浮热模型的故障建模
作者:
B. Charlot
;
S. Mir
;
E. F. Cota
;
M. Lubaszewski
;
B. Courtois
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
关键词:
Thermal MEMS;
Defects;
Bulk micromachining;
Fault modeling;
Fault injection;
HDLs;
60.
Functional verification of intellectual properties (IP): a simulation-based solution for an application-specific instruction-set processor
机译:
知识产权(IP)的功能验证:用于特定于应用程序的指令集处理器的基于模拟的解决方案
作者:
Manfred Stadler
;
Thomas Rower
;
Hubert Kaeslin
;
Norbert Felber
;
Wolfgang Fichtner
;
Markus Thalmann
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
61.
Using verilog simulation libraries for ATPG
机译:
使用Verilog仿真库用于ATPG
作者:
Peter Wohl
;
John Waicukauski
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
62.
Static component interconnect test technology (SCITT) a new technology for assembly testing'
机译:
静态组件互连测试技术(SCITT)组装测试的新技术'
作者:
Alex Biewenga
;
Henk D. L. Hollmann
;
Frans de Jong
;
Maurice Lousberg
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
63.
An algorithm for row-column self-repair of RAMs and its implementation in the alpha 21264
机译:
RAM栏的RAH列自修复算法及其在Alpha 21264中的实现
作者:
Dilip K. Bhavsar
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
64.
Robust testability of primitive faults using test points
机译:
使用测试点的原始故障的鲁棒性能
作者:
Ramesh C. Tekumalla
;
Prem R. Menon
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
65.
Robust test methods applied to functional design verification
机译:
适用于功能设计验证的强大测试方法
作者:
Susana Stoica
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
66.
Speed-up of high accurate analog test stimulus optimization
机译:
高精度模拟测试刺激优化的加速
作者:
Abdelhakim Khouas
;
Anne Derieux
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
67.
Design for in-system programming
机译:
系统设计设计
作者:
David A. Bonnett
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
68.
Particulate failures for surface-micromachined MEMS
机译:
表面微机械MEMS的颗粒故障
作者:
Tao Jiang
;
R. D. (Shawn) Blanton
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
69.
DFT advances in Motorola's MPC7400, a PowerPC microprocessor
机译:
摩托罗拉MPC7400的DFT进步,PowerPC微处理器
作者:
Carol Pyron
;
Mike Alexander
;
James Golab
;
George Joos
;
Bruce Long
;
Robert Molyneaux
;
Rajesh Raina
;
Nandu Tendolkar
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
70.
At-speed structural test
机译:
速度结构试验
作者:
Burnell G. West
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
71.
The integration of boundary-scan test methods to a mixed-signal environment
机译:
边界扫描测试方法对混合信号环境的集成
作者:
Adam W. Ley
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
72.
Characterization and optimization of the production probing process
机译:
生产探测过程的特征和优化
作者:
Minh Quach
;
Rich Samuelson
;
David Shaw
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
73.
Design for (physical) debug for silicon microsurgery and probing of flip-chip packaged integrated circuits
机译:
用于硅显微外科的(物理)调试和倒装芯片封装集成电路的探测
作者:
Richard H. Livengood
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
74.
Auto-calibrating analog timer for on-chip testing
机译:
用于片上测试的自动校准模拟定时器
作者:
B. Provost
;
E. Sanchez-Sinencio
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
75.
Tradeoff analysis for producing high quality tests for custom circuits in PowerPC microprocessors
机译:
PowerPC微处理器自定义电路生产高质量试验的权衡分析
作者:
Li-C. Wang
;
Magdy S. Abadir
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
76.
Testing reusable IP - A case study
机译:
测试可重复使用的IP - 以案例研究
作者:
Peter Harrod
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
77.
Synthesis of pattern generators based on cellular automata with phase shifters
机译:
基于相移蜂窝自动机的图案发生器的合成
作者:
Grzegorz Mrugalski
;
Jerzy Tyszer
;
Janusz Rajski
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
78.
Practical optical waveform probing of flip-chip CMOS devices
机译:
倒装芯片CMOS器件的实用光波形探测
作者:
Kenneth R. Wilsher
;
William K. Lo
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
79.
A new approach to RF impedance test
机译:
RF阻抗测试的一种新方法
作者:
Dino Ren Tao
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
80.
Defect detection using power supply transient signal analysis
机译:
使用电源瞬态信号分析缺陷检测
作者:
Amy Germida
;
Zheng Yan
;
James F. Plusquellic
;
Fidel Muradali
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
81.
An histogram based procedure for current testing of active defects
机译:
基于直方图的活动缺陷测试的过程
作者:
C. Thibeault
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
82.
Current ratios: a self-scaling technique for production IDDQ testing
机译:
电流比率:生产IDDQ测试的自我缩放技术
作者:
Peter Maxwell
;
Pete ONeill
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
83.
Design-for-test methodology for Motorola PowerPC microprocessors
机译:
摩托罗拉PowerPC微处理器的测试方法
作者:
Magdy Abadir
;
Rajesh Raina
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
84.
Finite state machine synthesis with concurrent error detection
机译:
有限状态机合成,并发错误检测
作者:
Chaohuang Zeng
;
Nirmal Saxena
;
Edward J. McCluskey
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
85.
Delay testing considering power supply noise effects
机译:
考虑电源噪声效应的延迟测试
作者:
Angela Krstic
;
Yi-Min Jiang
;
Kwang-Ting (Tim) Cheng
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
86.
Is DFT right for you?
机译:
是对你有权吗?
作者:
Jim Johnson
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
87.
Trends in SLI design and their effect on test
机译:
SLI设计的趋势及其对测试的影响
作者:
Robert Aitken
;
Fidel Muradali
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
88.
IMEMS accelerometer testing - test laboratory development and usage
机译:
IMEMS加速度计测试 - 测试实验室开发和使用
作者:
Richard W. Beegle
;
Robert W. Brocato
;
Ronald W. Grant
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
89.
Design of a test simulation environment for test program development
机译:
测试程序开发测试仿真环境设计
作者:
Jj O. Riordan
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
90.
Eliminating the ouija board: automatic thresholds and probabilistic I{sub}DDQ diagnosis
机译:
消除OUIJA板:自动阈值和概率I {SUB} DDQ诊断
作者:
David B. Lavo
;
Tracy Larrabee
;
Jonathon E. Colburn
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
91.
I{sub}DDQ testing in deep submicron integrated circuits
机译:
i {sub} DDQ在深度亚微米集成电路中测试
作者:
Anthony C. Miller
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
92.
Transient current testing of 0.25 μm CMOS devices
机译:
0.25μmCMOS器件的瞬态电流测试
作者:
Bram Kruseman
;
Peter Janssen
;
Victor Zieren
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
93.
Statistical threshold formulation for dynamic I{sub}dd test
机译:
动态I {Sub} DD测试的统计阈值配方
作者:
Wanli Jiang
;
Bapiraju Vinnakota
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
94.
Correlation of logical failures to a suspect process step
机译:
逻辑故障与可疑过程步骤的相关性
作者:
Hari Balachandran
;
Jason Parker
;
Daniel Shupp
;
Stephanie Butler
;
Kenneth M. Butler
;
Craig Force
;
Jason Smith
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
95.
The evolution of a system test process
机译:
系统测试过程的演变
作者:
Simon Martin
;
Robert Bleck
;
Chryssa Dislis
;
Des Farren
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
96.
Subband filtering scheme for analog and mixed-signal circuit testing
机译:
模拟和混合信号电路测试的子带滤波方案
作者:
Jeongjin Roh
;
Jacob A. Abraham
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
97.
Test support processors for enhanced testability of high performance circuits
机译:
测试支持处理器,提高高性能电路的可测试性
作者:
D. C. Keezer
;
Q. Zhou
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
98.
Delay testing of SOI circuits: challenges with the history effect
机译:
延迟测试SOI电路:历史效果的挑战
作者:
Eric MacDonald
;
Nur A
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
99.
Test generation for crosstalk-induced delay in integrated circuits
机译:
集成电路串扰引起的延迟试验
作者:
Wei-Yu Chen
;
Sandeep K. Gupta
;
Melvin A. Breuer
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
100.
Modeling the probability of defect excitation for a commercial IC with implications for stuck-at fault-based ATPG strategies
机译:
模拟商业IC的缺陷激励概率,对基于故障的ATPG策略的影响
作者:
Jennifer Dworak
;
Michael R. Grimaila
;
Sooryong Lee
;
Li -C. Wang
;
M. Ray Mercer
会议名称:
《International Test Conference》
|
1999年
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