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【24h】

Exploiting defect clustering to screen bare die for infant mortality failures: an experimental study

机译:利用缺陷聚类以筛选婴儿死亡故障的屏蔽裸片:实验研究

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摘要

We present the first experimental results to establish that a binning strategy based on defect clustering can be used to screen bare die for early life failures. The data for this study comes from the SEMATECH test methods experiment.
机译:我们介绍了第一个实验结果,以确定基于缺陷聚类的融合策略可用于筛选裸芯片,以便进行早期生命失败。本研究的数据来自Sematech测试方法实验。

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