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1.
Optoelectronic recognition of mobile objects
机译:
移动物体的光电识别
作者:
A.N. Alexandrin
;
Institute of Mechanical Engineering Problems
;
St. Petersburg
;
Russia
;
I.L. Tarasova
;
Institute of Mechanical Engineering Problems
;
St. Petersburg
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
2.
Progress in phase unwra
机译:
相解进展
作者:
Jonathan M. Huntley
;
Loughborough Univ.
;
Loughborough
;
United Kingdom
;
C.R. Coggrave
;
Loughborough Univ.
;
Loughborough
;
United Kingdom.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
3.
Aberrations of an optical system in the field heterodyne interferometer
机译:
外差式干涉仪中光学系统的像差
作者:
Tomasz Tkaczyk
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Romuald Jozwicki
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
4.
Near-field optical metrology
机译:
近场光学计量
作者:
Michel Spajer
;
Univ. de Franche-Comte
;
Besancon Cedex
;
France.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
5.
Hologram reconstruction using liquid crystal spatial light modulators
机译:
使用液晶空间光调制器的全息图重建
作者:
Denis Lebrun
;
Univ. of Rouen
;
Mont Saint Aignan
;
France
;
Samir Belaid
;
Univ. of Rouen
;
Mt St Aignan
;
France
;
Cafer Ozkul
;
Univ. of Rouen
;
Mont St. Aignan
;
France.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
6.
Measurement of stress distribution in fiber-glass-reinforced timber joint
机译:
玻璃纤维增强木材接头中应力分布的测量
作者:
Chi-Jen Chen
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Lausanne
;
Switzerland
;
Pramod K. Rastogi
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Lausanne
;
Switzerland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
7.
Grating diffraction for strain measurement in a microscope
机译:
光栅衍射用于显微镜中的应变测量
作者:
Bing Zhao
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore
;
Anand K. Asundi
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
8.
Estimating the shape factor of suspended particles in a liquid-borne particle counter
机译:
估计液体颗粒计数器中悬浮颗粒的形状因子
作者:
Aladar Czitrovszky
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Attila Nagy
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Peter Jani
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungar
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
9.
Fourier analysis of phase-shifting algorithms
机译:
相移算法的傅立叶分析
作者:
Klaus R. Freischlad
;
Phase Shift Technology
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
10.
High-resolution cross-correlation PIV on photographic film
机译:
摄影胶片上的高分辨率互相关PIV
作者:
J.Cater
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia
;
J.Kostas
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia
;
A.Fouras
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia
;
J.Soria
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
11.
Optical strain gauge
机译:
光学应变仪
作者:
Rajpal S. Sirohi
;
National Univ. of Singapore
;
Chennai
;
India
;
Fook S. Chau
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore
;
Siew-Lok Toh
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore
;
Elgin T. Quek
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapo
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
12.
Deformation measurement by optical field methods in material testing and for verification of numerical simulation
机译:
材料测试中的光场方法测量变形并用于数值模拟验证
作者:
Reinhold Ritter
;
Technical Univ. of Braunschweig
;
Braunschweig
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
13.
Combined measurement of silicon microbeams by grating interferometry and digital holography
机译:
光栅干涉法和数字全息术相结合的硅微束测量
作者:
Werner P. Jueptner
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Bremen
;
Germany
;
Malgorzata Kujawinska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Wolfgang Osten
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Lilienthal
;
Germany
;
Leszek A
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
14.
Determination of precise optical surface roughness parameters using ARS data
机译:
使用ARS数据确定精确的光学表面粗糙度参数
作者:
Valentina V. Azarova
;
Polyus
;
Moscow
;
Russia
;
U.N. Lokhov
;
Polyus
;
Russia
;
K.Malitsky
;
MIPT
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
15.
Design of algorithms for phase measurement
机译:
相位测量算法的设计
作者:
Yves Surrel
;
Ecole des Mines de Saint-Etienne
;
Paris Cedex 0
;
France.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
16.
Digital shearography for slope measurement
机译:
数字式坡度仪
作者:
H.M. Shang
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore
;
Y.M. He
;
Huazhong Univ. of Science
;
Technology
;
Huazhong
;
China
;
C.J. Tay
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
17.
Evolution of optical interferometry in view of practical a
机译:
从实用角度出发光学干涉术的发展
作者:
Zoltan Fuzessy
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
18.
Electromagnetic field in optics
机译:
光学中的电磁场
作者:
Peter Varga
;
Research Institute for Technical Physics
;
Material s Science
;
Budapest
;
Hungary
;
Peter Torok
;
Univ. of Oxford
;
Oxford
;
United Kingdom.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
19.
Beyond the upper limit of holographic and speckle interferometry
机译:
超出全息和散斑干涉法的上限
作者:
Author(s): Ferenc Gyimesi Technical Univ. of Budapest Budapest XI Hungary
;
Zoltan Fuzessy Technical Univ. of Budapest Budapest Hungary
;
Bela Raczkevi Technical Univ. of Budapest Budapest Hungary
;
Arpad Pikethy Technical Univ. of Budapest Budape
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
20.
Application of optical fiber sensors on the power dam of Luzzone
机译:
光纤传感器在卢佐内电力大坝中的应用
作者:
Author(s): Rolf Broennimann Swiss Federal Labs. for Materials Testing and Researc h Duebendorf Switzerland
;
Philipp M. Nellen Swiss Federal Labs. for Materials Testing and Researc h Duebendorf Switzerland
;
Peter Anderegg Swiss Federal Labs. for Mat
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
21.
New applications of in-plane shadow and reflection moire methods
机译:
平面内阴影和反射云纹方法的新应用
作者:
Author(s): Fu P. Chiang SUNY/Stony Brook Stony Brook NY USA
;
M.L. Du SUNY/Stony Brook Suny Stony Brook NY USA
;
I.M. Kao SUNY/Stony Brook Suny Stony Brook NY USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
22.
Adaptive system for speckle pattern interferometry
机译:
散斑图案干涉测量的自适应系统
作者:
Janos Kornis
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
;
Attila Nemeth
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
;
Nasser Moustafa
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
23.
Numerical simulation package for speckle metrology
机译:
散斑计量的数值模拟软件包
作者:
Janos Kornis
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
;
Nandor Bokor
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
;
Attila Nemeth
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
24.
Two-frequency laser measuring technique with high axis velocity
机译:
高轴速度的二频激光测量技术
作者:
Feng Z. Fang
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore
;
Kok A. Ngoi
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
25.
Testing of the Swiss Expo 2001 structural models by fiber optic and whole field optical methods
机译:
通过光纤和全场光学方法测试2001年瑞士世博会的结构模型
作者:
Andrea Pedretti
;
Passera Pedretti Consulting Engineers
;
Lugano
;
Switzerland
;
Ezio Cadoni
;
Passera Pedretti Consulting Engineers
;
Ispra
;
Italy
;
Daniele Inaudi
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
SMARTEC SA
;
Grancia
;
Switzerland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
26.
Speckle interferometry to investigate degradation processes of stressed solid materials
机译:
散斑干涉法研究应力固体材料的降解过程
作者:
Satoru Toyooka
;
Saitama Univ.
;
Urawa Saitama
;
Japan
;
Suprapedi
;
Saitama Univ.
;
Tangerang
;
Indonesia
;
Qinchuan Zhang
;
Saitama Univ.
;
Saitama
;
Japan.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
27.
Surface profilometry by wavelength scanning interferometry
机译:
通过波长扫描干涉法进行表面轮廓测定
作者:
Ichirou Yamaguchi
;
RIKEN--The Institute of Physical
;
Chemical Researc h
;
Wako-shi Saitama
;
Japan
;
Akihiro Yamamoto
;
RIKEN--The Institute of Physical
;
Chemical Researc h
;
Wako-shi
;
Saitama
;
Japan
;
Masaru Yano
;
Saitama Univ.
;
Urawa
;
Saitama
;
Japan.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
28.
Precision laser element metrology
机译:
精密激光元件计量
作者:
Valentina V. Azarova
;
Polyus
;
Moscow
;
Russia
;
N.A. Efremova
;
Polyus
;
Moscow
;
Russia
;
Vaytcheslav N. Svirin
;
Polyus
;
Moscow
;
Russia
;
V.A. Sharov
;
Polyus
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
29.
Velocity measurements in the nanosecond range realized by variably delayed dye laser exposition
机译:
通过可变延迟的染料激光曝光实现的纳秒级速度测量
作者:
Zsuzsanna Marton
;
Jozsef Attila Univ. Szeged
;
Szeged
;
Hungary
;
Bela Hopp
;
Research Group on Laser Physics
;
Szeged
;
Hungary
;
Zsolt Toth
;
Research Group on Laser Physics
;
Szeged
;
Hungary
;
Maria Csete
;
Jozsef Attila Univ. Szeged
;
Szeged
;
Hungary
;
Ferenc Igna
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
30.
Holography for the investigation of technical systems
机译:
全息技术,用于调查技术系统
作者:
Werner P. Jueptner
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Bremen
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
31.
Measurement of thermal gradient in solutions generated by laser illumination
机译:
测量激光照射产生的溶液中的热梯度
作者:
Zsolt Benko
;
Jozsef Attila Univ. Szeged
;
Szeged
;
Hungary
;
E.Farkas
;
Jozsef Attila Univ. Szeged
;
Szeged
;
Hungary
;
Zsolt Bor
;
Jozsef Attila Univ. Szeged
;
Szeged
;
Hungary
;
Istvan Ketskemety
;
Jozsef Attila Univ. Szeged
;
Szeged
;
Hungary.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
32.
Optical interferometry techniques in electrochemistry and corrosion
机译:
电化学和腐蚀中的光学干涉技术
作者:
Khaled J. Habib
;
Kuwait Institute for Scientific Research
;
Safat
;
Kuwait.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
33.
Scanning optical microscopy and its applications to nondestructivematerials testing,
机译:
扫描光学显微镜及其在非破坏性材料测试中的应用,
作者:
Peter Torok
;
Univ. of Oxford
;
Oxford
;
United Kingdom
;
L.M. Stagno
;
MEMC Electronic Materials Inc.
;
St. Peters
;
MO
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
34.
Shear ESPI with small objects
机译:
用小物体剪切ESPI
作者:
Rajpal S. Sirohi
;
National Univ. of Singapore
;
Chennai
;
India
;
C.J. Tay
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore
;
H.M. Shang
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore
;
W.P. Boo
;
National Univ. of Singapore
;
Singapore
;
Singapore.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
35.
Pulsed TV holography system: development and some results
机译:
脉冲电视全息系统:发展和一些成果
作者:
Nils-Erik Molin
;
Lulea Univ. of Technology
;
Lulea
;
Sweden.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
36.
Pulsed digital holography for vibration analysis
机译:
脉冲数字全息技术,用于振动分析
作者:
Hans J. Tiziani
;
Univ. of Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany
;
Giancarlo Pedrini
;
Univ. of Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany
;
Philipp Froening
;
Univ. of Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
37.
Problems in complex modulation of wavefronts using LCTV displays in optical correlation measurements
机译:
在光学相关性测量中使用LCTV显示器对波前进行复杂调制的问题
作者:
Nazif Demoli
;
Univ. of Zagreb
;
Zagreb
;
Croatia
;
Guenther K. Wernicke
;
Humboldt Univ. of Berlin
;
Erkner
;
Germany
;
A.Hirsch
;
Humboldt Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Germany
;
Sven Krueger
;
Humboldt Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Germany
;
Hartmut Gruber
;
Humboldt Univ. o
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
38.
Surface topometry by multiwavelength technique and temporal Fourier transformation
机译:
多波长技术和时间傅立叶变换的表面形貌
作者:
Hans J. Tiziani
;
Univ. of Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany
;
Berhard Franze
;
Univ. of Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany
;
P.Haible
;
Univ. of Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany
;
Charles Joenathan
;
Univ. of Stuttgart
;
Terre Haute
;
IN
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
39.
Selected problems of optical metrology in industry
机译:
行业光学计量学的若干问题
作者:
Hans Rottenkolber
;
International Consultant
;
Kirchheim
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
40.
Roughness parameters and surface deformation measured by coherence radar
机译:
相干雷达测量的粗糙度参数和表面变形
作者:
Peter Ettl
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
B.Schmidt
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
M.Schenk
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Ildiko Laszlo
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Gerd Haeusler
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
41.
Speckle interferometry with nanoparticles
机译:
纳米颗粒斑点干涉法
作者:
Fu P. Chiang
;
SUNY/Stony Brook
;
Stony Brook
;
NY
;
USA
;
Qing Wang
;
SUNY/Stony Brook
;
Suny Stony Brook
;
NY
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
42.
Size distribution measurement of particles in LDA systems using back scattering geometry
机译:
使用反向散射几何学测量LDA系统中颗粒的尺寸分布
作者:
Peter Jani
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Attila Nagy
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Aladar Czitrovszky
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungar
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
43.
Real-time phase distribution analysis of fringe patterns
机译:
条纹图案的实时相位分布分析
作者:
Yoshiharu Morimoto
;
Wakayama Univ.
;
Sakaedani Wakayama
;
Japan
;
Motoharu Fujigaki
;
Wakayama Univ.
;
Sakaedani
;
Wakayama
;
Japan.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
44.
Thirty-odd years of industrial hologram interferometry
机译:
工业全息干涉法三十多年
作者:
Gordon M. Brown
;
Optical Systems Engineering
;
Naples
;
FL
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
45.
Whole-field digital analysis of photoelastic fringe patterns
机译:
光弹性条纹图案的全场数字分析
作者:
Terry Y. Chen
;
National Cheng Kung Univ.
;
Tainan
;
Taiwan.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
46.
Flow diagnosis by using holographic interferometry
机译:
使用全息干涉仪进行流量诊断
作者:
Sheng-Mao Tieng
;
National Cheng Kung Univ.
;
Tainan
;
Taiwan.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
47.
Optical measurement methods for MEMS a
机译:
MEMS的光学测量方法
作者:
Volker Grosser
;
Fraunhofer Institute for Reliability
;
Microintegra tion
;
Berlin
;
Germany
;
C.Bombach
;
Fraunhofer Institute for Reliability
;
Microintegra tion
;
Karl-Marx-Stadt
;
Germany
;
Wolf Faust
;
Fraunhofer Institute for Reliability
;
Microintegra tion
;
Frank
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
48.
Optical testing of cylindrical surfaces by grazing incidence interferometry in the infrared region
机译:
通过掠射干涉法在红外区域对圆柱表面进行光学测试
作者:
Roland Schreiner
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Sven Brinkmann
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Thomas Dresel
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Johannes Schwider
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germ
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
49.
Holography: science and art
机译:
全息术:科学与艺术
作者:
Pierre M. Boone
;
Univ. of Gent
;
Gent
;
Belgium.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
50.
Applications of pulsed cineholographic interferometry,
机译:
脉冲全息照相干涉术的应用
作者:
Paul Smigielski
;
French-German Research Institute
;
St Louis Cedex
;
France.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
51.
Measurement devices with and for micro-optics at the University of Erlangen
机译:
埃尔兰根大学带有微光学的测量设备和用于微光学的测量设备
作者:
Norbert Lindlein
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Johannes Schwider
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
52.
Multiwavelength ATR reflectometry of thin films
机译:
薄膜的多波长ATR反射法
作者:
A.Hoffmann
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Norbert Kroo
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Z.Lenkefi
;
Research Institute for Solid State Physics
;
Optics
;
Budapest
;
Hungary
;
Z.Sze
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
53.
Nature of the optical information recorded in speckles
机译:
斑点中记录的光学信息的性质
作者:
Cesar A. Sciammarella
;
Illinois Institute of Technology
;
Chicago
;
IL
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
54.
Adaptive conversion of visual information by noncomputing method
机译:
非计算方法对视觉信息的自适应转换
作者:
Andrew E. Gorodetsky
;
Institute of Mechanical Engineering Problems
;
St. Petersburg
;
Russia
;
M.E. Kompan
;
Institute of Mechanical Engineering Problems
;
St. Petersburg
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
55.
New applications of in-plane, shadow, and reflection moire methods,
机译:
平面,阴影和反射云纹方法的新应用,
作者:
Fu P. Chiang
;
SUNY/Stony Brook
;
Stony Brook
;
NY
;
USA
;
M.L. Du
;
SUNY/Stony Brook
;
Suny Stony Brook
;
NY
;
USA
;
I.M. Kao
;
SUNY/Stony Brook
;
Suny Stony Brook
;
NY
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
56.
Holographic microscopic interferometry with respect to the estimation of stress and strain in micro-opto-electro-mechanical systems (MOEMS)
机译:
全息显微干涉法,用于估计微光机电系统(MOEMS)中的应力和应变
作者:
Guenther K. Wernicke
;
Humboldt Univ. of Berlin
;
Erkner
;
Germany
;
Oliver Kruschke
;
Humboldt Univ. of Berlin
;
Puchheim
;
Germany
;
Nazif Demoli
;
Univ. of Zagreb
;
Zagreb
;
Croatia
;
Hartmut Gruber
;
Humboldt Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
57.
Inverse projected-fringe technique with automatic pattern adaption using a programmable spatial light modulator
机译:
逆投影条纹技术,使用可编程空间光调制器实现自动模式自适应
作者:
Michael K. Kalms
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik Gmbh
;
Bremen
;
Germany
;
Wolfgang Osten
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Lilienthal
;
Germany
;
Werner P. Jueptner
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Bremen
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
58.
Hybrid FEM/grating interferometry analysis of displacement fields in mechanical elements
机译:
机械元件位移场的混合有限元/光栅干涉法分析
作者:
Grzegorz Dymny
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Malgorzata Kujawinska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
59.
Large deformation measurement and analysis on related curved surfaces
机译:
相关曲面的大变形测量和分析
作者:
Walter Schumann
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zuerich
;
Switzerland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
60.
Laser generation and detection of ultrasound for materials characterization
机译:
激光产生和超声检测以表征材料
作者:
S. Gareth Pierce
;
Univ. of Strathclyde
;
Glasgow
;
United Kingdom
;
Brian Culshaw
;
Univ. of Strathclyde
;
Glasgow Strathclyde
;
United Kingdom
;
Q.Shan
;
Univ. of Strathclyde
;
Glasgow
;
United Kingdom.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
61.
Holographic interferometry of strain waves as a tool for nondestructive testing
机译:
应变波全息干涉法作为无损检测的工具
作者:
Galina V. Dreiden
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
A.V. Porubov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
A.M. Samsonov
;
A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
;
St. Petersburg
;
Russia
;
Irina V. Sem
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
62.
ESPI deformation measurement on lightweight structures under thermal load
机译:
热负荷下轻质结构的ESPI变形测量
作者:
Erwin K. Hack
;
Swiss Federal Labs. for Materials Testing
;
Researc h
;
Uster
;
Switzerland
;
Rolf Broennimann
;
Swiss Federal Labs. for Materials Testing
;
Researc h
;
Duebendorf
;
Switzerland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
63.
Fiber optical single-frame speckle interferometer for measuring industrial surfaces
机译:
光纤单框散斑干涉仪,用于测量工业表面
作者:
J.Kranz
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
J.Lamprecht
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
A.Hettwer
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany
;
Johannes Schwider
;
Univ. of Erlangen-Nuernberg
;
Erlangen
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
64.
Experimental and numerical analysis of the thermal deformation of composite tubes
机译:
复合管热变形的实验与数值分析
作者:
Daniel Holstein
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Bremen
;
Germany
;
Petra Aswendt
;
Fraunhofer Institut fuer Werkzeugmaschinen und Umform technik
;
Chemnitz
;
Germany
;
Roland Hoefling
;
Fraunhofer Institut fuer Werkzeugmaschinen und Umform t
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
65.
Grating microinterferometer for local in-plane displacement/strain field analysis
机译:
光栅微干涉仪,用于局部面内位移/应变场分析
作者:
Leszek A. Salbut
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warsaw
;
Poland
;
Malgorzata Kujawinska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
66.
Fringe pattern analysis methods: up-to-date review
机译:
条纹图案分析方法:最新审查
作者:
Malgorzata Kujawinska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Wolfgang Osten
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Lilienthal
;
Germany.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
67.
Structural analysis of bridges and beams using long-gage fiber optic sensors
机译:
使用长距离光纤传感器的桥梁和梁的结构分析
作者:
Daniele Inaudi
;
SMARTEC SA (Switzerland)
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Grancia
;
Switzerland
;
Nicoletta Casanova
;
SMARTEC SA (Switzerland)
;
Institute of Material Me chanics
;
Grancia
;
Switzerland
;
Pascal Kronengerg
;
Swiss Federal Institute of Techno
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
68.
Beyond the upper limit of holographic and speckle interferometry,
机译:
超出全息和散斑干涉法的上限,
作者:
Ferenc Gyimesi
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest XI
;
Hungary
;
Zoltan Fuzessy
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
;
Bela Raczkevi
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
;
Arpad Pikethy
;
Technical Univ. of Budapest
;
Budapest
;
Hungary
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
69.
Combined implementation of holographic and speckle interferometry for comparative local stress analysis at different vibration modes
机译:
全息和散斑干涉术的组合实现,用于在不同振动模式下进行比较局部应力分析
作者:
Sergey A. Novikov
;
Central Aero-Hydrodynamics Institute
;
Zhukovsky
;
Russia
;
Vladimir S. Pisarev
;
Central Aero-Hydrodynamics Institute
;
Zhukovsky
;
Russia
;
Alexander S. Dzuba
;
Moscow Institute of Physics
;
Technology
;
Zhukovsky
;
Russia
;
Vladimir D. Grigoriev
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
70.
Color-encoded fringe projection and phase shifting for 3D surface contouring
机译:
颜色编码的条纹投影和相移,用于3D表面轮廓
作者:
Peisen S. Huang
;
SUNY/Stony Brook
;
Coram
;
NY
;
USA
;
Qingying Hu
;
SUNY/Stony Brook
;
Suny Stony Brook
;
NY
;
USA
;
Feng Jin
;
SUNY/Stony Brook
;
Stony Brook
;
NY
;
USA
;
Fu P. Chiang
;
SUNY/Stony Brook
;
Stony Brook
;
NY
;
USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
71.
Contour mapping of the shape difference between two objects byholographic interferometry with reduced sensitivity,
机译:
通过全息干涉测量法在降低灵敏度的情况下对两个物体之间的形状差异进行轮廓映射,
作者:
Nadya O. Reinhand
;
Institute of Mechanical Engineering Problems
;
St Petersburg
;
Russia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
72.
Digital moire: techniques and a
机译:
数字云纹:技术和
作者:
Anand K. Asundi
;
Nanyang Technological Univ.
;
Singapore
;
Singapore.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
73.
Digital holography: methods and a
机译:
数字全息术:方法和方法
作者:
Thomas M. Kreis
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Bremen
;
Germany
;
Werner P. Jueptner
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Bremen
;
Germany
;
Juergen Geldmacher
;
Bremen Institut fuer Angewandte Strahltechnik GmbH
;
Bremen
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
74.
Distribution sensing by synthesis of the optical coherence function
机译:
通过光学相干函数的合成进行分布感测
作者:
Kazuo Hotate
;
Univ. of Tokyo
;
Bunkyo-ku Tokyo
;
Japan
;
Takashi Saida
;
Univ. of Tokyo
;
Tokyo
;
Japan
;
Zuyuan He
;
Univ. of Tokyo
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
75.
Diffractive optical element in materials testing
机译:
材料测试中的衍射光学元件
作者:
Raimo Silvennoinen
;
Univ. of Joensuu
;
Joensuu
;
Finland
;
Kai-Erik Peiponen
;
Univ. of Joensuu
;
Joensuu
;
Finland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
76.
Effect of anomalous particle light scattering on PIV image quality
机译:
粒子异常光散射对PIV图像质量的影响
作者:
J.Kostas
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia
;
J.Cater
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia
;
J.Soria
;
Monash Univ.
;
Melbourne
;
Australia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
77.
Application of ESPI technique to evaluate the crack propagation zone of prenotched clay elements
机译:
ESPI技术在预刻粘土元件裂纹扩展区域评估中的应用
作者:
Author(s): Ezio Cadoni Passera Pedretti Consulting Engineers Ispra Italy
;
Brian Bowe Dublin Institute of Technology Dublin Ireland
;
Daniel Albrecht European Commission Joint Research Ctr. Ispra Italy.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
78.
Scanning optical microscopy and its applications to nondestructive materials testing
机译:
扫描光学显微镜及其在无损检测中的应用
作者:
Author(s): Peter Torok Univ. of Oxford Oxford United Kingdom
;
L.M. Stagno MEMC Electronic Materials Inc. St. Peters MO USA.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
79.
Applications of pulsed cineholographic interferometry
机译:
脉冲电影干涉仪的应用
作者:
Author(s): Paul Smigielski French-German Research Institute St Louis Cedex France.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
80.
Contour mapping of the shape difference between two objects by holographic interferometry with reduced sensitivity
机译:
通过全息干涉法在两个物体之间的形状差异进行轮廓映射,并降低了灵敏度
作者:
Author(s): Nadya O. Reinhand Institute of Mechanical Engineering Problems St Petersburg Russia.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
81.
Applications of distributed Brillouin fiber sensing
机译:
分布式布里渊光纤传感的应用
作者:
Author(s): Luc Thevenaz Swiss Federal Institute of Technology Lausanne Switzerland
;
Marc Nikles Swiss Federal Institute of Technology Lausanne Switzerland
;
Alexandre Fellay Swiss Federal Institute of Technology Lausanne Switzerland
;
Massimo Facch
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
82.
Application of shape-measuring optical methods in animation
机译:
形状测量光学方法在动画中的应用
作者:
Author(s): Malgorzata Kujawinska Warsaw Univ. of Technology Warszawa Poland
;
Michal Pawlowski Warsaw Univ. of Technology Warsaw Poland.
会议名称:
《International Conference on Applied Optical Metrology》
|
1998年
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