非均匀性

摘要： 为研究纯铁板制作过程中由微观组织的非均匀性对其力学性能产生的影响,以DT4C、DT4E板材为研究对象,探究纯铁板在不同厚度、拉伸速率及取样方向下应力应变曲线的变化规律,探索其对纯铁板拉伸性能的影响,得出纯铁板宏观物理特性的非均匀性变化规律。结果表明:取样方向对拉伸性能影响较小;板材厚度为0.5~2 mm时,屈服强度与厚度呈正比关系,纯铁板拉伸性能在厚度方向上具有尺寸效应;相同拉伸速率下,延伸率随厚度的增大先增大后减小,呈抛物状分布,存在一个最优厚度2 mm使得纯铁板的力学性能充分发挥;铁板内部构造的非均匀性决定了同种材料不同取样位置的试件力学性能的差异性。

摘要： 动力电池高续航、长循环、快速充电和高安全性等严苛的使用要求推动着锂离子电池技术的革新。然而,这也使得电池内部从颗粒材料到电芯各层级的均匀性问题变得突出,成为决定电池综合性能的关键因素。研究锂离子电池多尺度的非均匀性成因及改善策略,是目前电池制造与电池管理中亟待解决的重要问题。本概述系统地总结了锂离子电池材料颗粒、电极微结构、极片平面以及电芯单体的非均匀特征对电池电化学均匀性的影响以及在电池循环过程中的演化规律,并重点归纳出非均匀性通过内在的并联电学结构损伤电池性能的作用机制。最后,针对各尺度下的非均匀问题提出了具体的改善措施。

摘要： 为了实现空间光通信中高精度的链路,本文重点研究了影响面阵探测器对于目标定位精度的关键因素。首先从机理上分析了质心算法的误差,并仿真验证了满足空间无损采样条件的必要性。我们定义了NU值并以此为指标来量化探测器的非均匀性,随着NU自0开始线性增长,质心的定位误差持续增长但是速度放缓。当NU值为0.005时,最大定位误差为0.043像素。在目标入射到光学系统的光强不断改变的条件下,NU值越小,质心位置越接近光斑的真实位置。我们通过实验测试了某种典型的CMOS探测器在不同光照强度下的像元响应,建立了像元响应非均匀性的数理模型,计算出NU值于线性响应范围内在0.0045到0.0048范围内波动。光斑质心定位精度的实验结果表明,绝对定位误差小于0.05像素,可以满足高精度链路的需求,验证了理论和仿真的有效性。

摘要： X射线成像检测系统由X射线源、高精度成像线阵探测器、可移动样品台架,以及成像与控制系统等部分构成,各部件都会对X射线成像质量造成影响,而线阵探测器作为X射线检测系统的核心器件,对成像质量有最直接的影响。因此,分析了线阵探测器造成的X射线图像非均匀性的影响因素,常规的图像校正方算法对非均匀性X射线图像校正效果一般,对处理的结果进行对比分析,对两点校正算法进行优化,在两点校正法的基础上进行了拓展,校正过程中根据需要插入多个点,将一整段像素数据分成多个段,在每个小段上进行相应两点校正,确定了多点定标分段校正方法,增加了校正的拟合度。优化后的算法继承了两点校正法原有的优势,同时又规避了其局限性,将原始X射线图像13.38%的非均匀度降低至2.43%,整体上非均匀度降低了82%,对图像的均匀性有显著提升。

摘要： 岩体结构面粗糙度的准确表征对结构面力学性质的精准描述具有重要意义。为查明天然岩石节理粗糙度评价结果中正负尺寸效应相互矛盾的发现,以浙江省青石镇采石场大尺寸岩体结构面为例,采用三维激光扫描技术,基于4个二维粗糙度统计参数(Z_(2)、S_(F)、R_(p)和θ^(*)_(max)/(C+1)2D)对大型天然岩石节理面粗糙度进行量化。通过与变异函数方法中的分形参数进行比较,得到高度一致的结果。研究表明:节理表面粗糙度具有明显的非均匀性,且非均匀性对不同节理尺寸下粗糙度参数的计算结果具有重要影响;节理尺寸相关的尺度效应随着粗糙度均匀性的增加而减小。这表明节理尺寸引起的尺度效应一定程度上是源于节理表面粗糙度的非均匀性。

摘要： 非制冷红外焦平面读出电路具有低功耗、高分辨率等特点,并且具有电路结构简单、低功耗、高清晰度的电路芯片,其主要用于红外成像设备。基于TSMC 0.18μm工艺,研究并设计了一种384×288像元阵列非制冷红外焦平面读出电路,包含非均匀消除模块、像元电路模块和电容反馈互导放大器(CTIA)。对电路进行仿真,结果显示积分电压具有较好的线性和放大效果。

摘要： 预混火焰界面的RM(Richtmyer-Meshkov)不稳定现象在自然界和工程实践中十分常见,但目前关于反应性RM不稳定的研究主要集中于均匀介质的情况,而实际中的预混气体往往是非均匀的,因此开展非均匀介质中火焰界面演化和混合特性的研究十分必要。采用带单步化学反应的Navier-Stokes方程和高精度数值格式,研究了预混火焰界面在入射激波及反射激波作用下的RM不稳定过程,考察了化学反应活性以及介质非均匀性对RM不稳定过程中火焰界面混合特性的变化规律的影响。结果表明,在入射激波作用后的阶段,在均匀介质中的火焰界面形态呈现典型的“钉-帽-泡”结构,化学反应活性越强,界面的“泡”结构和“钉-帽”结构增长越快;而在非均匀介质中,火焰界面形态则呈现“钉-钉”结构,界面在流向速度差的诱导下被更大程度地拉伸。在第一次反射激波作用后的阶段,混合区的增长速率不依赖于反应活性和均匀性,仅与流动特性有关。时间尺度的研究表明,大尺度流动是反应性RM不稳定的主导因素,其次是化学反应,最后是小尺度混合,化学反应的强化会抑制大尺度流动,非均匀性会强化大尺度流动。

摘要： 为研究节理倾角对灰岩破裂模式及破裂过程的影响,使用数字图像对灰岩的细观非均匀性进行表征,采用岩石破裂过程分析系统(RFPA2D-DIP)对不同倾角节理灰岩的细观破裂过程及宏观破坏模式进行了研究.结果表明,细观结构对各倾角节理试样的力学特性和最终破坏模式有重要影响,含节理灰岩的弹性模量及抗压强度具有明显的各向异性,随着节理倾角的增大均呈U型变化;含节理灰岩在单轴压缩条件下以拉伸破坏为主并伴随少量剪切破坏,细观拉伸破裂的聚集导致了宏观剪切带的形成;含节理灰岩的最终破坏模式随着方位角 α 的不同表现出6种形式:直线形(α=45°,α=75°);N形(α=60°);斜Z形(α=0°);斜N形(α=90°);M形(α=15°);V形(α=30°).

摘要： 为改善sCMOS读出电路工艺偏差导致的非均匀性问题,本文提出了自适应多点非均匀性校正方法.算法首先以搜寻最小范数点、阈值比较的方式分别确定最优分段点的位置以及最佳分段数量,然后再根据这些分段信息在各区间段分别进行两点校正.通过该自适应方法可有效改善传统多点法中由于分段参数选择不当导致的校正性能下降.同时,为实现实时的非均匀性校正,文中根据自适应多点法的算法特点,提出了一种与之匹配的嵌入式数据串流校正方案,可在不影响现有相机采集结构以及采集速率的情况下实现非均匀性的校正.

摘要： 阐述大面阵电荷耦合器件(CCD)多晶硅刻蚀。由于器件尺寸大,器件的分布空间有限,易受到刻蚀负载效应影响,造成底层氮化硅损伤不一致。8000×8000元可见光传感器件经过三次多晶硅刻蚀后,氮化硅的损伤非均匀性达20%以上。通过对刻蚀负载效应的分析和工艺的优化,该器件经过三次多晶硅刻蚀后的氮化硅损伤非均匀性降低到了5%以下。

摘要： 大型固体发动机固化降温等所引发的贮存载荷较为严重,复杂的装药结构导致装药内部的应力/应变场也是不均匀的.非均匀贮存载荷的长期作用会引起药柱的力学性能的分布不均匀.基于此,本文提出基于推进剂力学性能非均匀性的装药结构完整性分析方法.仿真结果显示:考虑推进剂装药力学性能非均匀性与否,对装药结构完整性分析结果影响较大.以本文研究模型为例,在仅考虑因贮存载荷而引起的推进剂装药最大延伸率分布不均匀时,装药结构完整性计算结果差异较大,装药结构完整性的安全系数随应变敏感系数正相关.推进剂装药力学性能非均匀性对固体火箭动机药柱结构完整性寿命有着显著的影响.对于本文研究的固体火箭发动机药柱,当不考虑推进剂装药力学性能非均匀性时,其结构完整性寿命为30年;当以应变敏感系数为2.94来标定其力学性能的非均匀性时,其结构完整性寿命为42.7年;当应变敏感系数为-2.94时,为0年.

摘要： 以单一粒径密排颗粒样本为标准,提出了一种适用于颗粒材料的非均匀性度量方法;基于此方法考查了颗粒样本的应变分布及演化与初始非均匀度之间的关系,验证了非均匀性与应变分布的一致性;探究了样本整体非均匀度与加载过程中首次屈服点的关系,得出对尺寸相同的颗粒样本,非均匀度与首次屈服点之间满足线性关系;考查了颗粒偶应力三阶张量的二次不变量及其体积平均的变化规律,建议了分析颗粒样本偶应力效应的临界表征尺寸.

摘要： 针对目前施工过程中缺乏沥青路面非均匀性实时检测控制的方法和标准,对路面施工质量动态控制现状,施工质量检测技术现状以及沥青路面非均匀性无损、连续检测方法进行了分析,形成完整的沥青路面非均匀性无损检测和质量标准控制技术,可以指导沥青路面施工,控制施工质量,具有重要的现实意义.

摘要： 通过分析黄铜/316L不锈钢不同面积比下丝束电极的电流分布特征和典型丝束的电化学腐蚀特性,研究黄铜/不锈钢电偶腐蚀过程中的非均匀性.结果表明,黄铜在低面积比例下主要表现为阳极电偶腐蚀;当黄铜面积比增加,黄铜区域也呈现阳极区和阴极区的腐蚀非均匀性,且非均匀性随黄铜面积比例增加而增大;动电位极化表明,非均匀性的出现是由于黄铜局域的电化学腐蚀差异所产生的电偶效应大干不锈钢和黄铜之间的电偶效应所致.

摘要： 本研究用三维有限元方法模拟了这种非均匀性岩石圈结构下的同震形变场,利用4幅ERS InSAR降轨数据和25个GPS站的同震位移数据,定量分析了岩石圈结构非均匀性对同震形变场和滑动分布反演的影响.

摘要： 利用中国553个台站1961-2010年逐日降水资料,运用降水集中度PCD、新的集中程度方法Q和旱涝指数W分别讨论了中国夏季降水季节内非均匀特征和变化规律.结果表明:我国西北大部分地区降水相对集中,西北地区中部和西南地区降水较分散,东部整体降水并不集中,但黄河中下游地区降水相对集中.新疆和西藏地区西部、西北地区中部以及东南沿海降水集中程度逐渐趋于分散,Q在华北和东北大部分地区显示趋于集中,PCD则相反.我国黄河、长江中下游和华南沿海W值较大,易发生洪涝,西部地区W值较小,相对容易发生干旱.西藏、青海部分地区以及长江、黄河流域发生干旱或洪涝灾害较为频繁,西南地区W年际变化很小.60-80年代W大多偏小于平均值,1981-1993年W变化幅度较大,1994年后W多偏大于平均值,全国大部分地区W值多为增加的变化趋势.另外W有显著的2-3a和7-8a周期震荡.

摘要： 红外焦平面成像阵列的非均匀性严重限制了红外成像系统的成像质量,因此如何提高红外图像成像质量成为红外成像技术使用的关键.本文通过对多种非均匀性算法的分析和介绍,依据红外焦平面成像阵列像元对同一辐射响应曲线的特点,引入了基于两点校正算法和多点校正算法的新的校正算法,并通过真实的红外图像序列实验表明,该算法在实际的校正过程中取得了较好的效果.

摘要： 详细介绍了0.1 mT～50mT恒定磁场标准装置的系统组成及工作原理,该标准装置能够同时满足霍耳磁强计径向/轴向探头以及指针磁强计检测、校准时放置的需求,研究结果表明:该标准装置复现磁场的范围为0.1 mT～52mT,在中心区Φ50mm×50mm的范围内,非均匀性可以达到3×10-4。

摘要： 对于二、三元进气道后接的圆形隔离段,入口流场附面层沿周向具有非均匀性,这种非均匀性对隔离段抗反压性能具有显著干扰,本文针对这一问题进行了专门研究.提出了非均匀附面层的模拟方法,并进行了算例验证,而后以此研究了入口附面层非均匀条件下隔离段内激波串的形态及流动特性,分析了出口反压和附面层非均匀程度的影响.仿真结果表明:附面层的非均匀性增加了隔离段内分离区的大小和范围,使流场更不稳定;附面层厚度与非均匀程度相互作用,共同影响隔离段的抗反压性能,本文所取的一组模型中,沿周向抽吸25％附面层的来流条件下,隔离段具有较优的抗反压性能.

摘要： 针对封闭回廊的排烟问题,提出在回廊转角处增设排烟口的方案.定量模拟计算表明,在相同的排烟量下,该方案相对于均匀布置排烟口的方案具有更强的烟气控制能力,可大幅减少烟气向毗邻楼梯间蔓延的比例,并且在温升、能见度、烟颗粒浓度的控制上均具有优势.

摘要： 一种非均匀介质组织均匀性超声无损表征方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。这种非均匀介质组织均匀性超声无损表征方法针对非均匀介质组织均匀性超声无损表征过程中多相、非均质、散射体形貌不规则、尺寸变化范围大导致超声波散射机制复杂、组织均匀性信息难以有效解耦的问题，采用超声脉冲回波技术，结合小波变换多尺度分析和支持向量回归机器学习算法对非均匀介质组织均匀性进行无损表征。该表征方法具有易于实现、鲁棒性强、表征精度高等优点，克服了传统拟合法和正则化方法难以处理物理机制复杂的非线性和不适定问题的局限性，具有良好的推广及应用前景。

摘要： 本发明公开了一种基于非均匀傅里叶变换的平行平板光学均匀性的测量方法，首先通过在菲索型波长移相干涉仪中，分别移相采样放置待测平行平板和空腔下的干涉图；其次，对干涉图各点的干涉光强数据，采用基于快速高斯网格法(FGG)的非均匀傅里叶变换，转化至频域进行频谱分析；最后，提取不同干涉腔长下对应的频率分量进行逆傅里叶变换获得干涉图的相位信息，将其恢复为波面信息后，计算得到待测平行平板的光学均匀性。本发明采用非均匀傅里叶变换频谱分析法，降低了波长移相时的非线性误差引起的测量误差，操作简单，步骤少，可用于大口径光学材料光学均匀性的高精度测量。

摘要： 一种非均匀介质组织均匀性超声无损表征方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。这种非均匀介质组织均匀性超声无损表征方法针对非均匀介质组织均匀性超声无损表征过程中多相、非均质、散射体形貌不规则、尺寸变化范围大导致超声波散射机制复杂、组织均匀性信息难以有效解耦的问题，采用超声脉冲回波技术，结合小波变换多尺度分析和支持向量回归机器学习算法对非均匀介质组织均匀性进行无损表征。该表征方法具有易于实现、鲁棒性强、表征精度高等优点，克服了传统拟合法和正则化方法难以处理物理机制复杂的非线性和不适定问题的局限性，具有良好的推广及应用前景。

摘要： 本发明公开了一种基于非均匀傅里叶变换的平行平板光学均匀性的测量方法，首先通过在菲索型波长移相干涉仪中，分别移相采样放置待测平行平板和空腔下的干涉图；其次，对干涉图各点的干涉光强数据，采用基于快速高斯网格法(FGG)的非均匀傅里叶变换，转化至频域进行频谱分析；最后，提取不同干涉腔长下对应的频率分量进行逆傅里叶变换获得干涉图的相位信息，将其恢复为波面信息后，计算得到待测平行平板的光学均匀性。本发明采用非均匀傅里叶变换频谱分析法，降低了波长移相时的非线性误差引起的测量误差，操作简单，步骤少，可用于大口径光学材料光学均匀性的高精度测量。

摘要： 本发明实施例公开了一种非制冷红外焦平面探测器非均匀性响应率校正方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中，方法包括分别在两个目标标定温度点对非制冷红外焦平面探测器进行标定得到相应的响应率，根据两对温度值和响应率值确定响应率预测直线；根据响应率预测直线和各标定温度点处的响应率误差值计算响应率预测曲线；根据响应率预测曲线计算非制冷红外焦平面探测器在当前温度下的响应率；最后根据当前温度的响应率和平均响应率计算当前温度的响应率校正系数。本申请提供的技术方案现有的标定方法工作环境受限、校正效果差、需要大量标定导致时间和成本消耗较大的问题，有利于提高非制冷红外焦平面探测器的量产效率，普适性强。

摘要： 基于无快门的非制冷红外成像系统和非均匀性校正方法，所述系统包括：光学镜头、红外探测器、现场可编程门阵列、模数转换器、存储器和图像编码器；光学镜头收集目标的光信号，红外探测器将光信号转换成模拟电压信号后，经过模数转换器转换输出给现场可编程门阵列；模数转换器对红外探测器输出的模拟信号进行采样后传输给现场可编程门阵列；现场可编程门阵列对数字信号进行处理并输出；所述方法首先采集系统对同一均匀目标背景的响应值；并计算红外焦平面阵列的衬底温度；然后根据背景值和衬底温度，计算当前状态下的背景值；最后使用一点校正，对图像进行非均匀性校正。本发明具有易实现、精度高的特点，可广泛应用于目前的非制冷红外成像系统中。

摘要： 本发明公开了一种测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法。主要解决目前对CCD的性能参数测量精确度不够的问题。其实现步骤为：选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η，设置波长可调的单色均匀光源系统，产生波长为η的单色光；然后选取使CCD芯片50％曝光所对应的积分时间，以该积分时间作为参数控制CCD芯片拍摄两组图像序列上传至计算机；根据这两组图像计算总的平均灰度值和空间方差计算出CCD芯片的暗信号非均匀性DSNU和光子响应非均匀性PRNU参数，本发明具有测量精度高、稳定性好的优点。可用于对CCD芯片性能的评估。

摘要： 本发明公开了一种基于圆柱体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法，它将中子穿过的随机介质区简化为包含单个颗粒的圆柱体，其中颗粒在圆柱体内随机均匀分布。将中子穿过的随机介质区简化为包含单个颗粒的圆柱体，其中颗粒在圆柱体内随机均匀分布。圆柱体长度通过人为设定，圆柱体直径根据颗粒半径R以及颗粒填充率α确定。通过保证均匀化前中子在随机介质区各子区发生的首次碰撞概率与均匀化后的相应概率相等，开展等效均匀化后随机介质区总截面与各子区空间自屏因子的计算，由空间自屏因子修正各子区截面，实现双重非均匀系统中子学计算。

摘要： 本发明公开了一种基于正方体随机模型的等效均匀化双重非均匀性计算方法，它将中子穿过的随机介质区简化为包含单个颗粒的正方体，其中颗粒在正方体内随机均匀分布。正方体边长根据颗粒半径R以及颗粒填充率α确定。通过保证均匀化前中子在随机介质区各子区发生的首次碰撞概率与均匀化后的相应概率相等，开展等效均匀化后随机介质区总截面与各子区空间自屏因子的计算，由空间自屏因子修正各子区截面，进而实现双重非均匀系统中子学计算。

摘要： 本发明涉及一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法，它包括以下步骤：步骤A，温度试验箱内采集多个过程数据，所述过程是指温度试验箱在某一温度下，红外非制冷探测器从冷开机到拷机的数据采集过程，所述多个过程是指温度试验箱的设置温度有N个，每个温度下过程的数据采集流程相同；步骤B，最优温升估计；步骤C：动态本底估计及非均匀性校正：按照最优温升估计所得最优偏移量，在所述多个过程数据中寻找就近过程，并在每个就近过程中所得的本底构成动态本底；步骤D：跟随：在所得校正结果进行指标计算，判断是否调整搜素步长和漂移量变化量数组。