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非制冷红外焦平面探测器非均匀性响应率校正方法及装置

摘要

本发明实施例公开了一种非制冷红外焦平面探测器非均匀性响应率校正方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中,方法包括分别在两个目标标定温度点对非制冷红外焦平面探测器进行标定得到相应的响应率,根据两对温度值和响应率值确定响应率预测直线;根据响应率预测直线和各标定温度点处的响应率误差值计算响应率预测曲线;根据响应率预测曲线计算非制冷红外焦平面探测器在当前温度下的响应率;最后根据当前温度的响应率和平均响应率计算当前温度的响应率校正系数。本申请提供的技术方案现有的标定方法工作环境受限、校正效果差、需要大量标定导致时间和成本消耗较大的问题,有利于提高非制冷红外焦平面探测器的量产效率,普适性强。

著录项

  • 公开/公告号CN108871590B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 烟台艾睿光电科技有限公司;

    申请/专利号CN201811101237.3

  • 发明设计人 侯莅聪;朱荣华;李世杰;

    申请日2018-09-20

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗满

  • 地址 264006 山东省烟台市烟台开发区贵阳大街11号

  • 入库时间 2022-08-23 10:46:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-17

    授权

    授权

  • 2018-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20180920

    实质审查的生效

  • 2018-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20180920

    实质审查的生效

  • 2018-11-23

    公开

    公开

  • 2018-11-23

    公开

    公开

  • 2018-11-23

    公开

    公开

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