红外焦平面探测器的非均匀性校正与算法实现

摘要

与红外单元器件系统相比,焦平面面阵探测器的一个最大的缺点是其固有的非均匀性,它极大地限制了凝视红外系统的探测性能.实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术.文章首先介绍了探测器的非均匀性的成因,然后对被普遍采用的多种非均匀性校正方法进行了讨论,最后分别利用DSP和FPGA实现焦平面探测器的两点校正算法.