首页> 中国专利> 红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法

红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法

摘要

本发明公开了一种红外焦平面阵列(IRFPA)探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法,针对IRFPA探测器非均匀性响应的校正输出对残差抑制的要求,引入加权的均匀背景校正残差以补偿实际场景的校正误差,将辐射源定标校正与残差对消方法相结合,抑制了IRFPA探测器的残余非均匀性,有效降低了校正后响应值与实际场景辐照值之间的偏差,并使得IRFPA探测器的温度分辨率得以提升。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 5/00 授权公告日:20140205 终止日期:20160229 申请日:20120229

    专利权的终止

  • 2014-02-05

    授权

    授权

  • 2012-11-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20120229

    实质审查的生效

  • 2012-07-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号