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Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
召开年:
2014
召开地:
Tucson, AZ(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
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75
条结果
1.
2012 symposium outstanding paper award
机译:
2012年研讨会优秀论文奖
作者:
Dhakad Harshit
;
Gossner Harald
;
Stein Bernhard
;
Russ Christian
;
Zekert Stefan
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Awards activities;
Electrostatic discharges;
2.
8A.2 paper withdrawn
机译:
取出8A.2纸
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
3.
CDM protection of a 3D TSV memory IC with a 100 GB/s wide I/O data bus
机译:
具有100 GB / s宽I / O数据总线的3D TSV存储器IC的CDM保护
作者:
Nagata Makoto
;
Takaya Satoshi
;
Ikeda Hiroaki
;
Linten Dimitri
;
Scholz Mirko
;
Chen Shih-Hung
;
Hasegawa Keiichi
;
Shintani Taizo
;
Sawada Masanori
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Pins;
Stress;
Three-dimensional displays;
Through-silicon vias;
Voltage measurement;
4.
Cover
机译:
盖
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
5.
This page was intentionally left blank
机译:
此页有意留为空白
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
6.
A high-reliable self-isolation current-mode transmitter (CM-Tx) design for +/−60V automotive interface with Bulk-BCD technology
机译:
采用Bulk-BCD技术的+/- 60V汽车接口的高可靠性自隔离电流模式发射机(CM-Tx)设计
作者:
Hsu Wen-Yang
;
Lan Po-Hsiang
;
Lin Wan-Yen
;
Lee Jam-Wem
;
Chen Kuo-Ji
;
Song Ming-Hsiang
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Area measurement;
Electric breakdown;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Receivers;
Switches;
7.
Plant-level ESD standards and the practical protection engineering of China's electronics manufacturing industry
机译:
中国电子制造业的工厂级ESD标准和实用保护工程
作者:
Zou Jinlin
;
Wang Youliang
;
Lai Ping
;
Luo Daojun
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Electrostatics;
Floors;
Grounding;
Production facilities;
Standards;
8.
Multi-reflection TLP: A new measurement technique for system-level automotive ESD/EMC characterization
机译:
多反射TLP:用于系统级汽车ESD / EMC表征的新测量技术
作者:
Farbiz Farzan
;
Salman Akram A.
会议名称:
《》
|
2014年
关键词:
Cable shielding;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Impedance;
Power cables;
Standards;
Stress;
9.
ESD sensitivity of 01005 chip resistors and capacitors
机译:
01005片式电阻器和电容器的ESD敏感性
作者:
Tamminen Pasi
;
Sydanheimo Lauri
;
Ukkonen Leena
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitance;
Capacitors;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Resistors;
Stress;
Transmission line measurements;
10.
Pseudo p-i-n avalanche diode clamp
机译:
伪p-i-n雪崩二极管钳位
作者:
Vashchenko V.A.
;
Shibkov A.A.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Clamps;
Conductivity;
Electrostatic discharges;
Modulation;
P-i-n diodes;
PIN photodiodes;
Resistance;
11.
Thin-body ESD protections in 28nm UTBB-FDSOI: From static to transient behavior
机译:
28nm UTBB-FDSOI中的薄体ESD保护:从静态到瞬态行为
作者:
Solaro Yohann
;
Fonteneau Pascal
;
Legrand Charles-Alexandre
;
Marin-Cudraz David
;
Passieux Jeremy
;
Guyader Pascal
;
Clement Laurent-Renaud
;
Fenouillet-Beranger Claire
;
Ferrari Philippe
;
Cristoloveanu Sorin
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Random access memory;
Silicon compounds;
Solids;
12.
Effect of process technology variation on ESD clamp parameters
机译:
工艺技术变化对ESD钳位参数的影响
作者:
Tazzoli Augusto
;
Vashchenko Vladislav
;
Shibkov Andrei
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Anodes;
Clamps;
Reliability;
13.
Optimizing investment in ESD control
机译:
优化ESD控制的投资
作者:
Smallwood Jeremy
;
Tamminen Pasi
;
Viheriaekoski Toni
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Investment;
Materials;
Packaging;
Personnel;
Standards;
Training;
14.
Industry contribution award
机译:
行业贡献奖
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
15.
Rail clamp with dynamic time constant adjustment
机译:
带有动态时间常数调节的导轨夹
作者:
Venkatasubramanian Ramachandran
;
Ozev Sule
;
Oertle Kent
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Clamps;
Electrostatic discharges;
Logic gates;
Mirrors;
Rails;
Resistors;
Transistors;
16.
Overcoming multi finger turn-on in HV DIACs using local poly-ballasting
机译:
使用局部多镇流技术克服HV DIAC中的多指导通
作者:
Aliaj B.
;
Vashchenko V.A.
;
Liou J.J.
;
Mitchell T.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electronic ballasts;
Electrostatic discharges;
Fingers;
Hidden Markov models;
IEC;
Resistors;
Thyristors;
17.
Anti-series GGNMOS ESD clamp for space application IC's
机译:
适用于航天应用IC的反系列GGNMOS ESD钳位
作者:
Linten Dimitri
;
Vassilev Vesselin
;
Thijs Steven
;
Hellings G.
;
Griffoni A.
;
Meneghesso Gaudenzio
;
Wouters Jan
;
Thys Geert
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Anodes;
Clamps;
Degradation;
Electrostatic discharges;
Logic gates;
Radiation effects;
Stress;
18.
Improving microcontroller (MCU) immunity performance to system-level ESD/EFT testing through PCB system co-design methodology
机译:
通过PCB系统协同设计方法提高微控制器(MCU)对系统级ESD / EFT测试的抗干扰性能
作者:
Murugan Rajen
;
Jie Chen
;
Minhong Mi
;
Basile Bart
;
Jae Park
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Couplings;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
IEC;
Impedance;
Transient analysis;
19.
Do devices on PCBs really see a higher CDM-like ESD risk?
机译:
PCB上的设备是否真的像CDM一样具有更高的ESD风险?
作者:
Gartner Reinhold
;
Stadler Wolfgang
;
Niemesheim Josef
;
Hilbricht Oliver
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Baseband;
Capacitance;
Current measurement;
Discharges (electric);
Integrated circuits;
Probes;
Voltage measurement;
20.
Automated latchup analysis
机译:
自动化闩锁分析
作者:
Vashchenko V.A.
;
Shibkov A.A.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
CMOS process;
Integrated circuit modeling;
Layout;
Power supplies;
Semiconductor device modeling;
Thyristors;
Voltage control;
21.
Outstanding contributions award
机译:
杰出贡献奖
作者:
Miller James W.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
22.
Workshop and panel discussions
机译:
研讨会和小组讨论
作者:
Junjun Li
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Conferences;
Jamming;
Organizations;
23.
Analysis of ESD-robustness of Multi Layer Ceramic Capacitors in system applications
机译:
系统应用中多层陶瓷电容器的ESD鲁棒性分析
作者:
Scheier Stanislav
;
Frei Stephan
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Approximation methods;
Electrical resistance measurement;
Frequency conversion;
Insulation;
Lead;
Materials;
Resistance;
24.
Thin copper metal interconnections thermomigration analysis in ESD regime
机译:
ESD条件下的薄铜金属互连热迁移分析
作者:
Di Biccari Leonardo
;
Cerati Lorenzo
;
Pozzobon Fiorella
;
Zullino Lucia
;
Morin Sonia
;
Pizzo Giansalvo
;
Boroni Andrea
;
Andreini Antonio
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Copper;
Degradation;
Electrostatic discharges;
Failure analysis;
Stress;
Strips;
25.
2013 friendship award in recognition of RCJ 2012 best paper award/Japan
机译:
荣获RCJ颁发的2013年友谊奖2012年最佳论文奖/日本
作者:
Nakaie Toshiyuki
;
Matsui Jun
;
Miyamoto Yoshiaki
;
Kuriyama Toshihide
;
Maeda Hiroshi
;
Takatsuji Wataru
;
Ueno Yoshifumi
;
Itoh Takaki
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
26.
Table of contents
机译:
目录
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Carbon;
27.
2014 exhibitors list
机译:
2014参展商名单
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Earth Observing System;
Graphics;
28.
Field collapse event ESD test method
机译:
场崩溃事件ESD测试方法
作者:
Tamminen Pasi
;
Viheriakoski Toni
;
Reinvuo Tuomas
;
Sydanheimo Lauri
;
Ukkonen Leena
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitance;
Current measurement;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Fault diagnosis;
Integrated circuit modeling;
Wires;
29.
2012 best paper award
机译:
2012年度最佳论文奖
作者:
Li Hong
;
Liu Wei
;
Banerjee Kaustav
;
Russ Christian C.
;
Johnsson David
;
Gossner Harald
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
30.
Electrical Overstress robustness and test method for ICs
机译:
IC的电气过应力稳定性和测试方法
作者:
Kamdem Alain
;
Martin Patrick
;
Lefebvre Jean-Luc
;
Berthet Fanny
;
Domenges Bernadette
;
Guillot Pierre
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Degradation;
Earth Observing System;
Electrostatic discharges;
Failure analysis;
Integrated circuits;
Robustness;
Stress;
31.
Modeling of the test-fixture / Horizontal Coupling Plane interaction in system-level ESD test setups
机译:
系统级ESD测试装置中测试夹具/水平耦合平面相互作用的建模
作者:
Tazzoli Augusto
;
Malobabic Slavica
;
Vashchenko Vladislav
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitance;
Clamps;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Impedance;
Integrated circuit modeling;
Voltage measurement;
32.
Theory of active clamp response to power-on ESD and implications for power supply integrity
机译:
有源钳位对上电ESD的响应理论及其对电源完整性的影响
作者:
Mertens Robert
;
Thomson Nicholas
;
Xiu Yang
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit stability;
Clamps;
Electrostatic discharges;
Inverters;
Rails;
Stability analysis;
Trigger circuits;
33.
Novel 3D back-to-back diodes ESD protection
机译:
新型3D背对背二极管ESD保护
作者:
Courivaud B.
;
Nolhier N.
;
Ferru G.
;
Bafleur M.
;
Caignet F.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Anodes;
Cathodes;
Electrostatic discharges;
Optimization;
Robustness;
Stress;
34.
Characterization methods to replicate EOS fails
机译:
复制EOS的表征方法失败
作者:
Smedes T.
;
Christoforou Y.
;
Zhao S.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Earth Observing System;
Electrostatic discharges;
Pulse measurements;
RNA;
Stress;
Stress measurement;
Voltage measurement;
35.
Biographies
机译:
传记
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Biographies;
Electrostatic discharges;
Hardware;
Integrated circuit modeling;
36.
FET protection of GMR and TMR sensors
机译:
GMR和TMR传感器的FET保护
作者:
Iben Icko Eric Timothy
;
Loiseau Alain
;
Gebreselasie Ephrem
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Field effect transistors;
Magnetic sensors;
Resistance;
Schottky diodes;
Tunneling magnetoresistance;
37.
Over-voltage protection strategies for LED based light source systems and other applications
机译:
基于LED的光源系统和其他应用的过压保护策略
作者:
Balevsky Alexandar
;
Vassilev Vesselin
;
Ivanova Krassimira
;
Krumov Alexandar
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Clamps;
Light emitting diodes;
Lightning;
Stress;
Surge protection;
Surges;
Switches;
38.
Identification of two-probe TLP contact resistance issues and proposed solutions
机译:
识别两探针TLP接触电阻问题和建议的解决方案
作者:
Liang Wang
;
Rajagopal Krishna
;
Kunz Hans
;
Concannon Ann
;
Brodsky Jonathan
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Calibration;
Contact resistance;
Electrical resistance measurement;
Electrostatic discharges;
Probes;
Resistance;
Stress;
39.
An effective ESD program management based on S20.20 plus ESD capability/risk analysis
机译:
基于S20.20以及ESD能力/风险分析的有效ESD程序管理
作者:
Yan KP
;
Gaertner Reinhold
;
Wong CY
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Footwear;
Materials;
Process control;
Sawing;
Wires;
40.
Advanced Wunsch-Bell based application for automotive pulse robustness sizing
机译:
基于高级Wunsch-Bell的应用,用于汽车脉冲鲁棒性测量
作者:
Magrini Filippo
;
Mayerhofer Michael
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Clamps;
Current density;
Density measurement;
Electrostatic discharges;
Logic gates;
Semiconductor optical amplifiers;
Transistors;
41.
ESD characterization of Germanium diodes
机译:
锗二极管的ESD表征
作者:
Boschke Roman
;
Linten Dimitri
;
Hellings Geert
;
Shih-Hung Chen
;
Scholz Mirko
;
Mitard Jerome
;
Mertens Hans
;
Witters Liesbeth
;
Van Campenhout Joris
;
Verheyen Peter
;
Pogany Dionyz
;
Groeseneken Guido
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Current measurement;
Electrostatic discharges;
Junctions;
Resistance;
Silicon;
Voltage measurement;
42.
A mechanism for logic upset induced by power-on ESD
机译:
上电ESD引起的逻辑混乱机制
作者:
Yang Xiu
;
Thomson Nicholas
;
Mertens Robert
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Inverters;
Latches;
Logic circuits;
Logic gates;
Substrates;
Transistors;
43.
Dynamic aspects to current spreading in GGNmosts
机译:
当前GGNmosts中传播的动态方面
作者:
de Raad Gijs
;
Quax Guido
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Ions;
Logic gates;
44.
Back cover
机译:
封底
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Calendars;
Tutorials;
45.
History
机译:
历史
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Pipelines;
46.
Ed Weggeland Memorial Recognition Award
机译:
埃德·韦格兰纪念奖
作者:
Hansel Ginger
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
47.
ESD troubleshooting using multi-level TLP
机译:
使用多级TLP进行ESD故障排除
作者:
Cao Yiqun
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
IEC;
IEC standards;
Pins;
Resistors;
Robustness;
Stress;
48.
Practical transient system-level ESD modeling - Environment contribution
机译:
实用的瞬态系统级ESD建模-环境贡献
作者:
Beges Remi
;
Caignet Fabrice
;
Durier Andre
;
Marot Christian
;
Bafleur Marise
;
Nolhier Nicolas
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitors;
Electrostatic discharges;
Integrated circuit modeling;
Numerical models;
Stress;
Voltage control;
49.
ESD device performance analysis in a 14nm FinFET SOI CMOS technology: Fin-based versus planar-based
机译:
14nm FinFET SOI CMOS技术中的ESD器件性能分析:基于鳍片的与基于平面片的
作者:
Li Junjun
;
Gauthier Robert
;
Li You
;
Mishra Rahul
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
FinFETs;
Logic gates;
Performance evaluation;
Semiconductor diodes;
Silicon;
Substrates;
50.
Device interactions between ESD diodes and NMOS clamps in CMOS processes
机译:
CMOS工艺中ESD二极管和NMOS钳位之间的器件相互作用
作者:
Stockinger Michael
;
Secareanu Radu
;
Hartin Olin
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Clamps;
Computer architecture;
Electrostatic discharges;
MOS devices;
Rails;
Semiconductor diodes;
Thyristors;
51.
Analysis of current sharing in large and small-signal IC pin models
机译:
大信号和小信号IC引脚模型中的均流分析
作者:
Orr Benjamin
;
Maheshwari Pratik
;
Pommerenke David
;
Gossner Harald
;
Stadler Wolfgang
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Cameras;
Current measurement;
Electrostatic discharges;
Integrated circuit modeling;
Receivers;
Transmission line measurements;
Voltage measurement;
52.
A non-typical latch-up event on HV ESD protection
机译:
HV ESD保护的非典型闩锁事件
作者:
Wang Shih-Yu
;
Hao-Chan Huang
;
Chieh-Wei He
;
Yao-Wen Chang
;
Tao-Cheng Lu
;
Kuang-Chao Chen
;
Chih-Yuan Lu
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitors;
Cathodes;
Electrostatic discharges;
Integrated circuits;
Lead;
MOS devices;
Thyristors;
53.
The joel weidendorf memorial standards award
机译:
魏登道夫纪念标准奖
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Awards activities;
Standards;
54.
2012 best student paper award
机译:
2012最佳学生论文奖
作者:
Li Hong
;
Liu Wei
;
Banerjee Kaustav
;
Russ Christian C.
;
Johnsson David
;
Gossner Harald
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Awards activities;
55.
ISBN
机译:
书号
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Earth Observing System;
56.
Inside cover
机译:
内盖
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
57.
Electrostatic threats in hospital environment
机译:
医院环境中的静电威胁
作者:
Viheriakoski Toni
;
Kokkonen Mika
;
Tamminen Pasi
;
Karja Eira
;
Hillberg Jukka
;
Smallwood Jeremy
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Discharges (electric);
Electric potential;
Electrostatic discharges;
Electrostatics;
Hospitals;
Materials;
Metals;
58.
ESD behavior of metallic carbon nanotubes
机译:
金属碳纳米管的ESD行为
作者:
Shrivastava Mayank
;
Gossner Harald
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Carbon;
Electric fields;
Electrostatic discharges;
Gold;
Photonic band gap;
Rail to rail outputs;
Resistance;
59.
Measuring handler CDM stress provides guidance for factory static controls
机译:
测量处理机CDM应力为工厂静态控制提供指导
作者:
Steinman Arnold
;
Maloney Timothy J.
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Current measurement;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Mathematical model;
Resistance;
Sparks;
Voltage measurement;
60.
System-level ESD failure diagnosis with chip-package-system dynamic ESD simulation
机译:
利用芯片封装系统动态ESD仿真进行系统级ESD故障诊断
作者:
Myoung Robert
;
Seol Byong-su
;
Chang Norman
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Abstracts;
Electrostatic discharges;
Integrated circuit modeling;
Power measurement;
Semiconductor device measurement;
Time measurement;
61.
Reflection control in VF-TLP systems
机译:
VF-TLP系统中的反射控制
作者:
Grund Evan
;
Chang Thomas
;
Gauthier Robert
;
Grund Kyle
;
Hernandez Jorge
;
Katz Justin
;
Poro Richard
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Attenuators;
Reflection;
62.
Visualization technology to capture an ESD event
机译:
可视化技术可捕获ESD事件
作者:
Onomae Hiroshi
;
Kawabe Kenichi
;
Yamaguchi Shinichi
;
Takahashi Tadashi
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Antenna measurements;
Cameras;
Electrostatic discharges;
Metals;
Receiving antennas;
Visualization;
63.
Junction engineering for SOI SCR triggering and performance improvement
机译:
SOI SCR触发和性能改善的结工程
作者:
Li You
;
Li Junjun
;
Gauthier Robert
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Cathodes;
Electrostatic discharges;
Immune system;
Implants;
Junctions;
Performance evaluation;
Thyristors;
64.
Threshold voltage shift due to incidental pulse on non-stressed pins during HBM testing
机译:
在HBM测试期间,由于非应力引脚上的偶然脉冲而导致的阈值电压偏移
作者:
Zu Yue
;
Wang Liang
;
Sankaralingam Rajkumar
;
Ward Scott
;
Schichl Joe
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Logic gates;
Pins;
Relays;
Resistance;
Stress;
Voltage measurement;
65.
High flexibility SCR clamp for ESD protection in BCD power technology
机译:
高柔韧性SCR钳位,用于BCD电源技术中的ESD保护
作者:
Chang Yi-Feng
;
Tsai Tsung-Che
;
Lin Wan-Yen
;
Hsu Chia-Wei
;
Lee Jam-Wem
;
Cheng Shui-Ming
;
Song Ming-Hsiang
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Breakdown voltage;
Electric breakdown;
MOSFET;
Resistance;
Thyristors;
Tunneling;
66.
HBM failure diagnosis on a high-frequency analog design with full-chip dynamic ESD simulation
机译:
具有全芯片动态ESD仿真的高频模拟设计上的HBM故障诊断
作者:
Tong Paul
;
Tam Anna
;
Xu Ping Ping
;
Lin KS
;
Hui John
;
Chang Norman
;
Hu Bo
;
Srinivasan Karthik
;
Schmitt Margaret
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Clamps;
Discharges (electric);
Electrostatic discharges;
Hidden Markov models;
Junctions;
Power system dynamics;
Transistors;
67.
Custom test chip for system-level ESD investigations
机译:
定制测试芯片,用于系统级ESD调查
作者:
Thomson Nicholas
;
Xiu Yang
;
Mertens Robert
;
Keel Min-Sun
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Detectors;
Electrostatic discharges;
Integrated circuits;
Latches;
Logic gates;
Monitoring;
Pins;
68.
Non-EOS root causes of EOS-like damage
机译:
非EOS类似EOS损坏的根本原因
作者:
Righter Alan
;
Wolfe Ed
;
Hajjar Jean-Jacques
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitors;
Delamination;
Earth Observing System;
Integrated circuits;
Materials;
Microassembly;
Pins;
69.
TLP failure level extraction despite reflected waves
机译:
尽管有反射波,也可以提取TLP故障级别
作者:
Glaser Ulrich
;
Lebon Julien
;
Cao Yiqun
;
Willemen Joost
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Attenuators;
Current measurement;
Impedance;
Power transmission lines;
Robustness;
Stress;
Transmission line measurements;
70.
Metal routing induced burn out in GGNMOS ESD protection for low-power DRAM application
机译:
金属布线引起的GGNMOS ESD保护中的烧毁,适用于低功耗DRAM应用
作者:
Minchen Chang
;
Tseng-Fu Lu
;
Wei-Chih Wang
;
Fan-Wen Liu
;
Jao-Hsiu Rao
;
Wei-Ming Liao
;
Chia-Ming Yang
;
Jeng-Ping Lin
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Junctions;
Metals;
Routing;
Surge protection;
Surges;
Transistors;
71.
General chairman's welcome
机译:
董事长致辞
作者:
Gossner Harald
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Earth Observing System;
Electrostatic discharges;
NASA;
72.
President's award
机译:
总统奖
作者:
Farris Marti
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Awards activities;
73.
Founder's award
机译:
创始人奖
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Awards activities;
74.
Technical program committee 2014
机译:
技术计划委员会2014
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Numerical models;
75.
A co-optimization methodology on ESD robustness and functionality for pad-ring circuitry
机译:
关于焊盘环电路的ESD鲁棒性和功能性的共同优化方法
作者:
Meng Kuo-Hsuan
;
Gerdemann Alex
;
Miller James W.
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium》
|
2014年
关键词:
Electrostatic discharges;
Integrated circuit modeling;
Layout;
Manganese;
Resistors;
Robustness;
Stress;
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