栅极
栅极的相关文献在1986年到2023年内共计11048篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、电工技术、自动化技术、计算机技术
等领域,其中期刊论文185篇、会议论文3篇、专利文献10860篇;相关期刊109种,包括家电维修、电子产品世界、电子设计工程等;
相关会议3种,包括TFC'2005全国薄膜技术学术研讨会、2007年传热传质学学术会议、2016中国平板显示学术会议 等;栅极的相关文献由11509位作者贡献,包括李永谦、冯雪欢、张海洋等。
栅极—发文量
专利文献>
论文:10860篇
占比:98.30%
总计:11048篇
栅极
-研究学者
- 李永谦
- 冯雪欢
- 张海洋
- 李红敏
- 韩承佑
- 商广良
- 邵贤杰
- 袁粲
- 祁小敬
- 袁志东
- 廖聪维
- 姚星
- 张盛东
- 戴超
- 郑皓亮
- 王志冲
- 韩明夫
- 庄学理
- 鲍宇
- 冯思林
- 马占洁
- 王慧
- 张元波
- 王迎
- 李蒙
- 袁丽君
- 赵剑
- 郑灿
- 谢瑞龙
- 古宏刚
- 谢勇贤
- 韩秋华
- 马睿
- 黄飞
- 李亚锋
- 胡明
- 毛智彪
- 马擎天
- 薛伟
- 王新鹏
- 刘金良
- 李小和
- 陈帅
- 陈海华
- 黄怡
- 吴博
- 杨通
- 洪中山
- 曹兆铿
- 朱鸣
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摘要:
近日,清华大学集成电路学院任天令教授团队在小尺寸晶体管研究方面取得重大突破,首次实现了具有亚1纳米栅极长度的晶体管,并具有良好的电学性能。。这一成果3月10日以“具有亚1纳米栅极长度的垂直硫化钼晶体管”为题,在线发表在国际顶级学术期刊《自然》上。
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摘要:
国内新闻清华大学集成电路学院团队首次实现亚1nm栅极长度晶体管近日,清华大学集成电路学院任天令教授团队在小尺寸晶体管研究方面取得重大突破,首次实现了具有亚1nm栅极长度的晶体管,并具有良好的电学性能。据悉,为进一步突破1nm以下栅长晶体管的瓶颈,该研究团队巧妙利用石墨烯薄膜超薄的单原子层厚度和优异的导电性能作为栅极.
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摘要:
2022年3月15日,记者从清华大学获悉,该校集成电路学院教授任天令团队在小尺寸晶体管研究方面取得重要进展。首次实现了具有亚1 nm栅极长度的晶体管,并具有良好的电学性能。2022年3月10日,相关成果以“具有亚1 nm栅极长度的垂直硫化钼晶体管”为题在线发表在国际学术期刊《自然》上。
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冯奇艳
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摘要:
阐述集成电路锗硅工艺中栅极顶部边缘锗硅冗余生长缺陷的产生机理,工艺流程改进,控制栅极氮化硅掩模层的残留量来解决该缺陷,探讨锗硅沟槽刻蚀的调整和调整栅极氮化硅掩模层厚度来增加栅极氮化硅掩模层的残留量,使栅极顶部边缘得以充分保护,在锗硅外延工艺中不产生冗余生长物。
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摘要:
一、Intel5nm工艺转向GAA环绕栅极晶体管Intel之前已经宣布在2021年推出7nm工艺,首发产品是数据中心使用的PonteVecchio加速卡。7nm之后的5nm工艺更加重要了,因为Intel在这个节点会放弃FinFET晶体管转向GAA晶体管。随着制程工艺的升级,晶体管的制作也面临着困难,Intel最早在22nm节点上首发了FinFET工艺,当时叫做3D晶体管,就是将原本平面的晶体管变成立体的FinFET晶体管,提高了性能,降低了功耗。
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李旭芳
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摘要:
大功率电子管应用在广播、工业、科学实验、军用通讯等领域,由于其生产制造工艺复杂导致生产检验设备昂贵利用率低运输贮存困难,不同领域不同频段不同功率等级应用导致产品品种多产量低因此无论进口还是国产此类电子管价格都很贵,价格要几万到上百万人民币/只.所以无论从保证电子管正常工作延长使用寿命降低设备的运行成本,都必须在电子管出厂到使用寿命终结整个周期内把它维护好.
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沈建成;
程仲文;
胡彦军
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摘要:
根据航天工业需要,设计了国内首台栅极液压成型专用设备.该设备的液压系统由合模液压系统与成型油压系统组成.合模液压系统在1.0 ~16.0 MPa范围内控制精度为±0.1 MPa,且连续可调;成型油压系统工作区油温在80~88°C,在0.3~5.0 MPa范围内控制精度为±0.1 MPa,且连续可调.经实验验证,该液压系统工作可靠,满足生产要求.
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沈建成;
程仲文;
赵又新;
胡彦军;
李宝栋
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摘要:
根据航天工业需要,设计了国内首台栅极液压成型专用设备.该设备由机械系统、液压系统和控制系统组成.该设备的成功研制,满足了航天使用栅极成型的工艺要求,实现了栅极成型的自动化生产,为栅极成型工艺提供更加直观的数据,为工艺的进一步优化提供设备保障.经实验验证,该设备工作可靠,满足生产要求.%According to the needs of the aerospace industry,the first grid hydraulic molding equipment was designed.The equipment is composed of mechanical system,hydraulic system and control system.The successful development of the equipment meets the requirements of the grid forming technology,realize the automatic production of grid forming,providing more intuitive data for grid forming process.It provides equipment support for further optimization of the process.Experimental results show that the equipment works reliably and meets the production requirements.
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DU Yonggang;
杜永刚;
秦卫;
QIN Wei;
NIU Manping;
钮曼萍;
TONG Ran;
童冉;
WU Bin;
吴斌;
ZENG Peng;
曾鹏;
徐锋刚;
XU Fenggang;
WANG Xiangzhen;
王祥臻
- 《2016中国平板显示学术会议》
| 2016年
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摘要:
Bright Pixel(亮点)是TFT-LCD制造过程中的最常见的多发不良,传统维修方法对常白模式TFT-LCD面板,采用激光焊接栅极和漏极的方法维修.但随着人们对显示品质的要求提高,特别是ADS常黑模式TFT-LCD面板的迅速发展,传统的维修方法已经不再适用.本文结合生产情况对新型的BM(Black Matrix)Repair维修方法进行研究,主要对生产中最重要的2个指标:维修成功率的提升和Tact Time(节拍时间)的降低进行优化,根据实验表明:对不同颜色Pixel维修时,划定不同的最优激光能量范围,可以提高维修成功率;对不同要求规格的产品,通过对维修面积的定制化调整,可以达到降低Tact Time的目的,通过这两方面的改善,提高了生产中的维修效率和产品品质.
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马春雨;
李智;
陈充林;
张庆瑜
- 《TFC'2005全国薄膜技术学术研讨会》
| 2005年
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摘要:
金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET),要求其器件特征尺寸越来越小,当光刻线宽小于100nm尺度范围后,栅介质氧化物层厚度开始逐渐接近(1~1.5)nm,这时电子的直接隧穿而导致栅极漏电流随栅氧化层厚度的下降而指数上升,此外,当栅氧化层薄到一定程度后,其可靠性问题,尤其是与时间相关的击穿及栅电极中的杂质向衬底的扩散等问题,将严重影响器件的稳定性和可靠性.因此需要寻找一种具有高介电常数的新型栅介质材料来替代SiO2,在对沟道具有相同控制能力的条件下(栅极电容相等),利用具有高介电常数的介质材料(一般称为高k材料)作为栅介质层可以增加介质层的物理厚度,这将有效减少穿过栅介质层的直接隧穿电流,并提高栅介质的可靠性.本文介绍了高k栅介质薄膜材料的制备方法,综述了高k栅介质薄膜材料研究的应用要求及其研究发展动态.