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European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
召开年:
2017
召开地:
Geneva(CH)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
CELESTA Demonstrator Radiation Characterization in a LEO Representative Environment at CHARM.
机译:
CHARM的LEO代表环境中的CELESTA演示器辐射表征。
作者:
A.S. Merlenghi
;
M. Brugger
;
E. Chesta
;
S. Danzeca
;
R. Garcia Alia
;
A. Masi
;
P. Peronnard
;
R. Secondo
;
M. Bernard
;
L. Dusseau
;
X. Laurand
;
J.R. Vaillé
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Orbits;
Protons;
CubeSat;
Low earth orbit satellites;
Payloads;
Neutrons;
Monitoring;
2.
Low Level Radiation and Fault Protection Techniques Suitable for Nanosatellite Missions
机译:
适用于纳米卫星任务的低水平辐射和故障保护技术
作者:
David Selčan
;
Gregor Kirbiš
;
Iztok Kramberger
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Error correction codes;
Satellites;
Radiation protection;
Current limiters;
Radiation effects;
Data handling;
3.
Single Event Effect Analysis for Command and Data Handling Electronics of a Millimeter-Wave Radiometer 6U-Class Satellite Instrument
机译:
毫米波辐射计6U级卫星仪器的命令和数据处理电子设备的单事件效果分析
作者:
Mehmet Ogut
;
Yuriy Goncharenko
;
Steven C. Reising
;
Braxton Kilmer
;
Xavier Bosch-Lluis
;
Pekka Kangaslahti
;
Erich Schlecht
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Testing;
Ions;
Integrated circuits;
CubeSat;
Satellite broadcasting;
Regulators;
4.
RadFxSat: A Flight Campaign for Recording Single-Event Effects in Commercial Off-the-Shelf Microelectronics
机译:
RadFxSat:记录商业现货微电子中单事件效果的飞行运动
作者:
Rebekah A. Austin
;
Brian D. Sierawski
;
James M. Trippe
;
Andrew L. Sternberg
;
Kevin M. Warren
;
Robert A. Reed
;
Robert A. Weller
;
Ronald D. Schrimpf
;
Michael L. Alles
;
Lloyd W. Massengill
;
Daniel M. Fleetwood
;
Gerald W. Buxton
;
Jonathan C. Brandenburg
;
W. Burns Fisher
;
R
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
CubeSat;
Protons;
Random access memory;
Testing;
Microcontrollers;
Reliability;
Single event upsets;
5.
Impact of the Electric Field in the Modelling of the Dark Current Non Uniformity in Pixel Arrays
机译:
电场对像素阵列中暗电流非均匀性建模的影响
作者:
M. C. Ursule
;
T. Nuns
;
C. Inguimbert
;
H. Bugnet
;
F. Mayer
;
J. Pratlong
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Electron traps;
Electric fields;
Electric potential;
Dark current;
Degradation;
Tunneling;
6.
Radiation Hardness Studies on a Novel CMOS Process for Depleted Monolithic Active Pixel Sensors
机译:
用于耗尽型单片有源像素传感器的新型CMOS工艺的辐射硬度研究
作者:
Enrico Junior Schioppa
;
Richard Bates
;
Craig Buttar
;
Marco Dalla
;
Jacobus Willem Van Hoorne
;
Thanushan Kugathasan
;
Dzmitry Maneuski
;
Cesar Augusto Marin Tobon
;
Luciano Musa
;
Heinz Pernegger
;
Petra Riedler
;
Christian Riegel
;
Carla Sbarra
;
Douglas Michael Schaefer
;
Abhis
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Electrodes;
Radiation effects;
Detectors;
Semiconductor device measurement;
Standards;
Charge measurement;
Substrates;
7.
Multi-MGy Total Ionizing Dose Induced MOSFET Variability Effects on Radiation Hardened CMOS Image Sensor Performances
机译:
Multi-MGy总电离剂量诱导的MOSFET可变性对辐射硬化CMOS图像传感器性能的影响
作者:
Serena Rizzolo
;
Vincent Goiffon
;
Marius Sergent
;
Franck Corbière
;
Sébastien Rolando
;
Aziouz Chabane
;
Philippe Paillet
;
Claude Marcandella
;
Sylvain Girard
;
Pierre Magnan
;
Marco Van Uffelen
;
Laura Mont Casellas
;
Robin Scott
;
Wouter De Cock
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
MOSFET;
Degradation;
Voltage measurement;
Total ionizing dose;
Radiation hardening (electronics);
8.
Photobleaching effects in multi-mode radiation resistant optical fibers
机译:
多模抗辐射光纤中的光漂白效应
作者:
Adrien Billat
;
Jeremy Blanc
;
Jochen Kuhnhenn
;
Daniel Ricci
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Optical fibers;
Photobleaching;
Radiation effects;
Optical fiber testing;
Optical fiber cables;
Resistance;
9.
Extrapolated degradation of optical systems at MGy levels due to radiation-induced refractive index change
机译:
由于辐射引起的折射率变化,MGy级光学系统的外推退化
作者:
Cyprien Muller
;
Thierry Lépine
;
Timothé Allanche
;
Philippe Paillet
;
Vincent Goiffon
;
Youcef Ouerdane
;
Aziz Boukenter
;
Sylvain Girard
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Lenses;
Glass;
Optical imaging;
Wavelength measurement;
Optical refraction;
Optical variables control;
Refractive index;
10.
Irradiation Facilities at CERN
机译:
欧洲核子研究组织的辐照设施
作者:
B. Gkotse
;
M. Brugger
;
P. Carbonez
;
S. Danzeca
;
A. Fabich
;
R. Garcia Alia
;
M. Glaser
;
G. Gorine
;
M. R. Jaekel
;
I. Mateu Suau
;
G. Pezzullo
;
F. Pozzi
;
F. Ravotti
;
M. Silari
;
M. Tali
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Particle beams;
Detectors;
Protons;
Monitoring;
Proton accelerators;
Databases;
11.
Towards a Unified Environmental Monitoring, Control and Data Management System for Irradiation Facilities: the CERN IRRAD Use Case
机译:
建立辐射设施的统一环境监测,控制和数据管理系统:CERN IRRAD用例
作者:
B. Gkotse
;
M. Glaser
;
P. Jouvelot
;
E. Matli
;
G. Pezzullo
;
F. Ravotti
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Monitoring;
Temperature sensors;
Control systems;
Detectors;
Temperature measurement;
Protons;
12.
Analysis of X-Ray Photo-Charge Induced Speckles in a Radiation Hardened CMOS Image Sensor
机译:
辐射硬化的CMOS图像传感器中X射线光电荷引起的斑点分析
作者:
T. Allanche
;
V. Goiffon
;
S. Rizzolo
;
P. Paillet
;
O. Duhamel
;
A. Chabane
;
C. Muller
;
P. Magnan
;
F. Corbière
;
S. Rolando
;
R. Clerc
;
E. Marin
;
A. Boukenter
;
Y. Ouerdane
;
S. Girard
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Hafnium;
Indexes;
13.
Modelling voltage dependence of photocurrent in proton irradiated GaAs cells
机译:
模拟质子辐照GaAs电池中光电流的电压依赖性
作者:
Manuel Salzberger
;
Martin Rutzinger
;
Christel Nömayr
;
Paolo Lugli
;
Claus G. Zimmermann
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Photoconductivity;
Temperature measurement;
Gallium arsenide;
Current measurement;
Voltage measurement;
Mathematical model;
Protons;
14.
Effects of SiH Groups on ELDRS Quantified by XPS with Combined Use of Gamma-ray and Electron-beam Irradiation
机译:
SiH基团对结合使用伽马射线和电子束辐照的XPS定量ELDRS的影响
作者:
Shintaro Toguchi
;
Daisuke Kobayashi
;
Takahiro Makino
;
Takeshi Ohshima
;
Kazuyuki Hirose
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Protons;
Silicon;
Gamma-rays;
Electron traps;
Space charge;
Atmosphere;
15.
Investigation on the Sensitivity Degradation of Dosimeters based on Floating Gate Structure
机译:
基于浮栅结构的剂量计灵敏度下降研究
作者:
M. Brucoli
;
S. Danzeca
;
J. Cesari
;
M. Brugger
;
A. Masi
;
S. Gilardoni
;
A. Pineda
;
L. Dusseau
;
F. Wrobel
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Sensitivity;
Radiation effects;
Degradation;
Capacitors;
Nonvolatile memory;
MOSFET;
16.
Study of Floating Gate MOS Structures to improve the noise and sensitivity as Radiation Dosimeter
机译:
研究浮栅MOS结构以提高辐射剂量计的噪声和灵敏度
作者:
J. Cesari
;
M. Brucoli
;
S. Danzeca
;
A. Pineda
;
A. Masi
;
M. Brugger
;
S. Gilardoni
;
E. Isern
;
M. Roca
;
E. Garcia-Moreno
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Sensitivity;
Capacitance;
Mathematical model;
MOSFET;
Current measurement;
Capacitors;
Noise measurement;
17.
Mechanism Behind Long Line-Type MCUs in Thin-BOX SOI SRAMs: Resistance-Based Modeling and Countermeasure
机译:
Thin-BOX SOI SRAM中长线型MCU背后的机制:基于电阻的建模和对策
作者:
Chin-Han Chung
;
Daisuke Kobayashi
;
Kazuyuki Hirose
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ions;
Substrates;
Resistance;
Random access memory;
Mathematical model;
Analytical models;
Numerical models;
18.
Temperature dependence of the radiation degradation at high total dose levels
机译:
总剂量高时辐射降解的温度依赖性
作者:
Viacheslav S. Pershenkov
;
Alexander S. Bakerenkov
;
Vitaly A. Telets
;
Vladimir V. Belyakov
;
Vladimir V. Shurenkov
;
Vladislav A. Felitsyn
;
Alexander S. Rodin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Degradation;
Temperature dependence;
Transistors;
Fitting;
Electron traps;
Junctions;
19.
New Setup for SEE Measurements in South America
机译:
南美SEE测量的新设置
作者:
Y. A. P Aguiar
;
N. H. Medina
;
N. Added
;
E. L. A. Macchione
;
S. G. Nascimento
;
A. R. Leite
;
M. A. G. Silveira
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Structural beams;
Radiation effects;
Ions;
Scattering;
Ion accelerators;
Ion beams;
20.
Farmer chamber response to different filter box and surrounding configurations
机译:
农舍对不同滤箱和周围配置的响应
作者:
Pedro Martín-Holgado
;
Y. Morilla
;
M. Domínguez
;
G. Fernández
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Lead;
Aluminum;
Dosimetry;
Photonics;
Boundary conditions;
Visualization;
Total ionizing dose;
21.
Design of an In-Air Heavy Ion Irradiation Facility at KVI-CART
机译:
KVI-CART的空中重离子辐照设施设计
作者:
Brian N. Jones
;
Marc-Jan van Goethem
;
Emiel van der Graaf
;
Sytze Brandenburg
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Ions;
Detectors;
Ion beams;
Image edge detection;
Xenon;
Cyclotrons;
22.
Complex environmental and synergetic effects on space materials: lesson learned from THERME in-flight data
机译:
对空间材料的复杂环境和协同效应:从THERME机上数据中学到的教训
作者:
E. Vanhove
;
S. Duzellier
;
D. Faye
;
S. Remaury
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Contamination;
Degradation;
Aging;
Random access memory;
Orbits;
Painting;
Data models;
23.
Evaluation of spacecraft materials behavior to JUICE environment (Synergistic effect of radiations and cryogenic temperature)
机译:
评估航天器材料对JUICE环境的行为(辐射和低温的协同效应)
作者:
Sabine Dagras
;
Julien Eck
;
Claire Tonon
;
Sophie Duzellier
;
Thierry Paulmier
;
Nicolas Sukhaseum
;
Michal Maliki
;
Christopher Semprimoschnig
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Temperature measurement;
Paints;
Degradation;
Temperature;
Jupiter;
Protons;
24.
The structural changes of surfaces of solar cell protective coatings under combined electron-proton irradiation
机译:
电子-质子联合辐照下太阳能电池保护涂层表面的结构变化
作者:
R. H. Khasanshin
;
L. S. Novikov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Glass;
Radiation effects;
Protons;
Electrostatic discharges;
Plasmas;
Metals;
Ions;
25.
Estimation of the Radiation Hardness of Bipolar Voltage Comparators in Wide Operation Temperature Range
机译:
宽工作温度范围内双极性电压比较器的辐射硬度估算
作者:
Alexander S. Bakerenkov
;
Alexander S. Rodin
;
Vladislav A. Felitsyn
;
Viacheslav S. Pershenkov
;
Valentin I. Butin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Temperature distribution;
Radiation effects;
Voltage measurement;
Temperature dependence;
Temperature sensors;
Current measurement;
26.
TID test on ITER Interlock Discharge Loop Interface Box (DLIB) system, an example of radiation test at equipment level.
机译:
在ITER互锁排放回路接口盒(DLIB)系统上进行TID测试,这是在设备级别进行辐射测试的示例。
作者:
Gonzalo Fernández
;
Javier Bárcena
;
Eugenio Muñoz
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Annealing;
Degradation;
Safety;
Electronic equipment;
Discharges (electric);
Performance evaluation;
27.
Approach to Estimation of Modern IC’s Sustainability After Series of Single Events
机译:
系列事件后评估现代集成电路的可持续性的方法
作者:
Georgii G. Davydov
;
Petr K. Skorobogatov
;
Dmitriy V. Boychenko
;
Nikolay S. Dyatlov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Integrated circuits;
Sustainable development;
MOSFET;
Estimation;
Instruments;
Electric breakdown;
Time measurement;
28.
Worst-Case Proton Contribution to the Direct Ionization SEU Rate
机译:
最坏情况下质子对直接电离SEU速率的贡献
作者:
J. Guillermin
;
N. Sukhaseum
;
P. Pourrouquet
;
N. Chatry
;
F. Bezerra
;
R. Ecoffet
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Sensitivity;
Aluminum;
SRAM cells;
Single event upsets;
29.
Hardening application programs by the operating system on COTS processors: what protection to SED can be expected and at what performance cost
机译:
通过操作系统在COTS处理器上强化应用程序:可以期望对SED进行何种保护,以及以何种性能代价
作者:
Emery K. Assogba
;
Marc Lobelle
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Operating systems;
Program processors;
Hardware;
Error analysis;
Radiation hardening (electronics);
Error correction codes;
30.
Alpha radiation testing of materials: a technique with excellent dosimetry and no radioactive contamination
机译:
材料的Alpha辐射测试:具有出色的剂量测定技术且无放射性污染的技术
作者:
Richard E. Sharp
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Alpha particles;
Radiation effects;
Powders;
Pollution measurement;
Surface treatment;
Testing;
Radioactive materials;
31.
Radiation Effects on 1 Mb HfO
2
-based Resistive Memory
机译:
辐射对基于1 Mb HfO
2 inf>的电阻记忆的影响
作者:
Jinshun Bi
;
Feng Zhang
;
Li Chen
;
Yuan Duan
;
Kai Xi
;
Bo Li
;
Ming Liu
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Computer architecture;
Hafnium compounds;
Microprocessors;
Transistors;
Lasers;
Leakage currents;
32.
Implications of Work-Function Fluctuation on Radiation Robustness of FinFET XOR Circuits
机译:
功函数波动对FinFET XOR电路的辐射鲁棒性的影响
作者:
Y. Q. Aguiar
;
F. L. Kastensmidt
;
C. Meinhardt
;
L. Artola
;
G. Hubert
;
R. Reis
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
logic circuits;
logic design;
MOSFET circuits;
radiation hardening (electronics);
work function;
33.
Bayesian Modeling of COTS Power MOSFET Ionizing Dose Impact on Circuit Response
机译:
COTS功率MOSFET电离剂量对电路响应的贝叶斯建模
作者:
A. F. Witulski
;
M. B. Smith
;
N. Mahadevan
;
A. L. Sternberg
;
C. Barnes
;
D. Sheldon
;
R. D. Schrimpf
;
G. Karsai
;
M. W. McCurdy
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Threshold voltage;
Semiconductor device modeling;
Bayes methods;
Integrated circuit modeling;
MOSFET;
Degradation;
34.
Impact of the Detector Definition on the Reverse Monte Carlo Calculation Results
机译:
探测器定义对反向蒙特卡洛计算结果的影响
作者:
Pierre Pourrouquet
;
Vincent Traisnel
;
Athina Varotsou
;
Guy Rolland
;
Robert Ecoffet
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Detectors;
Slabs;
Protons;
Silicon;
Satellites;
Biological system modeling;
Monte Carlo methods;
35.
Estimation of System Survival Reliability in a Radiation Environment Based on the Available Radiation Data at Component Level
机译:
基于组件级可用辐射数据的辐射环境中系统生存可靠性的估计
作者:
R. Ferraro
;
S. Danzeca
;
L. Dilillo
;
M. Brugger
;
A. Masi
;
S. Gilardoni
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Reliability;
Radiation effects;
Degradation;
Mathematical model;
Estimation;
Standards;
Large Hadron Collider;
36.
Effective Characterization of Radiation-induced SET on Flash-based FPGAs
机译:
基于闪存的FPGA上辐射诱导SET的有效表征
作者:
Luca Sterpone
;
Sarah Azimi
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Convergence;
Inverters;
Field programmable gate arrays;
Routing;
Delays;
Computer architecture;
37.
Move the Laser Spot, Not the DUT: Investigating the New Micro-mirror Capability and Challenges for Localizing SEE Sites on Large Modern ICs
机译:
移动激光点而不是DUT:研究新的微镜功能以及在大型现代IC上本地化SEE站点的挑战
作者:
Matthew Cannon
;
Andrés Pérez-Celis
;
Gary Swift
;
Richard Wong
;
Shi-Jie Wen
;
Michaell Wirthlin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Laser modes;
Laser theory;
Measurement by laser beam;
Field programmable gate arrays;
Micrometers;
Laser beams;
Performance evaluation;
38.
Comparison of Single Event Transients in AlGaN/GaN Schottky-Gate HEMTs Using Four Sources for Charge Injection
机译:
使用四个电荷注入源的AlGaN / GaN肖特基栅极HEMT中单事件瞬态的比较
作者:
A. Khachatrian
;
N. J-H Roche
;
S. Buchner
;
A. D. Koehler
;
T. J. Anderson
;
K. D. Hobart
;
D. McMorrow
;
S. D. LaLumondiere
;
N. P. Wells
;
M. A. Tockstein
;
E. C. Dillingham
;
J. P. Bonsall
;
P. Karuza
;
W. T. Lotshaw
;
S. C. Moss
;
D. L. Brewe
;
V. Ferlet-Cavrois
;
M. Mushitiello
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ions;
Logic gates;
Aluminum gallium nitride;
Wide band gap semiconductors;
Photonics;
X-rays;
HEMTs;
39.
SEE Test Guidelines and Characterisation of GaAs Power Devices
机译:
SEE测试指南和GaAs功率器件的特性
作者:
J. Cueto
;
J. Chuan
;
L. de Pablo
;
C. Boatella
;
R. Marec
;
J.L. Muraro
;
A. Guillope
;
A. Rousset
;
G. Vignon
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Gallium arsenide;
Ions;
Radio frequency;
MESFETs;
Radiation effects;
Testing;
Performance evaluation;
40.
Validation of flux models to characterize the radiation environment in space based on current Rosetta-data
机译:
基于当前Rosetta数据验证通量模型以表征空间中的辐射环境
作者:
Vanessa Wyrwoll
;
Sascha Lüdeke
;
Hugh Evans
;
Björn Poppe
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Detectors;
Extraterrestrial measurements;
ISO Standards;
Space vehicles;
Probes;
Ions;
Data models;
41.
Advanced In-Situ Instrumentation of RF Circuits for Mixed-Field Irradiation Testing Purpose
机译:
射频电路的高级现场仪器,用于混合场辐射测试
作者:
Steffen Mueller
;
Salvatore Danzeca
;
Rubén García Alía
;
Markus Brugger
;
Robert Weigel
;
Alexander Koelpin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Calibration;
Multiplexing;
Radio frequency;
Radiation effects;
Insertion loss;
Instruments;
Measurement uncertainty;
42.
Incidents and Accidents: The Way of the Single Event Tester
机译:
突发事件:单事件测试器的方式
作者:
Kenneth A. LaBel
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Testing;
NASA;
Protons;
Standards;
Field programmable gate arrays;
Accidents;
Ions;
43.
Architecture Choice for Radiation-Hard AlGaN/GaN HEMT Power Devices
机译:
辐射硬AlGaN / GaN HEMT功率器件的架构选择
作者:
D. Wellekens
;
S. Stoffels
;
A. Luu
;
M. Haussy
;
M. Mélotte
;
D. Agten
;
S. Decoutere
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Logic gates;
Neutrons;
HEMTs;
Xenon;
Ions;
Gallium nitride;
44.
Validation of a Geant4 full model for the MIXS instrument at BepiColombo
机译:
在BepiColombo上验证MIXS仪器的Geant4完整模型
作者:
P. Portillo-Caurcel
;
S. Ibarmia
;
M. Benito-Parejo
;
J. M. Mas-Hesse
;
A. Balado
;
A. Martindale
;
J. Pearson
;
G. Butcher
;
C. Feldman
;
E. Bunce
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Optics;
Solid modeling;
Reflection;
Telescopes;
Photonics;
45.
Impact of the Trapped Proton Anisotropy on the Ionizing Dose at Low Earth Orbits
机译:
陷阱质子各向异性对低地球轨道电离剂量的影响
作者:
Athina Varotsou
;
Pierre Pourrouquet
;
Romain Fonta
;
Daniel Boscher
;
Robert Ecoffet
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Satellites;
Orbits;
Anisotropic magnetoresistance;
Electron traps;
Electronic components;
Solid modeling;
46.
TCAD prediction of dose effects on MOSFETs with ECORCE
机译:
TCAD使用ECORCE预测MOSFET剂量效应
作者:
A. Michez
;
J. Boch
;
J. Dardié
;
F. Wrobel
;
A. D. Touboul
;
T. Maraine
;
F. Saigné
;
E. Lorfèvre
;
F. Bezerra
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Semiconductor device modeling;
Logic gates;
Predictive models;
Electron traps;
Threshold voltage;
Mathematical model;
47.
Temperature Effects on the Total Ionizing Dose Response of TaOx-based Memristive Bit Cells
机译:
温度对基于TaOx的忆阻位单元总电离剂量响应的影响
作者:
Michael L. McLain
;
J. Kyle McDonald
;
Harold P. Hjalmarson
;
Jason D. Serrano
;
Roy P. Cuoco
;
Don Hanson
;
David R. Hughart
;
Matthew J. Marinella
;
E. Fredrick Hartman
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Resistance;
Memristors;
Radiation effects;
Temperature distribution;
Stress;
Tantalum;
Laboratories;
48.
Radiation induced background characterization for a next generation of space telescope
机译:
辐射引起的下一代太空望远镜的背景表征
作者:
Luz Maria Martinez Sierra
;
Insoo Jun
;
Patrick Morrissey
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Neutrons;
Slabs;
Telescopes;
Tantalum;
Detectors;
Propulsion;
49.
Calculation Method of Maximum Radiation Conditions and Reliability using Quasi-Dynamic Radiation Belt Model
机译:
准动态辐射带模型的最大辐射工况和可靠性计算方法
作者:
H. Matsumoto
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Space radiation;
Ionizing radiation;
Solar radiation;
Orbits;
Indexes;
Data models;
Wind speed;
50.
600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encodingand auto-zeroing
机译:
600 Mrad TID对采用65nm CMOS的新一代高速率像素读出ASIC产生影响,该芯片具有低功耗,低噪声同步模拟前端,采用Fast ToT编码和自动归零功能
作者:
Ennio Monteil
;
Natale Demaria
;
Luca Pacher
;
Angelo Rivetti
;
Manuel Dionisio Da Rocha Rolo
;
Richard Wheadon
;
Andrea Paternò
;
Serena Panati
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Detectors;
Computer architecture;
Silicon;
Large Hadron Collider;
Performance evaluation;
Transistors;
51.
Internal Electrostatic Discharge Testing of a RF Cable and Connectors
机译:
射频电缆和连接器的内部静电放电测试
作者:
Wousik Kim
;
James Z. Chinn
;
Harry S. Figueroa
;
Dennis O. Thorbourn
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Connectors;
Discharges (electric);
Power cables;
Fault location;
Dielectrics;
Radio frequency;
52.
Total dose radiation hardening of MOS transistors by fluorine implantation
机译:
通过氟注入使MOS晶体管的总剂量辐射硬化
作者:
Chris Shaw
;
Kenneth Potter
;
Katrina Morgan
;
Peter Ashburn
;
Kees de Groot
;
Bill Redman-White
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
MOSFET;
Implants;
Logic gates;
Radiation effects;
Silicon;
Fluorine;
53.
Hardened By Design All-Digital Pulsed Multiplying DLL for DDR2-3 Interfaces
机译:
通过设计硬化,用于DDR2-3接口的全数字脉冲乘法DLL
作者:
Chandarasekaran Ramamurthy
;
Lawrence T. Clark
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Delays;
Delay lines;
Jitter;
Decoding;
Standards;
Radiation hardening (electronics);
54.
Total ionizing dose tests of Power Bipolar Transistors and SiC power devices for JUICE
机译:
JUICE的功率双极晶体管和SiC功率器件的总电离剂量测试
作者:
Michael Steffens
;
Stefan K. Höffgen
;
Marc Poizat
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Silicon carbide;
Bipolar transistors;
Radiation effects;
MOSFET;
Sensitivity;
Schottky diodes;
Performance evaluation;
55.
Radiation-Induced Attenuation Data of Polarization-Maintaining Fibres
机译:
保偏光纤的辐射诱导衰减数据
作者:
M. Caussanel
;
G. Beauvois
;
H. Duval
;
S. Grieu
;
G. Montay
;
O. Gilard
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Optical fibers;
Optical attenuators;
Optical switches;
Optical variables measurement;
Radiation effects;
Wavelength measurement;
56.
Single-Event Transient Analysis and Hardening in a 180 nm CMOS Embedded Low-Dropout Regulator
机译:
180 nm CMOS嵌入式低压降稳压器中的单事件瞬态分析和硬化
作者:
Liang Wang
;
Xupeng Han
;
Yuanfu Zhao
;
Qiang Bian
;
Suge Yue
;
Shijin Lu
;
Lei Shu
;
Jiaqi Liu
;
Tongde Li
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Semiconductor lasers;
Transient analysis;
Regulators;
Sensitivity;
Semiconductor device modeling;
Microelectronics;
Roads;
57.
Investigation into SEU Effects and Hardening Strategies in SRAM Based FPGA
机译:
基于SRAM的FPGA中的SEU效应和强化策略研究
作者:
Tianwen Li
;
Haigang Yang
;
He Zhao
;
Nan Wang
;
Yuanfeng Wei
;
Yiping Jia
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Computer architecture;
Radiation hardening (electronics);
Random access memory;
Single event upsets;
Microprocessors;
Error correction codes;
58.
Evaluation of an Alternative Low Cost Approach for SEE Assessment of a SoC
机译:
评估SoC的SEE评估的另一种低成本方法
作者:
F. Bezerra
;
D. Dangla
;
F. Manni
;
J. Mekki
;
D. Standarovski
;
R. G. Alia
;
M. Brugger
;
S. Danzeca
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Performance evaluation;
Radiation effects;
Sensitivity;
Neutrons;
Silicon;
Virtual machine monitors;
59.
Single Event Effects And Total Dose Testing Of Digital To Analog Converters
机译:
数模转换器的单事件效应和总剂量测试
作者:
A.B. Karakozov
;
P.V. Nekraso
;
D. V. Bobrovsky
;
G.S. Sorokoumov
;
V.A. Telets
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Histograms;
Single event upsets;
Testing;
Digital-analog conversion;
Degradation;
60.
MOSFETs SEB SEGR Qualification Results with SOA Estimation
机译:
通过SOA估算得出MOSFET SEB和SEGR鉴定结果
作者:
Sergey A. Iakovlev
;
Vasily S. Anashin
;
Pavel A. Chubunov
;
Aleksandr E. Koziukov
;
Kais B. Bu-Khasan
;
Timofey A. Maksimenko
;
Aleksandr M. Chlenov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Silicon;
Ions;
MOSFET;
Logic gates;
Breakdown voltage;
Test facilities;
61.
A novel combined charge balance termination structure insensitive to ionizing radiation effect
机译:
对电离辐射效应不敏感的新型组合电荷平衡终止结构
作者:
Limei Song
;
Chao Xiao
;
Yanfei Zhang
;
Botao Sun
;
Lixin Wang
;
Jiajun Luo
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ionizing radiation;
MOSFET;
Junctions;
Radiation effects;
Degradation;
Electric fields;
Microelectronics;
62.
The STG DICE Cell with the Decoder for Reading Data in Steady and Unsteady States for Hardened SRAM
机译:
带解码器的STG DICE单元,用于读取硬化SRAM的稳态和非稳态数据
作者:
Yuri V. Katunin
;
Vladimir Ya. Stenin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Transistors;
Decoding;
Degradation;
Insulation life;
Energy exchange;
Semiconductor device modeling;
Single event upsets;
63.
The Radiation Performance of Intersil’s Commercial Space Plastic Parts
机译:
Intersil商业太空塑料零件的辐射性能
作者:
W. H. Newman
;
N. W. van Vonno
;
S. K. Bernard
;
L. G. Pearce
;
J. Broline
;
O. E. Mansilla
;
E. J. Thomson
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Testing;
Plastics;
Voltage control;
Transceivers;
Lead;
Receivers;
Radiation effects;
64.
Radiation Hard Optical Link Developments at CERN
机译:
欧洲核子研究组织的辐射硬光链路发展
作者:
Lauri Olanterä
;
Stéphane Détraz
;
Andrea Kraxner
;
Carmelo Scarcella
;
Christophe Sigaud
;
Csaba Soόos
;
Jan Troska
;
François Vasey
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Optical attenuators;
Optical transmitters;
Photodiodes;
Radiation effects;
Transceivers;
Vertical cavity surface emitting lasers;
65.
Superimposed In-Circuit Fault Mitigation for Dynamically Reconfigurable FPGAs
机译:
动态可重配置FPGA的叠加式在线故障缓解
作者:
Alexandra Kourfali
;
David Merodio Codinachs
;
Dirk Stroobandt
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Circuit faults;
Hardware;
Tools;
Computer architecture;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
66.
Design and Test with Proton Beam of a 1.2 Gb/s Semi-custom Serialiser Implemented in 180 nm CMOS with SEU Mitigation by TMR
机译:
使用TMR减轻SEU的180 nm CMOS中实现的1.2 Gb / s半定制串行器的质子束设计和测试
作者:
Matteo Lupi
;
G. Aglieri Rinella
;
M. Bonora
;
H. Hillemanns
;
D. Kim
;
T. Kugathasan
;
A. Lattuca
;
G. Mazza
;
K. M. Sielewicz
;
W. Snoeys
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Radiation effects;
Single event upsets;
Semiconductor device measurement;
Detectors;
Phase locked loops;
Current measurement;
67.
Muller C-element Self-corrected Triple Modular Redundant Logic with Multithreading and Low Power Modes
机译:
具有多线程和低功耗模式的Muller C元素自校正三重模块冗余逻辑
作者:
C. Ramamurthy
;
A. Gujja
;
V. Vashishtha
;
Srivatsan Chellappa
;
L. T. Clark
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Latches;
Clocks;
Logic gates;
Pipelines;
Flip-flops;
Standards;
Layout;
68.
Study of Total Ionizing Dose Effects in 65nm Digital Circuits with the DRAD Digital RADiation Test Chip
机译:
使用DEAD数字辐射测试芯片研究65nm数字电路中的总电离剂量效应
作者:
L. M. Jara Casas
;
D. Ceresa
;
S. Kulis
;
S. Miryala
;
J. Christiansen
;
R. Francisco
;
D. Gnani
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Libraries;
Logic gates;
Delays;
Annealing;
Degradation;
Radiation effects;
Transistors;
69.
Destructive Failure Heavy Ion Testing of Different Amplifiers
机译:
不同放大器的破坏性故障重离子测试
作者:
Anastasia A. Kalashnikova
;
Pavel A. Chubunov
;
Vasily S. Anashin
;
Sergey A. Iakovlev
;
Aleksandr E. Koziukov
;
Konstantin Z. Faradian
;
Aleksandr M. Chlenov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Ions;
Harmonic analysis;
Testing;
Space vehicles;
Rail to rail inputs;
Operational amplifiers;
70.
SEL and cell failures in MRAM under ion and focused laser irradiation
机译:
离子和聚焦激光照射下MRAM中的SEL和单元故障
作者:
Alexander A. Pechenkin
;
Anna B. Boruzdina
;
Andrey V. Yanenko
;
Dmitry. E. Protasov
;
Ivan I. Shvetsov-Shilovskiy
;
Anton A. Sangalov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Surface emitting lasers;
Ions;
Radiation effects;
Laser beams;
Ion beams;
Substrates;
71.
Identification of Pulsed-Neutron-Induced Upset Bursts in Static Random Access Memories using Monte-Carlo Simulations
机译:
使用蒙特卡罗模拟识别静态随机访问存储器中脉冲中子诱发的突发爆发
作者:
Chao Qi
;
Wei Chen
;
Yan Liu
;
Xiaoming Jin
;
Shanchao Yang
;
Xiaoqiang Guo
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Electronics packaging;
Indexes;
72.
Ionizing Radiation Response of the 4530 Parallel-to- Serial Driver and 4527 Registered Receiver
机译:
4530并行至串行驱动器和4527注册接收器的电离辐射响应
作者:
Steven C. Witczak
;
Eric V. Williamson
;
Matthew J. Calderone
;
David L. Jarvis
;
Kristin E. Marino
;
Glen E. Macejik
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Annealing;
Radiation effects;
Threshold voltage;
Receivers;
Performance evaluation;
Clamps;
73.
TID in-situ measurement of temperature coefficient of various commercial voltage references
机译:
TID现场测量各种商用电压基准的温度系数
作者:
Jiri Hofman
;
Richard Sharp
;
Jiri Haze
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Voltage measurement;
Radiation effects;
Annealing;
Degradation;
Data acquisition;
Temperature sensors;
74.
Radiation Testing of an SAR ADC for Use in Quench Detection Systems for the HiLumi LHC
机译:
用于HiLumi LHC淬火检测系统的SAR ADC的辐射测试
作者:
Jelena Spasic
;
Reiner Denz
;
Josef Kopal
;
Jens Steckert
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Large Hadron Collider;
Radiation effects;
Superconducting magnets;
Current measurement;
Power demand;
Field programmable gate arrays;
75.
Combined x-ray and gamma ray testing to investigate the TID tolerance of flip-chip FPGAs
机译:
结合X射线和伽马射线测试来研究倒装芯片FPGA的TID容限
作者:
Nadia Rezzak
;
Jih-Jong Wang
;
Victor Nguyen
;
Durwyn Dsilva
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Testing;
Gamma-rays;
Fabrics;
Field programmable gate arrays;
Flip-chip devices;
Performance evaluation;
Current measurement;
76.
A mechanism for Destructive Single-Event Efect in Gallium Nitride Power HEMTs
机译:
氮化镓功率HEMT中破坏性单事件效应的机制
作者:
L. Scheick
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
HEMTs;
MODFETs;
Gallium nitride;
Ions;
Logic gates;
Silicon;
Transient analysis;
77.
Multiple Cell Event Partitioning for Simulation of Soft Error Rates in Space Systems with Embedded Error Correcting Codes
机译:
具有嵌入式纠错码的空间系统中软错误率仿真的多单元事件划分
作者:
Gennady I. Zebrev
;
Artur M. Galimov
;
Liza V. Mrozovskaya
;
Maxim S. Gorbunov
;
Konstantin A. Petrov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Error analysis;
Error correction codes;
Ions;
Orbits;
Space vehicles;
Standards;
78.
Simulation and Experiment in Neutron Induced Single Event Effects in SRAM
机译:
中子诱发的SRAM中单事件效应的仿真与实验
作者:
Xiaoming Jin
;
Chenhui Wang
;
Xiaoqiang Guo
;
Chao Qi
;
Shanchao Yang
;
Yan Liu
;
Wei Chen
;
Simone Gerardin
;
Marta Bagatin
;
Stefano Bonaldo
;
Alessandro Paccagnella
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Neutrons;
Inductors;
Silicon;
Single event upsets;
SRAM cells;
Atomic measurements;
79.
Compendium of Recent SEE, and TID Test Results conducted by CNES from 2011-2016
机译:
CNES于2011-2016年进行的近期SEE汇总和TID测试结果
作者:
Roberta Pilia
;
Florence Malou
;
David Dangla
;
Françoise Bezerra
;
Denis Standarovski
;
Robert Ecoffet
;
Pierre Tastet
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Total ionizing dose;
Single event upsets;
Xenon;
Single event transients;
Switches;
80.
The effect of preliminary neutron irradiation on IR-LED characteristics during operation
机译:
中子初步辐照对运行中IR-LED特性的影响
作者:
Anastasiia V. Simonova
;
Alexandr V. Gradoboev
;
Ksenia N. Orlova
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Light emitting diodes;
Radiation effects;
Neutrons;
Reliability;
Resistance;
Ionizing radiation;
Threshold current;
81.
Microdose effects in SRAM cells under heavy ion irradiation
机译:
重离子辐照下SRAM单元中的微剂量效应
作者:
Anna B. Boruzdina
;
Andrey V. Yanenko
;
Anastasia V. Ulanova
;
Alexander I. Chumakov
;
Dmitriy V. Bobrovskiy
;
Vyacheslav M. Uzhegov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ions;
Radiation effects;
Performance evaluation;
SRAM cells;
Ion beams;
Silicon;
82.
MELAF -a 50 MeV Electron Accelerator Facility for Research in Radiation Effects
机译:
MELAF-一种用于辐射效应研究的50 MeV电子促进剂
作者:
Andreas Schuller
;
Christoph Makowski
;
Ralf-Peter Kapsch
;
Ralf Nolte
;
Peter Beck
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Neutrons;
Linear accelerators;
Photonics;
Standards;
Dosimetry;
Laser beams;
83.
Assessment of a Setup for the Characterization of Electronic Devices under Protons at Cryogenic Temperature.
机译:
低温下质子下电子设备表征装置的评估。
作者:
F. Bezerra
;
M. Boutillier
;
B. Baradat
;
N. Chatry
;
C. Dossat
;
P. Garcia
;
P. Pourrouquet
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Particle beams;
Radiation effects;
Solid modeling;
Safety;
Neutrons;
Photonics;
84.
Proton dosimetry at the accelerator COSY for radiation effect testing
机译:
加速器COZY上的质子剂量学用于辐射效应测试
作者:
Max Baum
;
Olaf Felden
;
Udo Weinand
;
Stefan Höffgen
;
Jochen Kuhnhenn
;
Stefan Metzger
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Films;
Protons;
Image color analysis;
Ionization chambers;
Radiation effects;
Dosimetry;
Silver;
85.
AXEL lab.: Representative Ground Simulation for Investigating Radiation effects in Materials and Electronics
机译:
AXEL实验室:用于研究材料和电子产品中辐射效应的代表性地面模拟
作者:
S. Duzellier
;
L. Artola
;
G. Hubert
;
C. Inguimbert
;
T. Nuns
;
S. Lewandowski
;
T. Paulmier
;
B. Dirassen
;
R. Rey
;
C. Pons
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Temperature measurement;
Degradation;
Monitoring;
Particle beams;
Testing;
Ionization;
86.
UCL irradiation facilities status
机译:
UCL照射设施状况
作者:
L. Standaert
;
N. Postiau
;
M. Loiselet
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ions;
Radiation effects;
Particle beams;
Protons;
Neutrons;
Cyclotrons;
Dosimetry;
87.
Review and Comparison of Irradiation Response and Annealing Models for High-Sensitivity RADFETs
机译:
高灵敏度RADFET的辐照响应和退火模型的回顾和比较
作者:
M. Benito-Parejo
;
S. Ibarmia
;
P. Portillo
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Annealing;
Mathematical model;
Fitting;
Protons;
Data models;
Temperature measurement;
88.
Destructive Single-Events and Latchup in Radiation-Hardened Switching Regulators
机译:
辐射强化开关稳压器的破坏性单事件和闩锁
作者:
Sergeh Vartanian
;
Gregory R. Allen
;
Farokh Irom
;
Leif Z. Scheick
;
Shirley Hart
;
Nick W. van Vonno
;
Larry Pearce
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ions;
Temperature measurement;
Testing;
Measurement by laser beam;
Regulators;
Switches;
Laser beams;
89.
Single event latchup in ICs with integrated latchup protection technology
机译:
具有集成闩锁保护技术的IC中的单事件闩锁
作者:
D.S. Kostyuchenko
;
A.B Karakozov
;
P.V. Nekrasov
;
A.A. Pechenkin D.V.Savchenkov
;
A.Yu. Nikiforov
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Ions;
Testing;
Power supplies;
Laser modes;
Single event latchup;
90.
Proton Test Results for a Commercial Fanout Buffer, a Variable Gain Amplifier, and a ±40V Operational Amplifier
机译:
商用扇出缓冲器,可变增益放大器和±40V运算放大器的质子测试结果
作者:
Randall Milanowski
;
Slaven Moro
;
Norm Hall
;
Raichelle Aniceto
;
Bert Vermeire
;
Neal Nicholson
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Protons;
Gain;
Optical fiber amplifiers;
Operational amplifiers;
Testing;
Performance evaluation;
Integrated circuits;
91.
SEE Testing on PADI-X for JUICE 8-Channel Ultrafast Charge Pre-Amplifier ASIC
机译:
针对JUICE 8通道超快电荷前置放大器ASIC的PADI-X进行SEE测试
作者:
I. Lopez-Calle
;
A. Sirin
;
H. Andersson
;
M. Kerenyi
;
JJ. Gonzalez
;
C. Poivey
;
L. Bonora
;
E. Muñoz
;
M. Dominguez
;
G. Fernandez
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Testing;
Ions;
Receivers;
Radiation effects;
Detectors;
Sensitivity;
Software;
92.
Extended TID, ELDRS and SEE Hardening and Testing on Mixed Signal Telemetry LX7730 Controller
机译:
混合信号遥测LX7730控制器的扩展TID,ELDRS和SEE强化和测试
作者:
Mathieu Sureau
;
Russell Stevens
;
Marco Leuenberger
;
Nadia Rezzak
;
Dorian Johnson
;
Kathy Zhang
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Instruments;
Telemetry;
Testing;
Performance evaluation;
Voltage control;
Pins;
Space vehicles;
93.
Radiation Evaluation of Analog Devices’ RT6804-1 Radiation Tolerant Multicell Battery Monitor
机译:
ADI公司的RT6804-1耐辐射多节电池监视器的辐射评估
作者:
Shirley C. Hart
;
Philip G. Pandol
;
Nathan R. Wendel
;
Ryan Peralta
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Testing;
Batteries;
Voltage measurement;
Integrated circuits;
Monitoring;
Pins;
Current measurement;
94.
Pulsed laser beam identification of SEEsensitive regions and observation of additional failure modes relevant for RHA in Digital Isolators
机译:
脉冲激光束识别SEE敏感区域并观察数字隔离器中与RHA相关的其他故障模式
作者:
Raphael Wolf
;
Michael Steffens
;
Stefan Metzger
;
Peter Beck
;
Michael Wind
;
Marc Poizat
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Laser beams;
Ions;
Transient analysis;
Measurement by laser beam;
Isolators;
Testing;
Power lasers;
95.
Proton Radiation Effects on Hamamatsu InGaAs PIN Photodiodes
机译:
质子辐射对Hamamatsu InGaAs PIN光电二极管的影响
作者:
Raichelle Aniceto
;
Randall Milanowski
;
Slaven Moro
;
Kerri Cahoy
;
Garrett Schlenvogt
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Dark current;
Protons;
Radiation effects;
Photodiodes;
Current measurement;
Indium gallium arsenide;
Semiconductor device measurement;
96.
Radiation Tolerant 6.25 Gbps 850nm Optical Transceiver
机译:
耐辐射6.25 Gbps 850nm光学收发器
作者:
A. Tanskanen
;
M. Karppinen
;
C. Boatella Polo
;
R. J. E. Jansen
;
I. McKenzie
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Optical transmitters;
Transceivers;
Optical receivers;
Optical fibers;
Vertical cavity surface emitting lasers;
97.
A Survey on Analog-to-Digital Converter Performance with Respect to Ionizing Radiation
机译:
关于电离辐射的模数转换器性能调查
作者:
Steffen Mueller
;
Robert Weigel
;
Alexander Koelpin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Performance evaluation;
Radiation effects;
Analog-digital conversion;
Market research;
Radiation hardening (electronics);
CMOS technology;
BiCMOS integrated circuits;
98.
In-Beam Programming of Radiation-Hardened Flash-Based FPGA—RTG4
机译:
基于辐射增强闪存的FPGA的光束内编程-RTG4
作者:
Jih-Jong Wang
;
Nadia Rezzak
;
Stephen Varela
;
Victor Nguyen
;
Salim Samiee
;
Frank Hawley
;
Esmat Hamdy
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Programming;
Laser beams;
Registers;
Radiation effects;
Field programmable gate arrays;
Ions;
Testing;
99.
Dynamic SEE Testing of Selected Architectural Features of Xilinx 28 nm Virtex-7 FPGAs
机译:
赛灵思28 nm Virtex-7 FPGA选定架构特性的动态SEE测试
作者:
Gary M. Swift
;
Stephen E. Stone
;
Sebastián E. García
;
Kevin W. Wray
;
William J. Rowe
;
Krysten H. Pfau
;
Robert Liu
;
Jonathan Holden
;
Asa Angeles
;
Barry L. Willits
;
Kyle P. Robinson
;
Andrés Pérez-Celis
;
Michael J. Wirthlin
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Field programmable gate arrays;
Ions;
Phase locked loops;
Testing;
Protons;
Aerodynamics;
100.
ELDRS Characterization to of Texas Instruments LMP2012 RRO Precision Amplifier
机译:
德州仪器LMP2012 RRO精密放大器的ELDRS表征
作者:
Kirby Kruckmeyer
会议名称:
《European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Power supplies;
Choppers (circuits);
Operational amplifiers;
Testing;
Standards;
Pins;
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