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赵有文; 董志远;
中国科学院半导体研究所,北京,100083;
磷化铟; 退火; 缺陷;
机译:InP中成对的杂质产生的深能级
机译:半导体中缺陷性质的合金工程:过渡金属双硫属元素化物中深能级的抑制
机译:CH3NH3PbI3钙钛矿型太阳能电池深能级俘获缺陷的深能级瞬态光谱分析
机译:用双相关深能级瞬态光谱法表征GaN中的供体状深能级缺陷
机译:通过分子束外延生长的电子辐照氮化铝镓中的深能级缺陷。
机译:深能级陷阱及其对InP / InGaAs异质结构电流特性影响的研究
机译:SAC1编码受调节的脂质磷酸肌醇磷酸酶,其缺陷可被同源的Inp52p和Inp53p磷酸酶抑制
机译:背景杂质和结构缺陷产生的Inp电气补偿。
机译:在半导体衬底中具有由电子束照射产生的深能级缺陷的半导体器件
机译:用于形成其中抑制了咖啡环现象的细粒干燥图案的方法,用于形成其中抑制了咖啡环现象的细粒干燥图案的微粒悬浮液以及用于抑制其中的咖啡环现象的方法颗粒干燥模式。
机译:用于测量免疫层析的脯氨酸现象抑制剂,在检查和测量食物期间的脯氨酸现象抑制方法以及用于检测具有抑制性Prozone现象的试剂盒的免疫层析方法
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