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LDMOS及集成LDMOS器件

摘要

本实用新型公开了LDMOS及集成LDMOS器件。一种半导体器件,包括位于p型衬底10中的LDMOS 1、CMOS 2、NPN 3和埋沟电阻4。其中LDMOS 1包括n型漂移区20、p+阱接触区40、p型体区70、n+源区50、n+漏区60、栅介质层100、源极金属80、漏极金属90、场氧化层110、金属前介质120,所述n型漂移区20与所述p型体区70间无间隔,还包括至少一个p型降场层30A和至少一个p型掩埋阱30B,所述p型掩埋阱30B位于所述p型体区70下且与所述p型体区70接触,所述p型降场层30A位于所述场氧化层110下、被所述n型漂移区20包围且与所述场氧化层110间有间隔。本实用新型的LDMOS具有低导通电阻和高耐压、易于集成且整个半导体器件的制造工艺步骤简单、对设备要求不高。

著录项

  • 公开/公告号CN202275836U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2012-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市联德合微电子有限公司;

    申请/专利号CN201120374940.9

  • 发明设计人 乔明;毛焜;张波;

    申请日2011-09-28

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/06(20060101);

  • 代理机构44260 深圳市兴科达知识产权代理有限公司;

  • 代理人王翀

  • 地址 518052 广东省深圳市南山区艺园路马家龙田厦产业园原27-29栋2-008室

  • 入库时间 2022-08-21 23:30:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-18

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L29/78 授权公告日:20120613 终止日期:20170928 申请日:20110928

    专利权的终止

  • 2015-12-30

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L29/78 登记生效日:20151207 变更前: 变更后: 申请日:20110928

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-06-13

    授权

    授权

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