DEGRADATION; SOI (SEMICONDUCTORS); silicon on insulator SOI;
机译:SOI n沟道LDMOSFET的退化机理
机译:比较4 MeV质子和Co-60γ辐照引起的N沟道MOSFET的电特性下降
机译:N沟道LDD器件中沟道热电子降解与辐射诱导界面俘获的相关性
机译:辐射引起的SOI n沟道LDMOSFET的退化
机译:硅锗HBT和VCO中热载流子引起的降解和伽马射线引起的降解。
机译:与辐射后DNA降解诱导型抑制剂相关的辐射诱导链断裂的修复
机译:由于高场,热载流子和辐射应力,n沟道多晶硅TFT的器件性能下降