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机译:调查 于高 介电 к 为 低泄漏 的AlGaN / GAN MIS- HEMT器件 , 使用 材料的选择 方法
Department of Electrical &
Electronics Engineering Birla Institute of Technology and Science Pilani Rajasthan India;
Department of Electrical &
Electronics Engineering Birla Institute of Technology and Science Pilani Rajasthan India;
Department of Electrical &
Electronics Engineering Birla Institute of Technology and Science Pilani Rajasthan India;
机译:调查 于高 介电 к 为 低泄漏 的AlGaN / GAN MIS- HEMT器件 , 使用 材料的选择 方法
机译:使用材料选择方法研究低泄漏AlGaN / GaN MIS-HEMT装置的高κ介电研究
机译:使用材料选择方法研究低阈值电压和低泄漏氧化锌薄膜晶体管的高κ电介质
机译:原位钝化结合GaN缓冲优化,在SI(111)上的SI_3N_4 / AIGAN / GAN HEMT器件中的极低电流分散和低栅极泄漏
机译:用于金属氧化物半导体器件的栅极介电材料和介电/硅界面的研究
机译:使用极薄的栅极介电层综合电离剂量效应的全电离剂量效应
机译:使用ALN / SIN作为栅极电介质和钝化层的低电流折叠和低泄漏GaN MIS-HEMT
机译:喷射气相沉积(JVD)氧化硅/氮化物/氧化物薄膜(ONO)薄膜作为siC和GaN器件的栅极电介质的研究。