Substrate; Pitch; Reliability; Design; Solder-joint;
机译:细间距铜柱型晶圆级封装(WLP)的板级焊点可靠性分析
机译:芯片级封装(细间距球栅阵列)的板级跌落可靠性的影响因素评估
机译:多层eWLB(嵌入式晶圆级BGA)封装中的UItra精细间距RDL开发
机译:评估精细间距BGA封装对主板设计和板级可靠性的影响
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:在长期老化和循环下的板级热测试中ENIG和ENEPIG表面处理的包装可靠性影响
机译:高速细间距晶圆级封装器件测试用中介层的设计与表征
机译:BGa的装配可靠性和板面效果