机译:深亚微米SRAM电路中最坏情况下的总剂量辐射效应
deep-submicron SRAM circuits; total dose effect; worst-case test scheme;
机译:深亚微米SRAM电路中最坏情况下的总剂量辐射效应
机译:通过总剂量识别CMOS电路中引发的逻辑故障的最坏情况测试向量的方法
机译:评价可重构场效应晶体管和SRAM电路的全电离剂量效应
机译:在4T单元SRAM中通过总剂量辐照揭示了重离子诱导的潜在粘附位
机译:在全剂量环境中运行的集成电路的最坏情况运行条件的仿真。
机译:低剂量率单剂量和高剂量率分次全身照射对鼠造血区室的类似作用。独特剂量为750 cGy后的初步结果。
机译:深度亚微米技术辐射耐高速数字集成电路的最佳物理实现
机译:在总剂量环境中提高sRam性能的电路方法