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第一章绪论
1.1辐射环境和辐射效应
1.1.1辐射环境
1.1.2基本电离辐射效应
1.2国内外研究现状
1.3本课题研究意义
第二章总剂量辐射效应的基本理论
2.1辐射粒子与物质的相互作用
2.1.1光子
2.1.2带电粒子
2.1.3中子
2.2 MOS结构的性质
2.3辐射感生电荷的形成与性质
2.3.1氧化物陷阱电荷
2.3.2界面态电荷
2.3.3氧化物陷阱与界面陷阱的相关性
2.4氧化物陷阱电荷与界面态电荷分离方法
2.4.1中带电压法
2.4.2电荷泵法(Charge-Pumping)
2.4.3双晶体管法
2.5本章小结
第三章静态辐射偏置条件对总剂量效应的影响
3.1引言
3.2各种辐射偏置条件
3.3仿真模型及器件结构
3.4仿真结果
3.5本章小结
第四章深亚微米器件的总剂量电离辐射效应研究
4.1引言
4.2样品与实验条件
4.3实验仪器介绍
4.4实验结果及分析
4.5相关机理研究与分析
4.6本章小结
第五章结束语
致谢
参考文献
硕士期间发表的学术论文
硕士期间参加的主要研究工作
西安电子科技大学;