首页> 外文OA文献 >Investigation of Total Ionizing Dose Eects on Semiconductor Power Devices under Static and Dynamic Conditions. Studio degli Effetti della Dose Totale delle Radiazioni Ionizzanti sui Dispositivi di Potenza a Semiconduttore in Condizioni Statiche e Dinamiche

【2h】

Investigation of Total Ionizing Dose Eects on Semiconductor Power Devices under Static and Dynamic Conditions. Studio degli Effetti della Dose Totale delle Radiazioni Ionizzanti sui Dispositivi di Potenza a Semiconduttore in Condizioni Statiche e Dinamiche

机译：静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Valente Eugenio;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2016
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

中文文献
专利

Investigation of Total Ionizing Dose Eects on Semiconductor Power Devices under Static and Dynamic Conditions. Studio degli Effetti della Dose Totale delle Radiazioni Ionizzanti sui Dispositivi di Potenza a Semiconduttore in Condizioni Statiche e Dinamiche

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅