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IEEE International Conference on Semiconductor Electronics
IEEE International Conference on Semiconductor Electronics
召开年:
2016
召开地:
Kuala Lumpur(MY)
出版时间:
-
会议文集:
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1747
条结果
1.
Beam propagation modelling of the digital response in cosine S-bend waveguide branch
机译:
余弦S弯曲波导分支数字响应光束传播建模
作者:
Yulianti Ian
;
Supaat Abu Sahmah M.
;
Idrus Sevia M.
;
Mohammad Abu Bakar
;
Al-hetar Abdulaziz. M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
2.
Carrier velocity in carbon nano tube field effect transistor
机译:
碳纳米管场效应晶体管中的载流速
作者:
Ahmadi Mohammad Taghi
;
Saad Ismail
;
Karamdel Javad
;
Ismail Razali
;
Arora Vijay K.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
3.
Experimental analysis of read related transistors#x2019; gate width sizing effects on the 3T1D DRAM access time curve
机译:
读取相关晶体管栅极宽度施胶效应对3T1D DRAM接入时间曲线的实验分析
作者:
Galvez Lorenzo Michael Angelo
;
Mazo Tan Wilson
;
Parado Ballesil Anastacia
;
Poblete Alarcon Louis
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
4.
Study of cobalt doping on the electrical and optical properties of titanium dioxide thin film prepared by sol-gel method
机译:
溶胶 - 凝胶法制备钴掺杂对二氧化钛薄膜电和光学性质的研究
作者:
Ahmad M.K.
;
Rasheid N.A.
;
Zain Ahmed A.
;
Abdullah S.
;
Rusop M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
5.
On-chip crosstalk noise reduction model using interconnect optimization techniques
机译:
使用互连优化技术片上串扰降噪模型
作者:
Hunagund P.V.
;
Kalpana A.B
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
6.
Recent development in the growth of ZnO nanoparticles thin film by magnetron sputtering.
机译:
磁控溅射钼纳米颗粒薄膜近期发展。
作者:
Mahayatun Dayana Johan Ooi
;
Aziz Azlan Abdul
;
Abdullah Mat Johar
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
7.
A Study on the effect of varying voltage supply on the performance of voltage sense amplifiers for 1-Transistor DRAM memories
机译:
不同电压供应对1晶体管DRAM存储器电压读出放大器性能的影响
作者:
Almazan Sherwin Paul R.
;
Zarsuela Jestoni V.
;
Ballesil Anastacia P.
;
Alarcon Louis P.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
8.
Design and Optimization of 40V, 0.18#x03BC;m versatile HVL-DMOS device with DOE
机译:
使用DOE的40V,0.18μm多功能HVL-DMOS装置的设计和优化
作者:
Michael Tiong Mee Gouh
;
Hu Yong Hai
;
Deb Kumar Pal
;
Liu Jian
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
9.
Systematic approach to ultra-wideband Low Noise Amplifier design in CMOS technology
机译:
CMOS技术超宽带低噪声放大器设计的系统方法
作者:
Roodaki Parisa Momen
;
Kondori Maryam Baghban
;
Amiri Parviz
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
10.
The effect of annealing temperatures on zinc oxide thin films properties for electronic devices application
机译:
电子设备应用的退火温度对氧化锌薄膜特性的影响
作者:
Mamat M. H.
;
Sahdan M. Z.
;
Amizam S.
;
Rafaie H. A.
;
Khusaimi Z.
;
Ahmed A. Zain
;
Abdullah S.
;
Rusop M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
11.
Analog front end modules design in non-coherent UWB receivers for sensor networks
机译:
传感器网络非相干UWB接收器中的模拟前端模块设计
作者:
Yargholi Mostafa
;
Nabavi Abdolreza
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
12.
Reliable fast detection anti-collision technique for RFID system implemented on chip
机译:
用于芯片实施的RFID系统可靠的快速检测防碰撞技术
作者:
Sampe Jahariah
;
Othman Masuri
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
13.
Design of 0.18um high voltage LDMOS for automotive application
机译:
用于汽车应用0.18um高压LDMOS的设计
作者:
Ching Tee Elizabeth Kho
;
Julai Norhuzaimin
;
Hu Yong Hai
;
Deb Kumar Pal
;
Tia Swee Hua
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
Automotive;
high voltage LDMOS;
simulation;
14.
A practical investigation on the root causes of the mechanical damages of pogo pin type test sockets to IC packages in final test
机译:
对最终测试中Pogo Pin型试验插座的机械损坏的根本原因的实践调查
作者:
Amin Nowshad
;
Lam Zi Yi
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
15.
A modified lift-off technique to prevent pattern following effect in microfabrication
机译:
一种改进的剥离技术,以防止微型制作效果的模式
作者:
Damghanian Mitra
;
Majlis Burhanuddin Yeop
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
16.
SNR prediction model of an In
0.53
Ga
0.47
As interdigitated lateral p-i-n photodiode
机译:
A中的SNR预测模型
0.53 INF> GA
0.47 INF>作为交叉横向P-I-N光电二极管
作者:
Menon P. Susthitha
;
Kandiah Kumarajah
;
Shaari Sahbudin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
17.
Germanium nanostructures for electronic memory application
机译:
用于电子存储器应用的锗纳米结构
作者:
Chim W. K.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
18.
Low-power high-tuning range CMOS ring oscillator VCOs
机译:
低功耗高调范围CMOS环形振荡器VCOS
作者:
Parvizi Mahdi
;
Khodabakhsh Amir
;
Nabavi A.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
CMOS ring oscillator VCO;
High tuning range;
Phase noise;
Voltage controlled oscillator (VCO);
composite load;
19.
A coupled-field fluid-structure interaction (FSI) simulation of an electrostatically actuated diaphragm valveless micropump (EDVM)
机译:
静电驱动膜片Valveless Micropump(EDVM)的耦合场流体结构相互作用(FSI)模拟
作者:
Lee Hing Wah
;
Syono Mohd. Ismahadi
;
Azid Ishak Hj. Abd.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
20.
Evaluation on metal photo rework scheme for yield improvement
机译:
屈服改善金属拍卖速性方案评价
作者:
Wong Lesley
;
Zhen Pan
;
Oh Sang
;
Yaw Liau Chu
;
Wong Joanne
;
Han Chai Sian
;
Ha Lee Wook
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
21.
The design and simulation of an optimized MEMS varactor with high q factor for RF circuits
机译:
RF电路高Q因子优化MEMS变容二极管的设计与仿真
作者:
Rahimi M.
;
Jamuar S.S.
;
Hamidon M.N.
;
Ahmad M.R.
;
Mousavi S.A.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
22.
HEMT Transistor Noise modeling using generalized radial basis function
机译:
HEMT晶体管噪声建模使用广义径向基函数
作者:
Hayati Mohsen
;
Shamkhani Ali
;
Rezaei Abbas
;
Seifi Majid
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
Generalized Radial Basis Function;
HEMT Transistor;
S-Parameters;
23.
Synthesis of nanoflake ZnO
机译:
纳米蛋糕ZnO的合成
作者:
Ariyanto Nugroho Pratomo
;
Abdullah Huda
;
Yuliarto Brian
;
Syarif Junaidi
;
Shaari Sahbudin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
24.
Design and modeling of a vertical-cavity surface-emitting laser (VCSEL)
机译:
垂直腔表面发射激光器(VCSEL)的设计与建模
作者:
Kandiah Kumarajah
;
Menon P. Susthitha
;
Shaari Sahbudin
;
Yeop Majlis Burhanuddin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
25.
The computational intelligence in simulation of DG MOSFET: Application to the simulation of the nanoscale CMOS circuit
机译:
DG MOSFET仿真中的计算智能:应用于纳米级CMOS电路的仿真
作者:
Hayati Mohsen
;
Seifi Majid
;
Rezaei Abbas
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
Adaptive Neuro-Fuzzy Inference System;
Artificial Neural Network;
DG MOSFET;
26.
Silicon pillar thickness effect on vertical double gate MOSFET (VDGM) with oblique rotating implantation (ORI) method
机译:
具有斜旋转植入(ORI)法的垂直双闸MOSFET(VDGM)硅柱厚度效应
作者:
Riyadi Munawar A.
;
Saad Ismail
;
Ismail Razali
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
27.
A comparative study between zirconium dioxide and hafnium dioxide dielectric charges
机译:
二氧化锆和二氧化铪介质电荷的比较研究
作者:
Zoolfakar A.S.
;
Hashim H.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
28.
Design and simulation of one-port SAW resonator for wireless and high temperature application
机译:
无线高温应用的单端口SAW谐振器的设计与仿真
作者:
Mousavi Sayed Alireza
;
Hamidon M. N.
;
Sidek Roslina
;
Rahimi M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
29.
Effect of treated silver nanoparticles to electrical conductivity improvement of electrically conductive adhesive (ECA)
机译:
处理银纳米粒子对导电粘合剂电导率改进的影响(ECA)
作者:
Kornain Zainudin
;
Amin Nowshad
;
Jalar Azman
;
Cheah Ang Ye
;
Ahmad Ibrahim
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
30.
Influence of conformal nitride material impacting the OTP #x00026; MTP data retention performance
机译:
适形氮化物物质影响OTP&MTP数据保留性能的影响
作者:
Gek Hee Eng
;
Jiew Chee Boon
;
Chien Alexander Tan Chuan
;
Sewoon Seok
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
31.
Design and simulation of a high temperature MEMS micro-hotplate for application in trace gas detection
机译:
痕量气体检测应用高温MEMS微型热板的设计与仿真
作者:
Ahmed Abdelaziz Yousif
;
Dennis John Ojur
;
Mohamad Naufal Mohamad Saad
;
Talah Waddah Abdelbagi
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
32.
12N test procedure for NPSF testing and diagnosis for SRAMs
机译:
12N用于NPSF测试和SRAM诊断的测试程序
作者:
Julie R.R.
;
Wan Zuha W.H.
;
Sidek R.M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
March algorithm;
Neighborhood Pattern Sensitive Fault;
Test Procedure;
multi data background SRAM;
33.
A comparative study on analog/RF performance of ultra-thin body (UTB) SOI and double gate MOSFETs
机译:
超薄体(UTB)SOI和双栅MOSFET的模拟/射频性能的比较研究
作者:
Soin Norhayati
;
Yan Ching Lun
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
34.
Fabrication and characterization of glass-based MEMS transformer with single layer coil structure
机译:
单层线圈结构的玻璃基MEMS变压器的制造与表征
作者:
Yunas Jumril
;
Majlis Burhanuddin Yeop
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
35.
High performance configurable distributed hybrid memory in structured ASIC
机译:
结构化ASIC中的高性能可配置分布式混合存储器
作者:
Hoe Oh Guan
;
Lor Wey Tsen
;
Phoon Hee Kong
;
Lim Chooi Pei
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
36.
Quantum nanoelectronics: Challenges and opportunities
机译:
量子纳米电子:挑战和机遇
作者:
Arora Vijay K.
;
Tan Michael L. P.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
37.
First resonance frequency and high sensitivity for MEMS acoustic sensors
机译:
MEMS声学传感器的首要谐振频率和高灵敏度
作者:
Ganji Bahram Azizollah
;
Majlis Burhanuddin Yeop
;
Rastegar Saeed
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
Acoustic sensor;
MEMS;
Resonance frequency;
Sensitivity;
38.
Post-thermal annealing effects on the optical, structural and morphological properties of hydrogenated silicon (Si:H) thin films prepared by layer-by-layer (LBL) deposition technique
机译:
热退火对通过层(LBL)沉积技术制备的氢化硅(Si:H)薄膜的光学,结构和形态学性能的影响
作者:
Goh Boon Tong
;
Chong Cheong Yow
;
Chong Su Kong
;
Abdul Gani Siti Meriam
;
Muhamad Muhamad Rasat
;
Rahman Saadah Abdul
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
39.
Design considerations of Sub-100nm Dual Material Gate Fully Depleted Silicon On Insulator (DMG-FD-SOI)
机译:
亚100nm双层材料栅极在绝缘体上完全耗尽硅的设计考虑因素(DMG-FD-SOI)
作者:
Jafar Norsyahida
;
Soin Norhayati
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
40.
Deposition and etching of diaphragm and sacrificial layer in novel MEMS capacitive microphone structure
机译:
新型MEMS电容式麦克风结构中的隔膜和牺牲层的沉积和蚀刻
作者:
Ganji Bahram Azizollah
;
Majlis Burhanuddin Yeop
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
Deposition;
Diaphragm;
Etching;
MEMS Microphone;
Sacrificial layer;
41.
Fabrication of thin layer membrane using CMOS process for very low pressure sensor applications
机译:
使用CMOS工艺制造薄层膜,用于非常低压传感器应用
作者:
Buyong Muhamad Ramdzan
;
Aziz Norazreen Abd
;
Majlis Burhanuddin Yeop
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
42.
Switching converter with highly stable delta-sigma modulator
机译:
具有高度稳定的Delta-Sigma调制器的开关转换器
作者:
Diwakar K.
;
Pari C.Senthil
;
Singh Ajay Kumar
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
43.
All-optical logic gates using diffraction grating fabricated by ion-exchange technique
机译:
使用离子交换技术制造的衍射光栅的全光学逻辑栅极
作者:
Samra A.S.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2008年
关键词:
Diffraction Grating;
all optical Logic gates;
optical switching;
44.
Electrical Characterization of Sub-100nm Features in Semiconductor Devices
机译:
半导体器件中的子100nm特征的电气表征
作者:
Liu Lerwen
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
45.
Studies on Failure Mechanism of ET High Via Resistance in Wafer Fabrication
机译:
晶圆制造中电阻电阻的η高机理研究
作者:
Hua Younan
;
Tan Sock Khim
;
Li Kun
;
Zhao Siping
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
46.
Analysis of Airborne Boron and Phosphorus Contaminations on Wafer Surface by TOF-SIMS
机译:
TOF-SIMS对晶片表面的空气硼和磷污染的分析
作者:
Zhiqiang Mo
;
Dong Gui
;
Younan Hua
;
Siping Zhao
;
Zhenxiang Xing
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
47.
Pulse Generation with Reduced Ringing for Ultra Wide Band Applications in Indoor Wireless Communication
机译:
用于室内无线通信中的超宽带应用的脉冲产生减少
作者:
Khan Sheroz
;
Alam A. H. M. Zahirul
;
Islam Mohammad Rafiqul
;
Khalifa Othman O
;
Adam Ismail
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
48.
Design Of Experiment (DOE) For Thickness Reduction Of GaAs Wafer Using Lapping Process
机译:
使用研磨过程设计GaAs晶片厚度降低的实验(DOE)
作者:
Mohd Khairy Othman
;
Asban Dolah
;
Nurul Afzan Omar
;
Mohamed Razman Yahya
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
49.
An FIB Method Using Progressive Multi-Cut Technique Application in Failure Analysis of Wafer Fabrication
机译:
一种使用渐进式多裁技术的FIB方法及应用在晶圆制造的故障分析中
作者:
Khoo Ley Hong
;
Hua Younan
;
Zhao Siping
;
Mo Zhiqiang
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
50.
Analysis of the Output Noise Voltage in CMOS Image Sensor Readout Circuit
机译:
CMOS图像传感器读出电路输出噪声电压分析
作者:
Yoon Youngchang
;
Lee Hochul
;
Park Byung-Gook
;
Lee Jong Duk
;
Shin Hyungcheol
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
51.
Application of Focus Ion Beam Circuit Edit in Failure Analysis
机译:
聚焦离子束电路编辑在故障分析中的应用
作者:
S. K. Loh
;
Teo H. T.
;
S. P. Neo
;
Z. G. Song
;
C. K. Oh
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
52.
Device Characteristics of HEMT Structures based on Backgate Contact Method
机译:
基于Backgate接触方法的HEMT结构的器件特性
作者:
Norman Fadhil Idham M.
;
Nurul Afzan O.
;
Hariyadi Soetedjo
;
Ahmad Ismat A. R.
;
Idris Sabtu
;
Mohamed Razman Y.
;
Abdul Fatah A. M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
53.
Pulse Generation with Reduced Ringing for Ultra Wide Band Applications in Indoor Wireless Communication
机译:
用于室内无线通信中的超宽带应用的脉冲产生减少
作者:
Sheroz Khan
;
A. H. M. Zahirul Alam
;
Mohammad Rafiqul Islam
;
Othman O Khalifa
;
Ismail Adam
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
54.
Effect of Indium Content in the Channel on the Electrical Performance of Metamorphic High Electron Mobility Transistors
机译:
通道铟含量对变质高电子迁移率晶体管电性能的影响
作者:
Norman Fadhil Idham M.
;
Ahmad Ismat A. I.
;
Rasidah S.
;
Asban D.
;
Mohamed Razman Y.
;
Abdul Fatah A. M.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
55.
Improved Booth Encoding for Reduced Area Multiplier
机译:
降低区域乘数的改进展位编码
作者:
Hussin Razaidi
;
Shakaff Ali Yeon Md.
;
Idris Norina
;
Ismail Rizalafande Che
;
Kamarudin Afzan
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
56.
Failure Analysis of A Unique Poly Defect
机译:
独特多缺陷的故障分析
作者:
S. P. Neo
;
Z. G. Song
;
C. K. Oh
;
S. P. Zhao
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
57.
Analysis of Airborne Boron and Phosphorus Contaminations on Wafer Surface by TOF-SIMS
机译:
TOF-SIMS对晶片表面的空气硼和磷污染的分析
作者:
Mo Zhiqiang
;
Gui Dong
;
Hua Younan
;
Zhao Siping
;
Xing Zhenxiang
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
58.
Failure Analysis Approach in Memory Failure of SOI Devices
机译:
SOI设备内存故障中的故障分析方法
作者:
Neo S. P.
;
Loh S. K.
;
Song Z. G.
;
Zhao S. P.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
59.
Optimization of the Temperature Sensor Position for MEMS Gas Flow Meters
机译:
MEMS气流计的温度传感器位置优化
作者:
AbbaspourSani E.
;
Javan D.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
60.
Application of Focus Ion Beam Circuit Edit in Failure Analysis
机译:
聚焦离子束电路编辑在故障分析中的应用
作者:
Loh S. K.
;
Teo HT
;
Neo S.P.
;
Song Z.G.
;
Oh C. K.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
61.
Studies on Failure Mechanism of ET High Via Resistance in Wafer Fabrication
机译:
晶圆制造中电阻电阻的η高机理研究
作者:
Younan Hua
;
Khim Tan Sock
;
Li Kun
;
Siping Zhao
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
62.
High-Precision Thickness Control of Silicon Membranes Using Etching Techniques
机译:
使用蚀刻技术的硅膜的高精度厚度控制
作者:
Mohsen Nabipoor
;
Burhanuddin Yeop Majlis
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
63.
Design Of Experiment (DOE) For Thickness Reduction Of GaAs Wafer Using Lapping Process
机译:
使用研磨过程设计GaAs晶片厚度降低的实验(DOE)
作者:
Othman Mohd Khairy
;
Dolah Asban
;
Omar Nurul Afzan
;
Yahya Mohamed Razman
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
64.
Optimization of the Temperature Sensor Position for MEMS Gas Flow Meters
机译:
MEMS气流计的温度传感器位置优化
作者:
E. AbbaspourSani
;
D. Javan
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
65.
Surface and Composition Reactivity of Pt/GaN Catalytic Contact as Schottky Barriers Gas Sensor
机译:
Pt / GaN催化接触的表面和成分反应性作为肖特基屏障气体传感器
作者:
Abdo Yahya Hudeish
;
Azlan Abdul Aziz
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
66.
Improved Booth Encoding for Reduced Area Multiplier
机译:
降低区域乘数的改进展位编码
作者:
Razaidi Hussin
;
Ali Yeon Md. Shakaff
;
Norina Idris
;
Rizalafande Che Ismail
;
Afzan Kamarudin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
67.
Failure Analysis Approach in Memory Failure of SOI Devices
机译:
SOI设备内存故障中的故障分析方法
作者:
S. P. Neo
;
S. K. Loh
;
Z. G. Song
;
S. P. Zhao
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
68.
Failure Analysis of A Unique Poly Defect
机译:
独特多缺陷的故障分析
作者:
Neo S.P.
;
Song Z.G.
;
Oh C.K
;
Zhao S. P.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
69.
High-Performance In{sub}0.52Al{sub}0.48As/In{sub}0.6Ga{sub}0.4As Power Metamorphic HEMT for Ka-Band Applications
机译:
在{sub} 0.52al {sub} 0.48as / in {sub} 0.6ga {sub} 0.4as电源变质HEMT为KA波段应用中的高性能
作者:
Chia-Yuan Chang
;
Edward Yi Chang
;
Yi-Chung Lien
;
Yasuyuki Miyamoto
;
Szu-Hung Chen
;
Li-Hsin Chu
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
70.
Analysis of the Output Noise Voltage in CMOS Image Sensor Readout Circuit
机译:
CMOS图像传感器读出电路输出噪声电压分析
作者:
Youngchang Yoon
;
Hochul Lee
;
Byung-Gook Park
;
Jong Duk Lee
;
Hyungcheol Shin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
71.
Auger PID Characterization of Threshold Voltage Shift and Application in Bond pad Monitoring of Wafer Fabrication
机译:
螺母PID表征阈值电压换档及应用在晶圆制造的粘接焊盘监测中的应用
作者:
Marcus Tan Y. H.
;
Hua Younan
;
Ling Timothy
;
Zhao Siping
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
72.
An FIB Method Using Progressive Multi-Cut Technique Application in Failure Analysis of Wafer Fabrication
机译:
一种使用渐进式多裁技术的FIB方法及应用在晶圆制造的故障分析中
作者:
Hong Khoo Ley
;
Younan Hua
;
Siping Zhao
;
Zhiqiang Mo
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
73.
Design and Nonlinear Analysis of High-Gain and Broad-Band Distributed Power Amplifier with Traveling-Wave Gain Stages By Harmonic Balance Method
机译:
高增益和宽带分布式功率放大器的设计与非线性分析,谐波增益级谐波平衡法
作者:
S. Asadi
;
A. Abdipour
;
A. Tavakoli
;
G. Moradi
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
74.
Device Characteristics of HEMT Structures based on Backgate Contact Method
机译:
基于Backgate接触方法的HEMT结构的器件特性
作者:
Idham M Norman Fadhil
;
Afzan O Nurul
;
Soetedjo Hariyadi
;
Ismat A.R. Ahmad
;
Sabtu Idris
;
Razman Y. Mohamed
;
Fatah A.M. Abdul
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
75.
Auger PID Characterization of Threshold Voltage Shift and Application in Bond pad Monitoring of Wafer Fabrication
机译:
螺母PID表征阈值电压换档及应用在晶圆制造的粘接焊盘监测中的应用
作者:
Tan YH Marcus
;
Younan Hua
;
Timothy Ling
;
Siping Zhao
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
76.
High-Performance In0.52Al0.48As/In0.6Ga0.4As Power Metamorphic HEMT for Ka-Band Applications
机译:
高性能IN0.52AL0.48AS / IN0.6GA0.4AS电源变质HEMT为KA波段应用
作者:
Chang Chia-Yuan
;
Chang Edward Yi
;
Lien Yi-Chung
;
Miyamoto Yasuyuki
;
Chen Szu-Hung
;
Chu Li-Hsin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
77.
High-Precision Thickness Control of Silicon Membranes Using Etching Techniques
机译:
使用蚀刻技术的硅膜的高精度厚度控制
作者:
Nabipoor Mohsen
;
Majlis Burhanuddin Yeop
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
78.
Front End Defects on Deep Submicron Devices
机译:
深度亚微米器件上的前端缺陷
作者:
S. P. Neo
;
S. K. Loh
;
Z. G. Song
;
S. P. Zhao
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
79.
Front End Defects on Deep Submicron Devices
机译:
深度亚微米器件上的前端缺陷
作者:
Neo S. P.
;
Loh S. K.
;
Song Z. G.
;
Zhao S. P.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
80.
Design and Nonlinear Analysis of High-Gain and Broad-Band Distributed Power Amplifier with Traveling-Wave Gain Stages By Harmonic Balance Method
机译:
高增益和宽带分布式功率放大器的设计与非线性分析,谐波增益级谐波平衡法
作者:
Asadi S.
;
Abdipour A.
;
Tavakoli A.
;
Moradi G.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
81.
Surface and Composition Reactivity of Pt/GaN Catalytic Contact as Schottky Barriers Gas Sensor
机译:
Pt / GaN催化接触的表面和成分反应性作为肖特基屏障气体传感器
作者:
Hudeish Abdo Yahya
;
Aziz Azlan Abdul
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
82.
Integrated LC VCO Compatible with Memory Process for Gigahertz Clock Generation
机译:
集成的LC VCO兼容Gigahertz时钟的内存过程
作者:
Choi Minseok
;
Jung Youngho
;
Yoon Yeo Jo
;
Kim Young-Wug
;
Shin Hyungcheol
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
83.
Integrated LC VCO Compatible with Memory Process for Gigahertz Clock Generation
机译:
集成的LC VCO兼容Gigahertz时钟的内存过程
作者:
Minseok Choi
;
Youngho Jung
;
Yeo Jo Yoon
;
Young-Wug Kim
;
Hyungcheol Shin
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
84.
Device Design Consideration for Nanoscale MOSFET Using Semiconductor TCAD Tools
机译:
用于使用半导体TCAD工具的纳米级MOSFET的设备设计考虑
作者:
Teoh Chin Hong
;
Razali Ismail
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
85.
A Highly Compatible Architecture Design for Optimum FPGA to Structured-ASIC Migration
机译:
一种高度兼容的架构设计,用于最佳FPGA到结构化 - ASIC迁移
作者:
Hee Kong Phoon
;
Matthew Yap
;
Chuan Khye Chai
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
86.
The Use of Photoluminescence Spectra of TiO{sub}2 Nanoparticles Coated With Porphyrin Dye Thin Film for Grading Agarwood Oil
机译:
用卟啉染料薄膜涂覆的TiO {Sub} 2纳米颗粒的用光致发光光谱用作等级伞菌油
作者:
Nurul Huda Yusoff
;
Muhamad Mat Salleh
;
Muhammad Yahaya
;
Mat Rasol Awang
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
87.
VLSI Implementation of 1/2 Viterbi Decoder for IEEE P802.15-3a UWB Communication
机译:
用于IEEE P802.15-3A UWB通信的1/2维特比解码器的VLSI实现
作者:
Meilana Siswanto
;
Masuri Othman
;
Edmond Zahedi
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
关键词:
Viterbi algorithm;
Viterbi decoder;
Convolutional encoder;
VLSI design;
88.
Simulation of Piezo-Resistive Metal Gauge on Rectangular Membrane for Low Pressure Application
机译:
低压应用矩形膜压电金属计的仿真
作者:
Mohd Yunus Hamid
;
Thangamani U.
;
P. R. Vaya
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
89.
A Novel Method to Design Interstage Matching Network in the Smith Chart
机译:
一种在史密斯图中设计竞争网络的新方法
作者:
M. Rezvani Abkenari
;
M. Tayarani
;
A. Abdipour
;
H. Kiumarsi
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
90.
Photolithography Process Improvement for Thick Implant Resist Using 120掳C Post-Apply Bake
机译:
使用120℃施加烘烤的光刻工艺改进厚植入物抗蚀剂
作者:
Yet S.I.
;
Goh E.C.
;
Lim Faith
;
Ling A.E.
;
Lee B.C.
;
Ng Y.K.
;
Sheu W.B.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
关键词:
CD;
Overlay;
post-apply bake;
post-exposure bake;
residue;
resist;
91.
A Highly Compatible Architecture Design for Optimum FPGA to Structured-ASIC Migration
机译:
一种高度兼容的架构设计,用于最佳FPGA到结构化 - ASIC迁移
作者:
Phoon Hee Kong
;
Yap Matthew
;
Chai Chuan Khye
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
92.
FPGA Implementation of a Canonical Signed Digit Multiplier-less based FFT Processor for Wireless Communication Applications
机译:
FPGA实现了用于无线通信应用的规范符号数乘法器的FFT处理器
作者:
Benhamid Mahmud
;
Othman Masuri
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
93.
Characterization of Si3N4 Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitors for Monolithic Microwave Integrated Circuits (MMIC) Applications
机译:
单片微波集成电路(MMIC)应用的Si3N4金属绝缘体 - 金属(MIM)电容器的表征
作者:
Lee Hock Guan
;
Osman Mohd Nizam
;
Dolah Asban
;
Rahim Ahmad Ismat Abdul
;
Yahya Mohamed Razman
;
Mat Abdul Fatah Awang
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
94.
A Hydrogel-based Microvalve for Insulin Delivery Application
机译:
用于胰岛素递送应用的水凝胶基微仪
作者:
Tehranirokh Masoomeh
;
Bais Badariah
;
Majlis Burhanuddin Yeop
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
95.
Characterization of Si{sub}3N{sub}4 Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitors for Monolithic Microwave Integrated Circuits (MMIC) Applications
机译:
用于单片微波集成电路(MMIC)应用的Si {Sub} 3N {Sub} 4金属绝缘体 - 金属(MIM)电容器的表征
作者:
Lee Hock Guan
;
Mohd Nizam Osman
;
Asban Dolah
;
Ahmad Ismat Abdul Rahim
;
Mohamed Razman Yahya
;
Abdul Fatah Awang Mat
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
96.
Fabrication of a Single Carbon Nano Tube for use in Nanolithography of MOSFET Gate
机译:
用于MOSFET闸门纳米刻度的单个碳纳米管的制造
作者:
Karamdel J.
;
Talebi N.
;
Sattari M.
;
Derakhshandeh J.
;
Ayatollahi F.L.
;
Farrokhi A.
;
Hadi A.R.
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
97.
A Realistic March-12N Test And Diagnosis Algorithm For SRAM Memories
机译:
SRAM存储器的现实3月12W-12N测试与诊断算法
作者:
Hasan Wan Zuha Wan
;
Othman Masuri
;
Suparjo Bambang Sunaryo
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
98.
New I-V Model For AlGaN/GaN HEMT At Large Gate Bias
机译:
大型栅极偏置的Algan / GaN HEMT的新I-V型号
作者:
El-Abd Ali
;
Aziz M. Abdel
;
Shalby Abdel Aziz
;
Khamis Salah
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
99.
Silicon Chip Removal Technique Using Wet Etching Process for Failure Analysis on Multi-Chip Packages (MCP)
机译:
硅芯片去除技术使用湿法蚀刻工艺进行多芯片封装失效分析(MCP)
作者:
Mohamed Shamsul
;
Saad Rodzaki
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
100.
The Use of Photoluminescence Spectra of TiO2 Nanoparticles Coated With Porphyrin Dye Thin Film for Grading Agarwood Oil
机译:
用卟啉染料薄膜涂覆的TiO2纳米粒子的光致发光光谱用途进行分级伞状油
作者:
Yusoff Nurul Huda
;
Salleh Muhamad Mat
;
Yahaya Muhammad
;
Awang Mat Rasol
会议名称:
《IEEE International Conference on Semiconductor Electronics》
|
2006年
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