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International Symposium on Quality Electronic Design
International Symposium on Quality Electronic Design
召开年:
2013
召开地:
Santa Clara, CA(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1986
条结果
1.
Electrical and thermal analysis for design exchange formats in three dimensional integrated circuits
机译:
三维集成电路设计交换格式的电气和热分析
作者:
Bazaz Rishik
;
Xie Jianyong
;
Swamnathan Madhavan
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Design Exchange Format (DEF);
Intellectual Property (IP);
Power Delivery Network (PDN);
Three Dimensional Integrated Circuits (3D ICs);
Through Silicon Vias (TSVs);
2.
Design of ultra high density and low power computational blocks using nano-magnets
机译:
使用纳米磁铁设计超高密度和低功耗计算块
作者:
Sharad Mrigank
;
Yogendra Karthik
;
Kon-Woo Kwon
;
Roy Kaushik
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
3-D;
circuit design;
logic design;
low power design;
magnets;
spin torque;
3.
A system-level solution for managing spatial temperature gradients in thinned 3D ICs
机译:
一种用于管理变薄3D IC中的空间温度梯度的系统级解决方案
作者:
Annamalai Arunachalam
;
Kumar Raghavan
;
Vijayakumar Arunkumar
;
Kundu Sandip
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
3D IC;
dynamic Thermal Management;
dynamic voltage and frequency scaling (DVFS);
spatial gradient;
thread migration;
4.
VERVE: A framework for variation-aware energy efficient synthesis of NoC-based MPSoCs with voltage islands
机译:
Verve:具有电压岛的基于NOC的MPSOC的变异能量效率合成的框架
作者:
Kapadia Nishit
;
Pasricha Sudeep
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
NoC synthesis;
System-level CAD;
computation energy;
core mapping;
multi-core systems;
process variations;
5.
Flexible data allocation for scratch-pad memories to reduce NBTI effects
机译:
灵活的数据分配用于降低NBTI效果的刮擦存储器
作者:
Papagiannopoulou Dimitra
;
Prasertsom Patipan
;
Bahar Iris
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Aging;
Data Allocation;
Energy Efficiency;
NBTI;
SRAM;
Scratchpad memory;
6.
Thermal-aware semi-dynamic power management for multicore systems with energy harvesting
机译:
具有能量收集的多核系统的热感知半动态电源管理
作者:
Yi Xiang
;
Pasricha Sudeep
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Energy harvesting;
power management;
task scheduling;
7.
Effect-cause intra-cell diagnosis at transistor level
机译:
晶体管电平的效果导致细胞内诊断
作者:
Sun Zhenzhou
;
Bosio Alberto
;
Dilillo Luigi
;
Girard Patrick
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Effect-Cause Approach;
Failure Analysis;
Intra-Cell Diagnosis;
8.
Reliability-aware and energy-efficient synthesis of NoC based MPSoCs
机译:
可靠性感知和节能合成NOC基础的MPSOC
作者:
Yong Zou
;
Pasricha Sudeep
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Network-on-chip;
energy;
reliability;
synthesis;
9.
Energy-aware coarse-grained reconfigurable architectures using dynamically reconfigurable isolation cells
机译:
使用动态可重新配置的隔离单元的能量感知粗粒可重新配置架构
作者:
Jafri Syed.M.A.H.
;
Bag Ozan
;
Hemani Ahmed
;
Farahini Nasim
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
10.
Enabling sizing for enhancing the static noise margins
机译:
支持提高静态噪声边距的尺寸
作者:
Beiu Valeriu
;
Beg Azam
;
Ibrahim Walid
;
Kharbash Fekri
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
CMOS;
logic gates;
sizing;
static noise margin;
11.
Stochastic behavioral modeling of analog/mixed-signal circuits by maximizing entropy
机译:
最大化熵通过模拟/混合信号电路的随机行为建模
作者:
Krishnan Rahul
;
Wei Wu
;
Gong Fang
;
He Lei
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
12.
A virtualization approach for MIPS-based MPSoCs
机译:
基于MIPS的MPSOC虚拟化方法
作者:
Aguiar Alexandra
;
Moratelli Carlos
;
Sartori Marcos L.L.
;
Hessel Fabiano
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
13.
Peak power reduction of a sensor network processor fabricated with Deeply Depleted Channel transistors in 65nm technology
机译:
在65nm技术中使用深度耗尽的通道晶体管制造的传感器网络处理器的峰值功率降低
作者:
Kawakami Kentaro
;
Shiro Takeshi
;
Yamasaki Hironobu
;
Yoda Katsuhiro
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Deeply Depleted Channel (DDC) transistor;
sensor network processor;
supply voltage margin;
threshold voltage variation;
14.
Hybrid CMOS-TFET based register files for energy-efficient GPGPUs
机译:
基于混合CMOS-TFET的寄存器文件,用于节能GPGPUS
作者:
Zhi Li
;
Jingweijia Tan
;
Xin Fu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Tunneling field effect transistors;
energy efficiency;
general-purpose computing on graphics processing units;
15.
A novel flow for reducing clock skew considering NBTI effect and process variations
机译:
考虑NBTI效应和过程变化,减少时钟偏斜的新颖流程
作者:
Chen Jifeng
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Aging;
Clock Skew;
Clock Tree;
Process Variations;
16.
TSV-aware topology generation for 3D Clock Tree Synthesis
机译:
TSV感知拓扑生成3D时钟树合成
作者:
Wulong Liu
;
Haixiao Du
;
Yu Wang
;
Yuchun Ma
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
3D CTS;
TSV-to-TSV coupling;
clock tree topology generation;
17.
Reliability-constrained die stacking order in 3DICs under manufacturing variability
机译:
在制造变异性下,3DICS中可靠性受限的模具堆叠顺序
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
18.
Reliable Express-Virtual-Channel-based network-on-chip under the impact of technology scaling
机译:
基于明确的频道的基于网络上的网络上的电脑在技术缩放的影响下
作者:
Fu Xin
;
Li Tao
;
Fortes Jose
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Network-on-chip (NoC);
express virtual channel (EVC);
hardware reliability;
negative biased temperature instability (NBTI);
process variation;
19.
Early system level modeling of real-time applications on embedded platforms
机译:
嵌入式平台实时应用的早期系统级模型
作者:
Lee Richard
;
Abdel-Khalek Karim
;
Abdi Samar
;
Risacher Frederic
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Embedded systems;
RTOS modeling;
Real-time software;
System level modeling;
SystemC;
20.
High-speed DFG-level SEU vulnerability analysis for applying selective TMR to resource-constrained CGRA
机译:
高速DFG级SEU脆弱性分析,用于应用选择性TMR以资源约束的CGRA
作者:
Imagawa Takashi
;
Tsutsui Hiroshi
;
Ochi Hiroyuki
;
Sato Takashi
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
coarse-grained reconfigurable architecture;
reliability;
single event upset;
soft error;
triple modular redundancy;
21.
Efficient translation validation of high-level synthesis
机译:
高级合成的高效翻译验证
作者:
Tun Li
;
Yang Guo
;
Wanwei Liu
;
Chiyuan Ma
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Bisimulation;
High Level Synthesis;
Translation Validation;
22.
Framework for analog test coverage
机译:
模拟测试覆盖框架
作者:
Bhatta Debesh
;
Mukhopadhyay Ishita
;
Natarajan Suriyaprakash
;
Goteti Prashant
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Manufacturing test;
analog;
defects;
fault coverage;
fault model;
fault simulation;
mixed-signal;
parametric faults;
23.
SRAM bit-line electromigration mechanism and its prevention scheme
机译:
SRAM位线电迁移机制及其预防方案
作者:
Zhong Guan
;
Marek-Sadowska Malgorzata
;
Nassif Sani
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Electromigration;
SRAM;
bit-line;
optimization;
24.
LMgr: A low-M emory global router with dynamic topology update and bending-aware optimum path search
机译:
lmgr:一个低m个emory全局路由器,具有动态拓扑更新和弯曲感知的最佳路径搜索
作者:
Jingwei Lu
;
Chiu-Wing Sham
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
25.
On the interactions between real-time scheduling and inter-thread cached interferences for multicore processors
机译:
关于多核处理器实时调度与线程间缓存干扰的交互
作者:
Yiqiang Ding
;
Zhang Wei
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Multicore Processor;
Real-Time Scheduling;
WCET;
26.
Hierarchical dynamic power management using model-free reinforcement learning
机译:
使用无模型强化学习的分层动态电源管理
作者:
Wang Yanzhi
;
Triki Maryam
;
Xue Lin
;
Ammari Ahmed C.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Bayesian classification;
Dynamic power management;
reinforcement learning;
27.
A cost-effective 45nm 6T-SRAM reducing 50mV Vmin and 53 standby leakage with multi-Vt asymmetric halo MOS and write assist circuitry
机译:
一种经济高效的45nm 6T-SRAM,使用多Vt非对称halo MOS和写辅助电路,可减少50mV Vmin和53的备用泄漏
作者:
Nii Koji
;
Yabuuchi Makoto
;
Fujiwara Hidehiro
;
Tsukamoto Yasumasa
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
45nm;
6T;
Assist;
Asymmetric halo;
SNM;
SRAM;
28.
Application-driven power efficient ALU design methodology for modern microprocessors
机译:
应用驱动的现代微处理器节能ALU设计方法
作者:
Gong Na
;
Wang Jinhui
;
Sridhar Ramalingam
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
ALU;
application-driven;
delay;
dynamic circuits;
power;
29.
System-level optimization and benchmarking for InAs nanowire based gate-all-around tunneling FETs
机译:
InAs纳米线栅全隧穿FET的系统级优化和基准测试
作者:
Pan Chenyun
;
Ceyhan Ahmet
;
Naeemi Azad
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
Tunneling FET;
energy amp;
x00D7;
execution time;
throughput;
30.
A power-efficient on-chip linear regulator assisted by switched capacitors for fast transient regulation
机译:
一种基于开关电容的快速暂态调节片上线性稳压器
作者:
Lai Suming
;
Li Peng
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
On-chip regulator;
fast transient response;
power efficient;
31.
Fast reliability exploration for embedded processors via high-level fault injection
机译:
基于高级故障注入的嵌入式处理器可靠性快速探索
作者:
Wang Zheng
;
Chen Chao
;
Chattopadhyay Anupam
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
ADL-based Design;
High Level Fault Injection;
Reliability Exploration;
32.
Sustainable dual-level DVFS-enabled NoC with on-chip wireless links
机译:
具有片上无线链路的支持DVFS的可持续双电平NoC
作者:
Murray Jacob
;
Hegde Rajath
;
Teng Lu
;
Pande Partha Pratim
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
DVFS;
Latency;
Power;
Thermal;
WiNoC;
33.
Manufacturable nanometer designs using standard cells with regular layout
机译:
使用规则布局的标准单元进行可制造的纳米设计
作者:
Subramaniyan Kasyab P.
;
Larsson-Edefors Per
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2013年
关键词:
DFM;
Lithography;
Manufacturability;
Regular Fabrics;
Regularity;
Standard Cells;
34.
Bit error rate estimation in SRAM considering temperature fluctuation
机译:
考虑温度波动的SRAM误码率估计
作者:
Kagiyama Y.
;
Okumura S.
;
Yanagida K.
;
Yoshimoto S.
;
Nakata Y.
;
Izumi S.
;
Kawaguchi H.
;
Yoshimoto M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
35.
A 40-nm 256-Kb 0.6-V operation half-select resilient 8T SRAM with sequential writing technique enabling 367-mV VDDmin reduction
机译:
40nm 256-kB 0.6-V操作半选择弹性8T SRAM,具有连续写入技术,可降低367mV VDDMIN减少
作者:
Terada M.
;
Yoshimoto S.
;
Okumura S.
;
Suzuki T.
;
Miyano S.
;
Kawaguchi H.
;
Yoshimoto M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
36.
Design issues and insights of multi-fin bulk silicon FinFETs
机译:
多鳍散装硅FINFET的设计问题和见解
作者:
Hsun Li
;
Meng-Hsueh Chiang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
37.
Maintaining Power Integrity by damping the cavity-mode anti-resonances' peaks on a power plane by Particle Swarm Optimization
机译:
通过通过粒子群优化抑制电源平面上的空腔模式防振的峰值来保持功率完整性
作者:
Tripathi J.N.
;
Nagpal R.K.
;
Chhabra N.K.
;
Malik R.
;
Mukherjee J.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
38.
An accurate current source model for CMOS based combinational logic cell
机译:
基于CMOS组合逻辑单元的精确电流源模型
作者:
Kaur B.
;
Vundavalli S.
;
Manhas S.K.
;
Dasgupta S.
;
Anand B.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
39.
Chip-package power delivery network resonance analysis and co-design using time and frequency domain analysis techniques
机译:
芯片封装电力输送网络共振分析和使用时间和频域分析技术的共设计
作者:
Watkins J.
;
Pollayil J.
;
Chow C.
;
Sarkar A.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
40.
High performance electrical driven hotspot detection solution for full chip design using a novel device parameter matching technique
机译:
使用新型设备参数匹配技术进行高性能电驱动热点检测解决方案,用于全芯片设计
作者:
Salem R.F.
;
Al-Imam M.
;
ElMously A.
;
Eissa H.
;
Arafa A.
;
Anis M.H.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
41.
Process variation tolerant 9T SRAM bitcell design
机译:
过程变化容忍9T SRAM位单元设计
作者:
Reddy G.K.
;
Jainwal K.
;
Singh J.
;
Mohanty S.P.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
42.
Self-heating effects in gate-all-around silicon nanowire MOSFETs: Modeling and analysis
机译:
门 - 全部硅纳米线MOSFET中的自热效果:建模与分析
作者:
Xin Huang
;
Tianwei Zhang
;
Rusheng Wang
;
Changze Liu
;
Yuchao Liu
;
Ru Huang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
43.
Placement aware clock gate cloning and redistribution methodology
机译:
放置意识时钟门克隆和再分配方法
作者:
Vishweshwara R.
;
Mahita N.
;
Venkatraman R.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
44.
Quasi-Planar Tri-gate (QPT) bulk CMOS technology for single-port SRAM application
机译:
用于单端口SRAM应用的准平面Tri-Gate(QPT)批量CMOS技术
作者:
Tsukamoto Y.
;
Yabuuchi M.
;
Fujiwara H.
;
Nii K.
;
Changhwan Shin
;
Tsu-Jae King Liu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
45.
Impact of transistor aging effects on sense amplifier reliability in nano-scale CMOS
机译:
晶体管老化效应对纳米CMOS读出放大器可靠性影响的影响
作者:
Menchaca R.
;
Mahmoodi H.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
46.
A scalable curve-fit model of the substrate coupling resistances for IC design
机译:
IC设计的基板耦合电阻的可扩展曲线拟合模型
作者:
Gurugubelli V.K.
;
Karmalkar S.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
47.
Metamodel-assisted ultra-fast memetic optimization of a PLL for WiMax and MMDS applications
机译:
用于WiMAX和MMDS应用的PLL的Metomodel辅助超快速膜优化
作者:
Garitselov O.
;
Mohanty S.P.
;
Kougianos E.
;
Okobiah O.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
48.
Optimal microarchitectural design configuration selection for processor hard-error reliability
机译:
优化的微架构设计配置选择,用于处理器硬误差可靠性
作者:
Ying Zhang
;
Lide Duan
;
Bin Li
;
Lu Peng
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
49.
Physical-design-friendly hierarchical logic built-in self-test—A case study
机译:
物理设计友好的等级逻辑内置自我测试 - 一个案例研究
作者:
Nelson K.
;
Shanmugavadivelu J.
;
Mekkoth J.
;
Ghanta V.
;
Jun Wu
;
Fe Zhuang
;
Hao-Jan Chao
;
Shianling Wu
;
Jie Rao
;
Lizhen Yu
;
Laung-Terng Wang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
50.
Process induced mechanical stress aware poly-pitch optimization for enhanced circuit performance
机译:
工艺诱导机械应力意识到多音调优化,提高电路性能
作者:
Alam N.
;
Anand B.
;
Dasgupta S.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
51.
Ordinary Kriging metamodel-assisted Ant Colony algorithm for fast analog design optimization
机译:
普通的Kriging Metomodel辅助蚁群群体快速模拟设计优化
作者:
Okobiah O.
;
Mohanty S.P.
;
Kougianos E.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
52.
A highly reliable SEU hardened latch and high performance SEU hardened flip-flop
机译:
高度可靠的SEU硬化闩锁和高性能SEU硬化触发器
作者:
Islam R.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
53.
TSV and DFT cost aware circuit partitioning for 3D-SOCs
机译:
TSV和DFT成本意识到3D SoC的电路分区
作者:
Kumar A.
;
Reddy S.M.
;
Pomeranz I.
;
Becker B.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
54.
CMOS op-amp circuit synthesis with geometric programming models for layout-dependent effects
机译:
CMOS OP-AMP电路合成,具有用于布局依赖效果的几何编程模型
作者:
Yu Zhang
;
Bo Liu
;
Bo Yang
;
Jing Li
;
Nakatake S.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
55.
A Particle Swarm Optimization approach for synthesizing application-specific hybrid photonic networks-on-chip
机译:
粒子群优化方法,用于综合应用特定的混合电网片
作者:
Bahirat S.
;
Pasricha S.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
56.
Full-chip thermal analysis of 3D ICs with liquid cooling by GPU-accelerated GMRES method
机译:
GPU加速GMRES法用液体冷却3D IC的全芯片热分析
作者:
Xue-Xin Liu
;
Zao Liu
;
Tan S.X.-D.
;
Gordon J.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
57.
A DyadicCluster method used for nonlinear placement
机译:
一种用于非线性放置的二元聚集方法
作者:
Wenchao Gao
;
Qiang Zhou
;
Xu Qian
;
Yici Cai
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
58.
An area efficient on-chip hybrid voltage regulator
机译:
区域高效的片上混合电压调节器
作者:
Kose S.
;
Friedman E.G.
;
Tarn S.
;
Pinzon S.
;
McDermott B.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
59.
A self-testable SiGe LNA and Built-in-Self-Test methodology for multiple performance specifications of RF amplifiers
机译:
用于RF放大器的多种性能规格的自验证SiGe LNA和内置自测方法
作者:
Goyal A.
;
Swaminathan M.
;
Chatterjee A.
;
Howard D.
;
Cressler J.D.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
60.
A new voltage binning technique for yield improvement based on graph theory
机译:
基于曲线图理论的产量改善新型电压镀粉技术
作者:
Ruijing Shen
;
Tan S.X.-D.
;
Xue-Xin Liu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
61.
24 Power reduction by post-fabrication dual supply voltage control of 64 voltage domains in VDDmin limited ultra low voltage logic circuits
机译:
通过vddmin限制超低电压逻辑电路中的64个电压域的制造双电源电压控制24%的功率降低
作者:
Yasufuku T.
;
Hirairi K.
;
Yu Pu
;
Yun Fei Zheng
;
Takahashi R.
;
Sasaki M.
;
Fuketa H.
;
Muramatsu A.
;
Nomura M.
;
Shinohara H.
;
Takamiya M.
;
Sakurai T.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
62.
A 3D IC designs partitioning algorithm with power consideration
机译:
具有功率考虑的3D IC设计分区算法
作者:
Ho-Lin Chang
;
Hsiang-Cheng Lai
;
Tsu-Yun Hsueh
;
Wei-Kai Cheng
;
Chi M.C.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
63.
Comparison of variations in MOSFET versus CNFET in gigascale integrated systems
机译:
MOSFET在吉斯卡尔集成系统中的MOSFET与CNFET的比较
作者:
Shahi A.A.M.
;
Zarkesh-Ha P.
;
Elahi M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
64.
Hierarchical power network synthesis for multiple power domain designs
机译:
多个功率域设计的分层电网合成
作者:
Chieh-Jui Lee
;
Liu S.S.-Y.
;
Chuan-Chia Huang
;
Hung-Ming Chen
;
Chang-Tzu Lin
;
Chia-Hsin Lee
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
65.
A variation and energy aware ILP formulation for task scheduling in MPSoC
机译:
MPSOC任务调度的变体和能量意识到ILP制定
作者:
Ghorbani M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
66.
A design-for-test apparatus for measuring on-chip temperature with fine granularity
机译:
一种用于测量芯片温度的测试设备,具有细粒度
作者:
Tandon J.S.
;
Sasaki M.
;
Ikeda M.
;
Asada K.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
67.
A novel robust signaling scheme for high-speed low-power communication over long wires
机译:
用于长线高速低功耗通信的新型鲁棒信号方案
作者:
Dave M.
;
Baghini M.S.
;
Sharma D.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
68.
Statistical observations of NBTI-induced threshold voltage shifts on small channel-area devices
机译:
NBTI引起的阈值电压在小沟道区设备上的统计观察
作者:
Sato T.
;
Awano H.
;
Shimizu H.
;
Tsutsui H.
;
Ochi H.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
69.
NoC-based platform for embedded software design: An extension of the Hellfire Framework
机译:
基于NOC的嵌入式软件设计平台:Hellfire框架的扩展
作者:
Magalhaes F.G.
;
Longhi O.
;
Filho S.J.
;
Aguiar A.
;
Hessel F.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
70.
Register binding and domain assignment for multi-domain clock skew scheduling-aware high-level synthesis
机译:
寄存器绑定和域分配用于多域时钟偏斜调度感知高级合成
作者:
Inoue K.
;
Kaneko M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
71.
Thermal via structural design in three-dimensional integrated circuits
机译:
通过三维集成电路的结构设计热量
作者:
Hwang L.
;
Lin K.L.
;
Wong M.D.F.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
72.
Algorithmic study on the routing reliability problem
机译:
路由可靠性问题的算法研究
作者:
Qiang Ma
;
Zigang Xiao
;
Wong M.D.F.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
73.
Low complexity cross parity codes for multiple and random bit error correction
机译:
低复杂性交叉奇偶校验码,用于多个和随机误码纠错
作者:
Poolakkaparambil M.
;
Mathew J.
;
Jabir A.M.
;
Mohanty S.P.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
74.
Dynamically biased low power high performance 3.3V output buffer in a single well bulk CMOS 1.8V oxide 45nm process
机译:
在单孔批量CMOS 1.8V氧化物45nm过程中动态偏置低功率高性能3.3V输出缓冲器
作者:
Rajagopal K.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
75.
Functional composition: A new paradigm for performing logic synthesis
机译:
功能组合物:用于执行逻辑合成的新范式
作者:
Martins M.G.A.
;
Ribas R.P.
;
Reis A.I.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
76.
A preliminary study on system-level impact of persistent main memory
机译:
持久主记忆系统级别影响的初步研究
作者:
Perez T.
;
Calazans N.L.V.
;
De Rose C.A.F.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
77.
A novel sample reuse methodology for fast statistical simulations with applications to manufacturing variability
机译:
一种新的样本重用方法,用于快速统计模拟,应用于制造变异性
作者:
Kanj R.
;
Joshi R.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
78.
Vertical Slit Field Effect Transistor in ultra-low power applications
机译:
超低功耗应用中的垂直狭窄场效应晶体管
作者:
Xiang Qiu
;
Marek-Sadowska M.
;
Maly W.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
79.
Transistor channel decomposition for structured analog layout, manufacturability and low-power applications
机译:
结构化模拟布局的晶体管通道分解,可制造性和低功耗应用
作者:
Qing Dong
;
Bo Yang
;
Gong Chen
;
Jing Li
;
Nakatake S.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
80.
Impact of C-elements in asynchronous circuits
机译:
异步电路中C元素的影响
作者:
Moreira M.
;
Oliveira B.
;
Moraes F.
;
Calazans N.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
81.
An analytical approach to efficient circuit variability analysis in scaled CMOS design
机译:
缩放CMOS设计中有效电路变化分析的分析方法
作者:
Gummalla S.
;
Subramaniam A.R.
;
Cao Y.
;
Chakrabarti C.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
82.
Transaction-based post-silicon debug of many-core System-on-Chips
机译:
基于事务的许多硅胶调试许多核心系统 - 芯片
作者:
Gharehbaghi A.M.
;
Fujita M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
83.
Partitioning and dynamic mapping evaluation for energy consumption minimization on NoC-based MPSoC
机译:
基于NOC的MPSOC能耗最小化的分区和动态映射评估
作者:
Antunes E.
;
Soares M.
;
Aguiar A.
;
Johann F.S.
;
Sartori M.
;
Hessel F.
;
Marcon C.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
84.
Post-placement lithographic hotspot detection and removal in one-dimensional gridded designs
机译:
放置后光刻热点检测和拆卸一维网格设计
作者:
Wuu J.
;
Simmons M.
;
Marek-Sadowska M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
85.
Methodology for analysis of TSV stress induced transistor variation and circuit performance
机译:
用于分析TSV应力诱导晶体管变化和电路性能的方法
作者:
Li Yu
;
Wen-Yao Chang
;
Kewei Zuo
;
Wang J.
;
Yu D.
;
Boning D.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
86.
A top-down design methodology using virtual platforms for concept development
机译:
使用虚拟平台进行概念开发的自上而下的设计方法
作者:
Shah M.
;
Mears B.
;
Chakrabarti C.
;
Spanias A.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
87.
DRC-free high density layout exploration with layout morphing and patterning quality assessment, with application to SRAM
机译:
无DRC的高密度布局探索,与布局变形和图案化质量评估,应用于SRAM
作者:
Singhee A.
;
Acar E.
;
Younus M.I.
;
Singh R.N.
;
Bansal A.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
88.
Design and optimization of power gating for DVFS applications
机译:
DVFS应用的功率门控设计与优化
作者:
Tong Xu
;
Peng Li
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
89.
Process variation aware DRAM design using block based adaptive body biasing algorithm
机译:
使用基于块的自适应体偏置算法进行处理变化感知DRAM设计
作者:
Desai S.
;
Roy S.
;
Chakraborty K.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
90.
Design quality tradeoff studies for 3D ICs built with nano-scale TSVs and devices
机译:
用纳米尺寸TSV和设备构建的3D IC设计质量权衡研究
作者:
Kaiyuan Yang
;
Dae Hyun Kim
;
Sung Kyu Lim
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
91.
Monitoring and timing prediction in early analyzing and checking performance of interconnection networks at ESL
机译:
ESL互联网络互连网络的早期分析和检查性能监测和定时预测
作者:
Mao-Yin Wang
;
Jen-Chieh Yeh
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
92.
Interconnect analysis in spin-torque devices: Performance modeling, sptimal repeater insertion, and circuit-size limits
机译:
旋转扭矩装置中的互连分析:性能建模,空间中继器插入和电路尺寸限制
作者:
Rakheja S.
;
Naeemi A.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
93.
Clock mesh framework
机译:
时钟网格框架
作者:
Chakrabarti P.
;
Bhatt V.
;
Hill D.
;
Aiqun Cao
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
94.
History Variation Trained Cache (HVT-Cache): A process variation aware and fine grain voltage scalable cache with active access history monitoring
机译:
历史和变化训练缓存(HVT-Cache):具有活动访问历史监控的过程变化感知和细晶粒电压可伸缩缓存
作者:
Sasan A.
;
Homayoun H.
;
Amiri K.
;
Eltawil A.
;
Kudahi F.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
95.
DDRO: A novel performance monitoring methodology based on design-dependent ring oscillators
机译:
DDRO:基于设计依赖环形振荡器的新型性能监测方法
作者:
Tuck-Boon Chan
;
Gupta P.
;
Kahng A.B.
;
Liangzhen Lai
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
96.
Efficient leakage power saving by sleep depth controlling for Multi-mode Power Gating
机译:
高效泄漏功率通过睡眠深度控制多模功率门控
作者:
Takeda S.
;
Miwa S.
;
Usami K.
;
Nakamura H.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
97.
Design of an efficient NoC architecture using millimeter-wave wireless links
机译:
使用毫米波无线链路设计高效的NOC架构
作者:
Deb S.
;
Chang K.
;
Ganguly A.
;
Xinmin Yu
;
Teuscher C.
;
Pande P.
;
Deukhyoun Heo
;
Belzer B.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
98.
Embracing local variability to enable a robust high-gain positive-feedback amplifier: Design methodology and implementation
机译:
拥抱局部变化能够实现强大的高增益正反馈放大器:设计方法和实施
作者:
Ragab K.
;
Gharpurey R.
;
Orshansky M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
99.
Device and electromagnetic co-simulation of TSV: Substrate noise study and compact modeling of a TSV in a matrix
机译:
TSV的装置和电磁共同 - 矩阵中的基板噪声研究和TSV的紧凑型建模
作者:
Le Maitre P.
;
Brocard M.
;
Farcy A.
;
Marin J.-C.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
100.
The combined effect of process variations and power supply noise on clock skew and jitter
机译:
过程变化和电源噪声对时钟歪斜和抖动的综合影响
作者:
Hu Xu
;
Pavlidis V.F.
;
Burleson W.
;
De Micheli G.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2012年
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