掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献代查
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
International Symposium on Quality Electronic Design
International Symposium on Quality Electronic Design
召开年:
2013
召开地:
Santa Clara, CA(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
共
1986
条结果
1.
An Accurate Modeling Method Utilizing Application-Specific Statistical Information and Its Application to SRAM Yield Estimation
机译:
一种准确的建模方法,利用应用程序特定的统计信息及其在SRAM产量估计中的应用
作者:
Hidetoshi Matsuoka
;
Hiroshi Ikeda
;
Hiroyuki Higuchi
;
Yoshinori Tomita
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
SRAM;
Yield;
Variation;
DFM;
RSM;
Polynomial;
2.
Useful Clock Skew Optimization under A Multi-corner Multi-mode Design Framework
机译:
多角多模式设计框架下有用的时钟偏斜优化
作者:
Weixiang Shen
;
Yici Cai
;
Wei Chen
;
Yongqiang Lu
;
Qiang Zhou
;
Jiang Hu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Useful clock skew;
Multi-corner multi-mode;
3.
Signal Processing Methods and Hardware-Structure for On-line Characterization of Thermal Gradients in Many-Core Processors
机译:
信号处理方法和硬件结构,用于许多核心处理器中热梯度的在线表征
作者:
Minki Cho
;
Saibal Mukhopadhyay
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Thermal gradients;
Signal processing;
Characterization;
4.
Fast Block-Iterative Domain Decomposition Algorithm for IR Drop Analysis in Large Power Grid
机译:
大电网IR下拉分析的快速块迭代域分解算法
作者:
Yu Zhong
;
Martin D. F. Wong
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
5.
A Fault-tolerant Structure for Reliable Multi-core Systems Based on Hardware-Software Co-design
机译:
基于硬件 - 软件共同设计的可靠多核系统的容错结构
作者:
Bingbing Xia
;
Fei Qiao
;
Huazhong Yang
;
Hui Wang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Fault-tolerant;
Hardware-software Co-design;
Multi-core;
6.
A Non-Parametric Approach to Behavioral Device Modeling
机译:
一种行为设备建模的非参数方法
作者:
Dragoljub (Gagi) Drmanac
;
Brendon Bolin
;
Li C. Wang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
7.
Thermal-Aware Lifetime Reliability in Multicore Systems
机译:
多核系统中的热感知寿命可靠性
作者:
Shengquan Wang
;
Jian-Jia Chen
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Thermal-aware issues;
Reliability;
Multicore systems;
8.
Antenna Violation Avoidance/Fixing for X-Clock Routing
机译:
天线违规避免/修复X时钟路由
作者:
Chia-Chun Tsai
;
Chung-Chieh Kuo
;
Lin-Jeng Gu
;
Trong-Yen Lee
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Antenna effect;
Clock tree;
X-architecture;
9.
Hot Carrier Effects on CMOS Phase-Locked Loop Frequency Synthesizers
机译:
热载波对CMOS锁相环频率合成器的影响
作者:
Yang Liu
;
Ashok Srivastava
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Phase-locked loops;
Voltage-controlled oscillator;
CMOS integrated circuit;
Hot carrier effect;
Jitter;
Phase noise;
10.
Signal Probability Control for Relieving NBTI in SRAM Cells
机译:
SRAM细胞中解除NBTI的信号概率控制
作者:
Yuji Kunitake
;
Toshinori Sato
;
Hiroto Yasuura
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
NBTI;
SRAM;
Signal probability;
Register file;
11.
Formal Verification of Full-Wave Rectifier using SPICE Circuit Simulation Traces
机译:
使用Spice电路仿真迹线进行全波整流器的正式验证
作者:
Kusum Lata
;
H. S. Jamadagni
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Hybrid systems;
Analog and Mixed Signal Design;
Simulation;
Formal Verification;
12.
A Novel Two-Dimensional Scan-Control Scheme for Test-Cost Reduction
机译:
一种用于测试成本降低的新型二维扫描控制方案
作者:
Chia-Yi Lin
;
Hung-Ming Chen
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Scan chain;
Test-cost;
Low power;
13.
A Comprehensive Model for Gate Delay under Process Variation and Different Driving and Loading Conditions
机译:
过程变化和不同驾驶和装载条件下的闸门延迟综合模型
作者:
Mingzhi Gao
;
Zuochang Ye
;
Yao Peng
;
Yan Wang
;
Zhiping Yu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Process variation;
Comprehensive gate delay model;
Effective dimension reduction;
14.
Dynamic Voltage (IR) Drop Analysis and Design Closure: Issues and Challenges
机译:
动态电压(IR)液滴分析和设计闭合:问题和挑战
作者:
Nithin S.
;
K. Gowrysankar Shanmugam
;
Sreeram Chandrasekar
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Dynamic voltage Drop;
DvD;
Dynamic IR;
Peak power;
Power switch;
VCD;
Power gate;
SDF;
15.
Optimizing Power and Throughput for M-Out-Of-N Encoded Asynchronous Circuits
机译:
用于M-OUT-OF-NOODED异步电路的功率和吞吐量
作者:
Jun Xu
;
Ge Zhang
;
Weiwu Hu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Asynchronous Circuits;
Power Gating;
Leakage Power;
Performance Optimization;
16.
Calibration of On-Chip Thermal Sensors using Process Monitoring Circuits
机译:
使用过程监控电路校准片上热传感器
作者:
Basab Datta
;
Wayne Burleson
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Process monitor;
Thermal sensor;
Calibration;
17.
On Evaluating Speed Path Detection of Structural Tests
机译:
论结构试验的速度路径检测
作者:
Jing Zeng
;
Jing Wang
;
Chia-Ying Chen
;
Michael Mateja
;
Li C. Wang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Speed path detection;
Critical timing path;
Speed path profiling;
18.
A Yield Improvement Methodology Based on Logic Redundant Repair with a Repairable Scan Flip-Flop Designed by Push Rule
机译:
基于逻辑冗余修复的产量改进方法与推送规则设计的可修复扫描触发器
作者:
Masanori Kurimoto
;
Jun Matsushima
;
Shigeki Ohbayashi
;
Yoshiaki Fukui
;
Michio Komoda
;
Nobuhiro Tsudah
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
19.
Toward Effective Utilization of Timing Exceptions in Design Optimization
机译:
为了有效利用设计优化中的时序例外
作者:
Kwangok Jeong
;
Andrew B. Kahng
;
Seokhyeong Kang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
20.
Asymmetric 6T SRAM with Two-phase Write and Split Bitline Differential Sensing for Low Voltage Operation
机译:
不对称6T SRAM,具有双相写入和分割位线差分传感,用于低压操作
作者:
Satyanand Nalam
;
Vikas Chandra
;
Cezary Pietrzyk
;
Robert C. Aitken
;
Benton H. Calhoun
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
21.
Power-Yield Optimization in MPSoC Task Scheduling under Process Variation
机译:
过程变化下的MPSOC任务调度中的产量优化
作者:
Mahmoud Momtazpour
;
Esmaeel Sanaei
;
Maziar Goudarzi
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Process variation;
Task scheduling;
MPSoC;
22.
On the Design of Different Concurrent EDC Schemes for S-Box and GF(p)
机译:
关于S-Box和GF(P)不同并发EDC方案的设计
作者:
J. Mathew
;
H. Rahaman
;
A. M. Jabir
;
S. P. Mohanty
;
Dhiraj K. Pradhan
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
23.
Automated Silicon Debug Data Analysis Techniques for a Hardware Data Acquisition Environment
机译:
用于硬件数据采集环境的自动化硅调试数据分析技术
作者:
Yu-Shen Yang
;
Brian Keng
;
Nicola Nicolici
;
Andreas Veneris
;
Sean Safarpour
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Silicon debug;
Post-silicon diagnosis;
Data acquisition setup;
24.
Multi-Degree Smoother for Low Power Consumption in Single and Multiple Scan-Chains BIST
机译:
单次和多个扫描链中的低功耗的多度更顺畅
作者:
Abdallatif S. Abu-Issa
;
Steven F. Quigley
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Linear feedback shift register (LFSR);
Weighted switching activity (WSA);
Built-in self-test (BIST);
Low power test;
Scan-based test;
Single and multiple scan-chains;
25.
Variation-Aware Speed Binning of Multi-core Processors
机译:
多核处理器的变异感知速度分布
作者:
John Sartori
;
Aashish Pant
;
Rakesh Kumar
;
Puneet Gupta
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Multi-core;
Binning;
Performance;
Process Variations;
26.
Accurate Statistical Soft Error Rate (SSER) Analysis Using A Quasi-Monte Carlo Framework With Quality Cell Models
机译:
准确的统计软错误率(SSER)分析使用Quasi-Monte Carlo框架与质量细胞模型
作者:
Yu-Hsin Kuo
;
Huan-Kai Peng
;
Charles H.-P. Wen
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
27.
Robust Gate Sizing by Uncertainty Second Order Cone
机译:
不确定性二阶锥体的强大门尺寸
作者:
Jin Sun
;
Janet Wang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Robust Gate Sizing;
Uncertainty Second Order Cone (USOC);
Geometric Program (GP);
28.
Design of a Fault-Tolerant Coarse-Grained Reconfigurable Architecture: A Case Study
机译:
容错粗粒可重新配置架构的设计:案例研究
作者:
Syed M. A. H. Jafri
;
Stanislaw J. Piestrak
;
Olivier Sentieys
;
Sebastien Pillementh
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
29.
Yield Improvement of 3D ICs in the Presence of Defects in Through Signal Vias
机译:
通过信号通孔的缺陷在存在缺陷时产生3D IC的提高
作者:
Rajeev K. Nain
;
Shantesh Pinge
;
Malgorzata Chrzanowska-Jeske
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
30.
Statistical Static Timing Analysis Flow for Transistor Level Macros in a Microprocessor
机译:
微处理器中晶体管型宏的统计静态定时分析流程
作者:
Vivek S. Nandakumar
;
David Newmark
;
Yaping Zhan
;
Malgorzata Marek-Sadowska
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Statistical Static Timing Analysis (SSTA);
Transistor level macros;
Monte-Carlo simulations;
31.
'Condition-based' Dummy Fill Insertion Method Based on ECP and CMP Predictive Models
机译:
基于ECP和CMP预测模型的“基于条件的”虚拟填充插入方法
作者:
Izumi Nitta
;
Yuji Kanazawa
;
Daisuke Fukuda
;
Toshiyuki Shibuya
;
Naoki Idani
;
Masara Ito
;
Osamu Yamasaki
;
Norihiro Harada
;
Takanori Hiramoto
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Dummy fill;
Chemical Mechanical Polishing (CMP);
Design for Manufacturability;
32.
Early-Stage Determination of Current-Density Criticality in Interconnects
机译:
早期确定互连电流密度临界的
作者:
Goran Jerke
;
Jens Lienig
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
33.
P3 (Power-Performance-Process) Optimization of Nano-CMOS SRAM using Statistical DOE-ILP
机译:
使用统计DOE-ILP的P3(电力性能处理)优化纳米CMOS SRAM
作者:
Garima Thakral
;
Saraju P. Mohanty
;
Dhruva Ghai
;
Dhiraj K. Pradhan
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Process Variation;
Power;
Static Noise Margin;
Static Random Access Memory;
Circuit Optimization;
Nanoscale CMOS;
34.
Scalable Methods for the Analysis and Optimization of Gate Oxide Breakdown
机译:
用于分析和优化栅极氧化物分解的可扩展方法
作者:
Jianxin Fang
;
Sachin S. Sapatnekar
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
35.
Real-Time Dynamic Hybrid BiST Solution for Very-Low-Cost ATE Production Testing of A/D Converters with Controlled DPPM
机译:
具有受控DPPM的A / D转换器的实时动态混合BIST解决方案
作者:
Sachin D. Dasnurkar
;
Jacob A. Abraham
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
36.
A Convex Optimization Framework for Leakage Aware Thermal Provisioning in 3D Multicore Architectures
机译:
3D多核架构中泄漏意识热源供应的凸优化框架
作者:
Sanghamitra Roy
;
Koushik Chakraborty
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
3D integrated circuits;
Multicore;
Convex optimization;
Leakage;
Energy efficiency;
37.
Methodology From Chaos in IC Implementation
机译:
IC实施中混乱的方法
作者:
Kwangok Jeong
;
Andrew B. Kahng
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
38.
Is Built-in Logic Redundancy Ready for Prime Time?
机译:
内置逻辑冗余,准备好了黄金时段吗?
作者:
Chris Allsup
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
39.
Multiplexed Trace Signal Selection Using Non-Trivial Implication-Based Correlation
机译:
基于非琐碎的含义相关性的多路复用跟踪信号选择
作者:
Sandesh Prabhakar
;
Michael S. Hsiao
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
40.
Auto-BET-AMS: An Automated Device and Circuit Optimization Platform to Benchmark Emerging Technologies for Performance and Variability using an Analog and Mixed-Signal Design Framework
机译:
Auto-Bet-AMS:使用模拟和混合信号设计框架进行性能和可变性的基准开辟技术的自动赌注和电路优化平台
作者:
Angada B. Sachid
;
Rajesh A. Thakker
;
Chaitanya Sathe
;
Maryam Shojaei Baghini
;
Dinesh K. Sharma
;
V. Ramgopal Rao
;
Mahesh B. Patil
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
41.
Modeling and Verification of Industrial Flash Memories
机译:
工业闪存的建模与验证
作者:
Sandip Ray
;
Jayanta Bhadra
;
Thomas Portlock
;
Ronald Syzdek
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Equivalence checking;
Formal analysis;
Simulation;
SPICE;
Theorem proving;
42.
Efficient Hierarchical Discretization of Off-chip Power Delivery Network Geometries for 2.5D Electrical Analysis
机译:
高芯片电力输送网络几何形状的高效分级离散化2.5D电气分析
作者:
Mosin Mondal
;
James Pingenot
;
Vikram Jandhyala
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Power delivery network (PDN);
Adaptive mesh;
Plane sweep;
Quadtree;
Multilayered finite difference method (MFDM);
43.
Multi-Corner, Energy-Delay Optimized, NBTI-Aware Flip-Flop Design
机译:
多角,能量延迟优化,NBTI感知触发器设计
作者:
Hamed Abrishami
;
Safar Hatami
;
Massoud Pedram
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Static timing analysis;
Setup and hold times;
NBTI;
Circuit reliability;
Device aging;
Multi-comer optimization;
Mathematical programming;
Polynomial modeling;
44.
Comparative Analysis and Study of Metastability on High-Performance Flip-Flops
机译:
高性能触发器常规性的比较分析与研究
作者:
David Li
;
Pierce Chuang
;
Manoj Sachdev
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
45.
Limits of Bias Based Assist Methods in Nano-Scale 6T SRAM
机译:
纳米级6T SRAM中基于偏置辅助方法的限制
作者:
Randy W. Mann
;
Satyanand Nalam
;
Jiajing Wang
;
Benton H. Calhoun
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
46.
Process Variation Tolerant On-Chip Communication Using Receiver and Driver Reconfiguration
机译:
使用接收器和驱动程序重新配置处理变化容差的片上通信
作者:
Ethiopia Nigussie
;
Juha Plosila
;
Jouni Isoaho
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Process variation;
Current sensing on-chip links;
Variation adaptation and reconfiguration;
47.
Clock Routing for Structured ASICs with Via-Configurable Fabrics
机译:
带有Via-Configurable Babrics的结构化ASIC的时钟路由
作者:
Rung-Bin Lin
;
I.-Wei Lee
;
Wen-Hao Chen
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Structured ASIC;
Clock routing;
Clock skew;
Regular fabric;
Via configurable;
48.
Worst-Case Noise Prediction With Non-zero Current Transition Times for Early Power Distribution System Verification
机译:
用于早期配电系统验证的非零电流转换时间的最坏情况噪声预测
作者:
Peng Du
;
Xiang Hu
;
Shih-Hung Weng
;
Amirali Shayan
;
Xiaoming Chen
;
A. Ege Engin
;
Chung-Kuan Cheng
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Power distribution system verification;
Worst-case noise;
Transition time;
49.
Case Studies of Mixed-Signal DFT
机译:
混合信号DFT的案例研究
作者:
Ramyanshu Datta
;
Mahit Warhadpande
;
Dale Heaton
;
S. Aarthi
;
Ram Jonnavithula
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
50.
Hellfire: A Design Framework for Critical Embedded Systems' Applications
机译:
HELLFIRE:关键嵌入式系统应用程序的设计框架
作者:
Alexandra Aguiar
;
Sergio J. Filho
;
Felipe G. Magalhaes
;
Thiago D. Casagrande
;
Fabiano Hessel
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
MPSoC;
Embedded Systems Design;
HW/SW Co-design;
51.
A 2-Port 6T SRAM Bitcell Design with Multi-Port Capabilities at Reduced Area Overhead
机译:
一个2端口6T SRAM BitCell设计,具有在减小的区域开销下的多端口能力
作者:
Jawar Singh
;
Dilip S. Aswar
;
Saraju P. Mohanty
;
Dhiraj K. Pradhan
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Static Random Access Memory;
Power Dissipation;
Static Noise Margin;
Multi-port SRAM;
52.
Yield-constrained Digital Circuit Sizing via Sequential Geometric Programming
机译:
通过顺序几何编程产生约束的数字电路尺寸尺寸
作者:
Yu Ben Laurent El Ghaoui
;
Kameshwar Poolla
;
Costas J. Spanos
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
53.
Design of Low-Power Variation Tolerant Signal Processing Systems with Adaptive Finite Word-length Configuration
机译:
具有自适应有限字长配置的低功耗变化耐受信号处理系统的设计
作者:
Yang Liu
;
Jibang Liu
;
Tong Zhang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
54.
Structural Fault Collapsing by Superposition of BDDs for Test Generation in Digital Circuits
机译:
通过BDDS叠加在数字电路中叠加的结构故障折叠
作者:
R. Ubar
;
D. Mironov
;
J. Raik
;
A. Jutman
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Digital circuits;
Fault equivalence and dominance;
Fault collapsing;
Structurally Synthesized BDDs;
SSBDDs with multiple inputs;
Test generation;
55.
Post-Synthesis Sleep Transistor Insertion for Leakage Power Optimization in Clock Tree Networks
机译:
综合后睡眠晶体管插入时钟树网络中的漏电功率优化
作者:
Houman Homayoun
;
Shahin Golshan
;
Eli Bozorgzadeh
;
Alex Veidenbaum
;
Fadi J. Kurdahi
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Sleep Transistor;
Clock Tree;
56.
A Low Power System with Adaptive Data Compression for Wireless Monitoring of Physiological Signals and its Application to Wireless Electroencephalography
机译:
一种低功耗系统,具有自适应数据压缩,用于对生理信号的无线监控及其在无线脑电图中的应用
作者:
Jeremy R. Tolbert
;
Pratik Kabali
;
Simeranjit Brar
;
Saibal Mukhopadhyayh
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Wireless Monitoring;
EEG;
Energy Efficiency;
System Design;
57.
Die-level Leakage Power Analysis of FinFET Circuits Considering Process Variations
机译:
考虑过程变化的FinFET电路模切漏电功率分析
作者:
Prateek Mishra
;
Ajay N. Bhoj
;
Niraj K. Jha
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
58.
Variation Aware Guard-Banding for SOC Static Timing Analysis
机译:
SOC静态定时分析的变异意识保护
作者:
Vee Kin Wong
;
Siong Kiong Teng
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Static timing analysis;
Variation;
Performance verification;
59.
Adaptive Power Gating for Function Units in a Microprocessor
机译:
微处理器中功能单元的自适应功率门控
作者:
Kimiyoshi Usami
;
Tatsunori Hashida
;
Satoshi Koyama
;
Tatsuya Yamamoto
;
Daisuke Ikebuchi
;
Hideham Amano
;
Mitaro Narniki
;
Masaaki Kondo
;
Hiroshi Nakamura
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Power gating;
Adaptive;
Temperature;
Leakage;
Function unit;
60.
Slack Allocation for Yield Improvement in NoC-based MPSoCs
机译:
基于NOC的MPSCs屈服改善的松弛分配
作者:
Brett H. Meyer
;
Adam S. Hartman
;
Donald E. Thomas
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
System-level design;
Manufacturability;
Slack allocation;
Yield optimization;
61.
Thermal-Aware Job Allocation and Scheduling for Three Dimensional Chip Multiprocessor
机译:
三维芯片多处理器的热感知作业分配和调度
作者:
Shaobo Liu
;
Jingyi Zhang
;
Qing Wu
;
Qinru Qiu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Scheduling;
Thermal management;
Three dimensional;
Chip multiprocessor;
Job allocation;
62.
UC-PHOTON: A Novel Hybrid Photonic Network-on-Chip for Multiple Use-Case Applications
机译:
UC-Photon:用于多种用例应用的新型混合电网片
作者:
Shirish Bahirat
;
Sudeep Pasricha
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
63.
Synthesis and Formal Verification of On-Chip Protocol Transducers through Decomposed Specification
机译:
通过分解规范的芯片协议换能器的合成和正式验证
作者:
Masahiro Fujita
;
Hideo Tanida
;
Fei Gao
;
Tasuku Nishihara
;
Takeshi Matsumoto
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
64.
Assessing Chip-Level Impact of Double Patterning Lithography
机译:
评估双图案化光刻的芯片水平影响
作者:
Kwangok Jeong
;
Andrew B. Kahng
;
Rasit O. Topaloglu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
65.
Minimizing the Power Consumption of a Chip Multiprocessor under an Average Throughput Constraint
机译:
在平均吞吐量约束下最小化芯片多处理器的功耗
作者:
Mohammad Ghasemazar
;
Ehsan Pakbaznia
;
Massoud Pedram
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Chip multiprocessor;
Power minimization;
Hierarchical power management;
Closed-loop control;
66.
Quality-Driven Methodology for Demanding Accelerator Design
机译:
质量驱动的苛刻加速器设计方法
作者:
Lech Jozwiak
;
Yahya Jan
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Hardware accelerators;
Architecture design;
Design-space exploration;
Combined macro- and micro-architecture design;
67.
A Revisit to the Primal-Dual Based Clock Skew Scheduling Algorithm
机译:
Revisit对基于原语 - 双时钟偏斜调度算法
作者:
Min Ni
;
Seda Ogrenci Memik
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
Clock Skew Scheduling;
Primal-Dual;
Optimization;
Sequential Circuit;
68.
Multi-programming Environment for Structure Under Pads (SUP) and Via Arrays Pattern Recognition Automated Classification System
机译:
用于焊盘(SUP)下结构的多编程环境和通过阵列模式识别自动分类系统
作者:
Suraya Bt Mohd Yusof
;
Lau Meng Tee
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2010年
关键词:
SUP;
Via pattern recognition;
69.
An Effective Staggered-Phase Damping Technique for Suppressing Power-Gating Resonance Noise during Mode Transition
机译:
一种有效的交错相阻尼技术,用于抑制模式转换期间的功率门控谐振噪声
作者:
Charbel J. Akl
;
Rafic A. Ayoubi
;
Magdy A. Bayoumi
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Mode transition;
Power-gating;
Resonance noise damping;
Signal integrity;
70.
Impact of SoC power management techniques on verification and testing
机译:
SoC电源管理技术对验证和测试的影响
作者:
Kapoor Bhanu
;
Hemmady Shankar
;
Verma Shireesh
;
Roy Kaushik
;
DAbreu Manuel A.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Body Bias;
DVFS;
Isolation;
Low Power;
Power Connectivity;
Power Control;
Power Gating;
Power Management;
Samp;
RPG;
SRPG;
State Retention;
Threshold Voltage;
Voltage Regulator Module;
Voltage Scaling;
71.
Effect of NDD Dosage on Hot-Carrier Reliability in DMOS Transistors
机译:
NDD剂量对DMOS晶体管热载波可靠性的影响
作者:
Jone F. Chen
;
Kuen-Shiuan Tian
;
Shiang-Yu Chen
;
Kuo-Ming Wu
;
C. M. Liu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
DMOS;
Hot-carrier;
Reliability;
72.
An enhanced topology for reliability of a high performance 3.3V I/O buffer in a single-well bulk CMOS 1.8v-oxide low voltage process
机译:
用于高性能3.3V I / O缓冲器的可靠性增强拓扑,在单井批量CMOS 1.8V-氧化物低压过程中的高性能3.3V I / O缓冲器
作者:
Rajagopal Karthik
;
Aatmesh
;
Menezes Vinod
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Gate-oxide integrity;
High voltage (3.3V) design;
NBTI;
differential amplifier;
reliability;
73.
A geometric approach to register transfer level satisfiability
机译:
注册转移水平可满足性的几何方法
作者:
Navarro Hector
;
Nooshabadi Saeid
;
Montiel-Nelson Juan A.
;
Navarro V.
;
Sosa J.
;
Garcia Jose C.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Register transfer level (RTL);
cutting planes;
design verification;
linear programming;
satisfiability (SAT);
74.
IP protection platform based on watermarking technique
机译:
基于水印技术的IP保护平台
作者:
Du Yun
;
Ding Yangshuo
;
Chen Yujie
;
Gao Zhiqiang
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
IP;
Watermarking;
layout;
netlist;
protection;
75.
Validating Physical Access Layer of WiMAX Using System Verilog
机译:
使用System Verilog验证WiMAX的物理访问层
作者:
Albert Chiang
;
Wei-Hua Han
;
Bhanu Kapoor
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
WiMAX;
OFDM;
OFDMA;
Verification;
PHY;
Constrained Random;
System Verilog;
76.
Validating physical access layer of WiMAX using SystemVerilog
机译:
使用SystemVerilog验证WiMAX的物理访问层
作者:
Chiang Albert
;
Wei-Hua Han
;
Kapoor Bhanu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Constrained Random;
OFDM;
OFDMA;
PHY;
SystemVerilog;
Verification;
WiMAX;
77.
Efficient diagnosis algorithms for drowsy SRAMs
机译:
昏昏欲睡的高效诊断算法
作者:
Huang Bing-Wei
;
Li Jin-Fu
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
78.
50GB/s signaling on organic substrates using PMTL technology
机译:
使用PMTL技术的有机基材上的50gB / s信号传导
作者:
Yazdani Farhang
;
Izadian Jamal S.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
PCIE;
PMTL;
SATA;
SER-DES;
SSO;
Xaui;
analog;
ceramic;
electromagnetic;
eye diagram;
fullwave;
interconnect;
jitter;
microwave;
mixed-signal;
mm-wave;
organic;
package;
resonance;
signal integrity;
silicon;
stripline;
substrate;
79.
Effect of NDD dosage on hot-carrier reliability in DMOS transistors
机译:
NDD剂量对DMOS晶体管热载波可靠性的影响
作者:
Chen Jone F.
;
Tian Kuen-Shiuan
;
Chen Shiang-Yu
;
Wu Kuo-Ming
;
Liu C. M.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
DMOS;
hot-carrier;
reliability;
80.
Process variation impact on FPGA configuration memory
机译:
处理变化对FPGA配置内存的影响
作者:
Xu Y.Z.
;
Liu L.S.
;
Chan M.
;
Watt J.T.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Configuration Memory;
FPGA;
Process Variation;
81.
An effective staggered-phase damping technique for suppressing power-gating resonance noise during mode transition
机译:
一种有效的交错相阻尼技术,用于抑制模式转换期间的功率门控谐振噪声
作者:
Akl Charbel J.
;
Ayoubi Rafic A.
;
Bayoumi Magdy A.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Mode transition;
power-gating;
resonance noise damping;
signal integrity;
82.
IP Protection Platform Based on Watermarking Technique
机译:
基于水印技术的IP保护平台
作者:
Yun Du
;
Yangshuo Ding
;
Yujie Chen
;
Zhiqiang Gao
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Watermarking;
IP;
Protection;
Netlist;
Layout;
83.
A 1.2 volt, 90nm, 16-bit three way segmented digital to analog converter (DAC) for low power applications
机译:
1.2伏,90nm,16位三路分段数字到模拟转换器(DAC),用于低功耗应用
作者:
Chandrasekhar Bh Maruthi
;
Dasgupta Sudeb
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
16-Bit DAC;
Low Power;
Segmentation;
84.
A geometric approach to register transfer level satisfiability
机译:
注册转移水平可满足性的几何方法
作者:
Hector Navarro
;
Saeid Nooshabadi
;
Juan A. Montiel-Nelson
;
V. Navarro
;
J. Sosa
;
Jose C. Garcia
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Register transfer level (RTL);
Satisfiability (SAT);
Design verification;
Linear programming;
Cutting planes;
85.
Comparison of supply noise and substrate noise reduction in SiGe BiCMOS and FDSOI processes
机译:
SiGe BICMOS和FDSOI过程中供电噪声和基板降噪的比较
作者:
Cheong Wai Leng
;
Owens Brian
;
Pham Hui En
;
Hanken Christopher
;
Le Jim
;
Fiez Terri
;
Mayaram Kartikeya
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
SOI;
SiGe BiCMOS;
noise reduction;
substrate noise;
substrate noise comparison;
86.
Comparison of Supply Noise and Substrate Noise Reduction in SiGe BiCMOS and FDSOI Processes
机译:
SiGe BICMOS和FDSOI过程中供电噪声和基板降噪的比较
作者:
Wai Leng Cheong
;
Brian Owens
;
Hui En Pham
;
Christopher Hanken
;
Jim Le
;
Terri Fiez
;
Kartikeya Mayaram
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Substrate noise;
SOI;
SiGe BiCMOS;
Substrate noise comparison;
Noise reduction;
87.
An Enhanced Topology for Reliability of a High Performance 3.3V I/O Buffer in a Single-well Bulk CMOS 1.8v-oxide Low voltage Process
机译:
用于高性能3.3V I / O缓冲器的可靠性增强拓扑,在单井批量CMOS 1.8V-氧化物低压过程中的高性能3.3V I / O缓冲器
作者:
Karthik Rajagopal
;
Aatmesh
;
Vinod Menezes
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
High voltage (3.3V) design;
Differential amplifier;
Reliability;
NBTI;
Gate-oxide integrity;
88.
Efficient Diagnosis Algorithms for Drowsy SRAMs
机译:
昏昏欲睡的高效诊断算法
作者:
Bing-Wei Huang
;
Jin-Fu Li
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
89.
The Design of a Low-Power High-Speed Current Comparator in 0.35-μm CMOS Technology
机译:
0.35μmCMOS技术的低功率高速电流比较器的设计
作者:
Soheil Ziabakhsh
;
Hosein Alavi-Rad
;
Mohammad Alavi-Rad
;
Mohammad Mortazavi
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Current Comparator;
Propagation Delay;
Instantaneous Power;
Positive Feedback;
Signal Processing;
90.
Kriging Model combined with latin hypercube sampling for surrogate modeling of analog integrated circuit performance
机译:
Kriging模型结合拉丁超立方体采样,用于模拟集成电路性能的代理模拟
作者:
You Hailong
;
Maofeng Yang
;
Dan Wang
;
Xinzhang Jia
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Design of Experiments;
Kriging Model;
Latin Hypercube Sampling;
Response Surface Model;
Surrogate-modeling;
circuit performance;
parametric yield;
91.
Statistical yield analysis of silicon-on-insulator embedded DRAM
机译:
绝缘体嵌入式DRAM的统计产量分析
作者:
Kanj R.
;
Joshi R.
;
Kuang JB
;
Kim J.
;
Meterelliyoz M.
;
Reohr W.
;
Nassif S.
;
Nowka K.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
92.
A New Low Power Test Pattern Generator Using a Variable-Length Ring Counter
机译:
一种新的低功耗测试模式发生器,使用可变长度环计数器
作者:
Bin Zhou
;
Yi-zheng Ye
;
Zhao-lin Li
;
Xin-chun Wu
;
Rui Ke
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Built-in Self-Test (BIST);
Test pattern generator;
Variable-length ring counter;
93.
An Effective Approach to Detect Logic Soft Errors in Digital Circuits Based on GRAAL
机译:
基于GRAal的数字电路逻辑软误差检测逻辑软误差的有效方法
作者:
Hai Yu
;
Michael Nicolaidis
;
Lorena Anghel
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Error detection;
Latch-based design;
Time redundancy;
94.
A Simulation-Based Strategy used in Electrical Design for Reliability
机译:
用于可靠性电气设计的基于仿真的策略
作者:
Yan Liu
;
Scott Hareland
;
Donald Hall
;
Bill Wold
;
Roger Hubing
;
Robert Mehregan
;
Ronen Malka
;
Manish Sharma
;
Tom Lane
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Simulation;
Design for reliability;
Modeling;
95.
Cell shifting aware of wirelength and overlap
机译:
细胞移位意识到Wirelength和重叠
作者:
Dawei Liu
;
Zhou Qiang
;
Bian Jinian
;
Cai Yici
;
Hong Xianlong
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Cell Shifting;
Mixed-size Placement;
96.
Parametric analysis to determine accurate interconnect extraction corners for design performance
机译:
参数分析以确定用于设计性能的精确互连提取拐角
作者:
Mutlu Ayhan
;
Le Jiayong
;
Molina Ruben
;
Celik Mustafa
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
97.
The design of a low-power high-speed current comparator in 0.35-??m CMOS technology
机译:
低功耗高速电流比较器的设计在0.35 - ?? M CMOS技术
作者:
Ziabakhsh Soheil
;
Alavi-Rad Hosein
;
Alavi-Rad Mohammad
;
Mortazavi Mohammad
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Current Comparator;
Instantaneous Power;
Positive Feedback;
Propagation Delay;
Signal Processing;
98.
Standby power reduction and SRAM cell optimization for 65nm technology
机译:
待机功率降低和SRAM电池优化65nm技术
作者:
Lakshminarayanan S.
;
Joung J.
;
Narasimhan G.
;
Kapre R.
;
Slanina M.
;
Tung J.
;
Whately M.
;
Hou C-L.
;
Liao W-J.
;
Lin S-C.
;
Ma P-G.
;
Fan C-W.
;
Hsieh M-C.
;
Liu F-C.
;
Yeh K-L.
;
Tseng W-C.
;
Lu S.W.
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
SRAM;
body bias;
source bias;
standby current;
static noise margin;
99.
Analysis of Performance and Reliability Trade-Off in Dummy Pattern Design for 32-nm Technology
机译:
32纳米技术虚拟图案设计性能和可靠性折衷分析
作者:
Aditya P. Karmarkar
;
Xiaopeng Xu
;
Victor Moroz
;
Greg Rollins
;
Xiao Lin
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
Mechanical stress;
Interconnect parasitic parameters;
Layout effects;
Design for manufacturability;
100.
ESD Event Simulation Automation using Automatic Extraction of the Relevant Portion of a Full Chip
机译:
ESD事件仿真自动化使用全芯片的相关部分的自动提取
作者:
Thorsten Weyl
;
Dave Clarke
;
Karl Rinne
;
James A. Power
会议名称:
《International Symposium on Quality Electronic Design》
|
2009年
关键词:
CAD tool;
Circuit simulation;
Electrostatic discharge;
Net list analysis;
Simulation flow;
上一页
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
下一页
意见反馈
回到顶部
回到首页