error statistics; error correction codes; SRAM chips; cache storage; microprocessor chips; CMOS memory circuits; integrated circuit reliability; failure analysis; integrated circuit testing; multi-bit soft error events; SRAM; error correction code scheme;
机译:平面和FINFET SRAM中单位和多个小区软错误事件的表征
机译:平面和FinFET SRAM中单位和多单元软错误事件的表征
机译:X射线诱发45 nm SRAM中的单事件软错误的研究
机译:高级SRAM中多位软错误事件的特征
机译:建模和缓解纳米级SRAM中的软错误。
机译:文献报道的晚期软组织肉瘤的不良反应与全身治疗相关
机译:并行双误差校正码设计,以减轻sRam中的多位扰乱