SRAM中重尾分布的小概率事件估计

摘要

随着静态随机存取存储器(SRAM)单元广泛的运用于大量半导体设备的制造当中。人们对SRAM单元工作的稳定性的要求越来越高,同时还希望可以对它的有效性进行准确而高效的估计。但由于它的失效率很小,对它的估计存在一定的困难,于是我们提出了小概率事件的模拟这个问题,希望能给出有效的估计方法来解决这个问题。
　　在这篇文章中,我们首先介绍了所要讨论问题的相关背景,提出了现在所遇到的困难,并说明了小概率事件模拟的广泛运用。随后在我们的假设前提下(小概率事件是满足重尾分布且属于次指数族和D族)给出了几种不同模拟方法的估计值。接着我们又提出了进行效率比较的标准,希望能找出有效并且有效率的模拟方法。在文章的最后我们进行了模拟研究,用实验的结果来验证我们的理论。

目录

封面

声明

中文摘要

英文摘要

目录

第一章 引 言

§1. 1小概率事件

§1.2 SRAM中的小概率事件估计

§1. 3 本文的前提假设

§1. 4 小概率事件的蒙特卡洛模拟

§1. 5 本文的工作和本文结构

第二章 重尾分布的相关理论

§2. 1 重尾分布及次指数族和D族

§2. 2渐进有效

§2. 3重尾和估计

第三章 抽样效率的比较

§3. 1 抽样效果的度量

§3.2 关于EZ(x)2的几个不等式

§3.3 EZ(x)2大小的比较

第四章 模拟研究

§4. 1 模拟参数与运算结果

第五章 结论及有待研究的问题

§5. 1 结论

§5. 2 进一步有待研究的问题

参考文献

致谢