基于故障注入的SRAM型FPGA单粒子软错误敏感性研究

摘要

SRAM型FPGA凭借其各种优势在卫星导航中应用越来越广泛.故障注入是一种新兴的FPGA(Field Programmable Gate Array)加固测试评估方法,在几种地面模拟试验中具有资源占用少、试验周期短、费用低等突出优点.本文设计了故障注入系统,对故障注入和SRAM(Static Random AccessMemory)型FPGA的单粒子软错误敏感性进行了研究.故障注入系统主要由三部分组成:上位计算机、故障注入器、多FPGA电路系统.多FPGA电路系统中一片XC4VFX60 FPGA作为主控器可以对其他FPGA进行周期性的重配置,接收其他FPGA输出管脚信号并实时对比程序的输出,系统可以对特定FPGA进行随机的故障注入或者特定位置的故障注入.利用此系统对单粒子故障注入测试技术和SRAM型FPGA的单粒子软错误敏感性进行了研究,促进了SRAM型FPGA的空间应用.