机译:结合加速辐射测试和故障注入的结果来预测基于SRAM的FPGA中实现的应用的错误率
Laboratoire TIMA, Grenoble,;
Accelerated testing; fault injection; fault tolerance; field-programmable gate arrays (FPGAs); single-event rates; single-event upsets SEUs); space applications;
机译:FPGA细粒度错误检测技术的辐射和故障注入测试
机译:比特流故障注射(BIFI) - 以基于SRAM的FPGA为基础故障攻击
机译:一种软件解决方案,用于估计在基于SRAM的FPGA上实现的系统的SEU引起的软错误率
机译:中子辐照和故障注入方法在基于SRAM的FPGA中实现的神经网络推理错误的比较分析
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:基于多信号流图模型和加速辐射测试的误码率估计
机译:使用质子辐射测试验证星空基于SRAM的FPGA的FDIR策略