基于SRAM型FPGA可重构技术的故障注入系统设计

摘要

空间辐射环境会导致SRAM型FPGA发生单粒子翻转问题,空间应用需要采取缓解单粒子翻转的加固措施,而加固措施的有效性需要在地面进行重离子辐照试验评估,但试验周期长、成本高,且具有破坏性.基于SRAM型FPGA的动态可重构特性,在研究FPGA配置存储器结构及配置结构的基础上,通过修改配置存储区数据,形成了基于数据库回放的故障注入系统来模拟FPGA的SEU效应,从而加速系统的失效过程.对比辐照试验结果表明,此方法成本低、设计灵活,为SRAM型FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持.