机译:使用故障注入特性针对单事件翻转表征基于RISC-V SRAM的FPGA实现
机译:在超应答互动点处监控基于SRAM的FPGA的单个事件UPSET
机译:在标称电压下工作的45nm和28nm大容量基于CMOS SRAM的FPGA中电子引起的单事件翻转
机译:故障注入方法和基础架构,可在基于Xilinx SRAM的FPGA上快速进行单事件翻转仿真
机译:由于单事件扰动和缓解而导致的FPGA互连延迟的表征
机译:FPGA中系统故障注射仿真:工具技术和方法教程
机译:使用FLIppER故障注入平台评估基于sRam的FpGa的单事件扰乱缓解方案
机译:针对在Xilinx-Virtex系列现场可编程门阵列(FpGa)器件中实现的复杂设计的单事件分析和故障注入技术。