Field-programmable gate arrays; Integrated circuits; Electric potential; Radiation effects; Single event upsets; Fault tolerance; Cmos; Probability theory; Transistors;
机译:使用故障注入特性针对单事件翻转表征基于RISC-V SRAM的FPGA实现
机译:TMR设计布局对基于SRAM的FPGA单一事件容忍度的影响
机译:在超应答互动点处监控基于SRAM的FPGA的单个事件UPSET
机译:基于提高的单事件翻转敏感性的基于SRAM的FPGA设计中的容错实现
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:使用基于SRAM的FPGA进行功率感知的高性能无线传感器网络
机译:基于Xilinx SRAM的FPGA的快速单事件翻转仿真的故障注入方法和基础设施