掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
其他
>
International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems
International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
On the Error Effects of Random Clock Shifts in Quantum-dot Cellular Automata Circuits
机译:
在量子点蜂窝自动机电中随机时钟变换的误差效应
作者:
M. Ottavi
;
H. Hashempour
;
V. Vankamamidi
;
F. Karim
;
K. Walus
;
A. Ivanov
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
2.
Hierarchical Fault Compatibility Identification for Test Generation with a Small Number of Specified Bits
机译:
具有少量指定位的测试生成的分层故障兼容性识别
作者:
Stelios Neophytou
;
Maria K. Michael
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
3.
A-Diagnosis: A Complement to Z-Diagnosis
机译:
A诊断:对Z诊断的补充
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
4.
Analysis of Specified Bit Handling Capability of Combinational Expander Networks
机译:
组合扩展器网络指定位处理能力分析
作者:
Abhijit Jas
;
Srinivas Patil
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
5.
Testing of Asynchronous NULL Conventional Logic (NCL) Circuits in Synchronous-Based Designs
机译:
基于同步设计中的异步空逻辑(NCL)电路的测试
作者:
Waleed K. Al-Assadi
;
Sindhu Kakarla
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
6.
Fault Tolerant Source Routing for Network-on-chip
机译:
用于网络上的容错源路由
作者:
Young Bok Kim
;
Yong-Bin Kim
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
7.
On-Line Periodic Self-Testing of High-Speed Floating-Point Units in Microprocessors
机译:
微处理器中高速浮点单元的在线周期自测
作者:
G. Xenoulis
;
M. Psarakis
;
D. Gizopoulos
;
A. Paschalis
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
8.
Nanofabric PLA architecture with Redundancy Enhancement
机译:
纳米谱位架构冗余增强
作者:
Mandar V. Joshi
;
Waleed K. Al-Assadi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
9.
Evaluation of Register-Level Protection Techniques for the Advanced Encryption Standard by Multi-Level Fault Injections
机译:
通过多级故障注入评估先进加密标准的寄存器级保护技术
作者:
P. Maistri
;
P. Vanhauwaert
;
R. Leveugle
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
10.
Semi-Concurrent On Line Testing of Transition Faults Through Output Response Comparison of Identical Circuits
机译:
通过输出响应比较相同电路的过渡故障线路测试的半同时
作者:
Irith Pomeranz
;
Sudhakar M. Reddy
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
11.
Fault Secure Encoder and Decoder for Memory Applications
机译:
用于内存应用程序的故障安全编码器和解码器
作者:
Helia Naeimi
;
Andre DeHon
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
12.
A Functional Verification based Fault Injection Environment
机译:
基于功能验证的故障注入环境
作者:
A. Benso
;
A. Bosio
;
S. Di Carlo
;
R. Mariani
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
13.
Soft Error Hardening for Asynchronous Circuits
机译:
异步电路软硬硬化
作者:
Weidong Kuang
;
Casto Manuel Ibarra
;
Peiyi Zhao
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
14.
An Effective Approach for the Diagnosis of Transition-Delay Faults in SoCs, based on SBST and Scan Chains
机译:
基于SBST和扫描链的SOCS中转换延迟故障的有效方法
作者:
J. Lagos-Benites
;
D. Appello
;
P. Bernardi
;
M. Grosso
;
D. Ravotto
;
E. Sanchez
;
M. Sonza Reorda
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
15.
Power Attacks Resistance of Cryptographic S-boxes with added Error Detection Circuits
机译:
电力攻击加密S箱的电阻具有添加的错误检测电路
作者:
Francesco Regazzoni
;
Thomas Eisenbarth
;
Johann Grossschadl
;
Luca Breveglieri
;
Paolo Ienne
;
Israel Koren
;
Christof Paar
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
16.
Soft Error Hardened Latch Scheme for Enhanced Scan Based Delay Fault Testing
机译:
软误差硬化锁存器,用于增强扫描的延迟故障测试
作者:
Takashi IKEDA
;
Kazuteru NAMBA
;
Hideo ITO
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
17.
Fault Tolerant SoC Architecture Design for JPEG2000 using Partial Reconfigurability
机译:
使用部分可重构性的JPEG2000的容错SOC架构设计
作者:
Abderrahim Doumar
;
Kentaroh Katoh
;
Hideo Ito
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
18.
Production Yield and Self-Configuration in the Future Massively Defective Nanochips
机译:
未来生产产量和自我配置大规模缺陷纳米
作者:
Piotr Zajac
;
Jacques Henri Collet
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
19.
A Defect-Tolerant Molecular-Based Memory Architecture
机译:
一种缺陷的基于分子的内存架构
作者:
Yoon-Hwa Choi
;
Myeong-Hyeon Lee
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
20.
Error Tolerance of DNA Self-Healing Assemblies by Puncturing
机译:
通过穿刺DNA自修复组件的误差
作者:
Masoud Hashempour
;
Zahra Mashreghian Arani
;
Fabrizio Lombardi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
关键词:
Error Tolerance;
Repair;
Puncturing;
DNA Self-assembly;
Nano Manufacturing;
21.
Comparing fail-safe microcontroller architectures in light of IEC 61508
机译:
根据IEC 61508,比较故障安全微控制器架构
作者:
Riccardo Mariani
;
Peter Fuhrmann
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
22.
A Framework for Reliability Assessment and Enhancement in Multi-Processor Systems-On-Chip
机译:
多处理器系统可靠性评估和增强框架框架
作者:
G. Beltrame
;
C. Bolchini
;
L. Fossati
;
A. Miele
;
D. Sciuto
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
23.
High Quality Test Vectors for Bridging Faults in the Presence of IC's Parameters Variations
机译:
高质量的测试向量用于IC参数变化存在的桥接故障
作者:
Michele Favalli
;
Marcello Dalpasso
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
24.
Evaluation of Single Event Upset Mitigation Schemes for SRAM based FPGAs using the FLIPPER Fault Injection Platform
机译:
使用Flipper故障注入平台评估SRAM基于SRAM的FPGA的单事件镦粗缓解方案
作者:
M. Alderighi
;
F. Casini
;
S. DAngelo
;
M. Mancini
;
S. Pastore
;
G. R. Sechi
;
R. Weigand
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
25.
Improving the Tolerance of Pipeline Based Circuits to Power Supply or Temperature Variations
机译:
提高基于管道电路电源或温度变化的容差
作者:
J. Semiao
;
J. J. Rodriguez-Andina
;
F. Vargas
;
M. B. Santos
;
I. C. Teixeira
;
J. P. Teixeira
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
26.
A Sharable Built-in Self-repair for Semiconductor Memories with 2-D Redundancy Scheme
机译:
具有2-D冗余方案的半导体存储器的可匹配内置自修复
作者:
Swapnil Bahl
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
27.
Optimization of Self Checking FIR filters by means of Fault Injection Analysis
机译:
通过故障注射分析优化自我检查FIR滤波器
作者:
S. Pontarelli
;
L. Sterpone
;
G. C. Cardarilli
;
M. Re
;
M. Sonza Reorda
;
A. Salsano
;
M. Violante
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
28.
SET Emulation Under a Quantized Delay Model
机译:
在量化延迟模型下设置仿真
作者:
Mario Garcia Valderasl
;
Raul Fernandez Cardenal
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
29.
Timing-Aware Diagnosis for Small Delay Defects
机译:
小延迟缺陷的时序感知诊断
作者:
Takashi Aikyo
;
Hiroshi Takahashi
;
Yoshinobu Higami
;
Junichi Ootsu
;
Kyohei Ono
;
Yuzo Takamatsu
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
30.
Testing Reversible One-Dimensional QCA Arrays for Multiple Faults
机译:
测试可逆的一维QCA阵列以实现多个故障
作者:
J. Huang
;
X. Ma
;
C. Metra
;
F. Lombardi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
31.
A Scalable Framework for Defect Isolation of DNA Self-assembled Networks
机译:
用于DNA自组装网络的缺陷隔离的可扩展框架
作者:
Masaru Fukushi
;
Susumu Horiguchi
;
Luke Demoracski
;
Fabrizio Lombardi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
32.
TMR and Partial Dynamic Reconfiguration to mitigate SEU faults in FPGAs
机译:
TMR和部分动态重新配置以缓解FPGA中的SEU故障
作者:
Cristiana Bolchini
;
Antonio Miele
;
Marco D. Santambrogio
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
33.
Test Generation and Diagnostic Test Generation for Open Faults with Considering Adjacent Lines
机译:
考虑相邻线路的打开故障测试生成和诊断测试生成
作者:
Hiroshi Takahashi
;
Yoshinobu Higami
;
Tom Kikkawa
;
Takashi Aikyo
;
Yuzo Takamatsu
;
Hiroyuki Yotsuyanagi
;
Masaki Hashizume
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
34.
Delay Fault Detection Problems in Circuits Featuring a Low Combinational Depth
机译:
具有低组合深度的电路中的延迟故障检测问题
作者:
Michele Favalli
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
35.
Estimation of Electromigration-Aggravating Narrow Interconnects Using a Layout Sensitivity Model
机译:
使用布局敏感模型估计电迁移加重窄互连
作者:
Rani S. Ghaida
;
Payman Zarkesh-Ha
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
36.
Test Generation for Single and Multiple Stuck-at Faults of a Combinational Circuit Designed by Covering Shared ROBDD with CLBs
机译:
通过覆盖具有CLB的共享ROBDD设计的组合电路故障的单一和多个粘连的测试生成
作者:
A. Matrosova
;
E. Loukovnikova
;
S. Ostanin
;
A. Zinchuck
;
E. Nikolaeva
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
37.
Spare Parts in Analog Circuits: a Filter Example
机译:
模拟电路中的备件:过滤器示例
作者:
Erik Schiller
;
Adao Antonio de Souza Junior
;
Luigi Carro
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
38.
Checker Design for On-line Testing of Xilinx FPGA Communication Protocols
机译:
Xilinx FPGA通信协议的在线测试检查器设计
作者:
Martin Straka
;
Jiri Tobola
;
Zdenek Kotasek
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
39.
Lazy Error Detection for Microprocessor Functional Units
机译:
微处理器功能单元的懒惰错误检测
作者:
Mahmut Yilmaz
;
Albert Meixner
;
Sule Ozev
;
Daniel J. Sorin
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
40.
Defect-Tolerant Gate Macro Mapping Placement in Clock-Free Nanowire Crossbar Architecture
机译:
无缺陷的栅极宏映射和放置在无时钟纳米线横杆架构中
作者:
Ravi Bonam
;
Yong-Bin Kim
;
Minsu Choi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
41.
Matrix Codes: Multiple Bit Upsets Tolerant Method for SRAM Memories
机译:
矩阵代码:SRAM存储器的多个upsets容忍方法
作者:
Costas Argyrides
;
Hamid R. Zarandi
;
Dhiraj K. Pradhan
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
42.
Reconstruction of Erasure Correcting Codes for Dependable Distributed Storage System without Spare Disks
机译:
无备用磁盘的可靠分布式存储系统重建擦除纠正码
作者:
Haruhiko Kaneko
;
Eiji Fujiwara
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
43.
A Fault-Tolerant Active Pixel Sensor to Correct In-Field Hot-Pixel Defects
机译:
容错有源像素传感器以纠正现场热像素缺陷
作者:
Jozsef Dudas
;
Michelle L. La Haye
;
Jenny Leung
;
Glenn H. Chapman
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
44.
Probabilistic Analysis of a Molecular Quantum-Dot Cellular Automata Adder
机译:
分子量子点细胞自动机加法器的概率分析
作者:
Timothy J. Dysart
;
Peter M. Kogge
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
45.
Empirical Analysis of the Dependence of Test Power, Delay, Energy and Fault Coverage on the Architecture of LFSR-Based TPGs
机译:
基于LFSR的TPG的架构依赖性,延迟,能量和故障覆盖依赖性的实证分析
作者:
Mehdi Kamal
;
Somayyeh Koohi
;
Shaahin Hessabi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
46.
Sensitivity evaluation of TMR-hardened circuits to multiple SEUs induced by alpha particles in commercial SRAM-based FPGAs
机译:
基于商业SRAM的FPGAα颗粒诱导的TMR硬化电路对多种SEU的敏感性评估
作者:
A. Manuzzato
;
P. Rech
;
S. Gerardin
;
A. Paccagnella
;
L. Sterpone
;
M. Violante
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
47.
Safety Evaluation of NanoFabrics
机译:
纳米制造型安全评估
作者:
Michelangelo Grosso
;
Maurizio Rebaudengo
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
48.
A Refined Electrical Model for Particle Strikes and its Impact on SEU Prediction
机译:
一种精致的粒子撞击电气模型及其对SEU预测的影响
作者:
Sybille Hellebrand
;
Christian G. Zoellin
;
Stefan Ludwig
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
49.
Reliable Network-on-Chip Using a Low Cost Unequal Error Protection Code
机译:
使用低成本不等误差保护代码可靠的芯片
作者:
Avijit Dutta
;
Nur A. Touba
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
50.
Quantitative Analysis of In-Field Defects in Image Sensor Arrays
机译:
图像传感器阵列中现场缺陷的定量分析
作者:
Jenny Leung
;
Jozsef Dudas
;
Glenn H. Chapman
;
Israel Koren
;
Zahava Koren
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
51.
Fault Tolerant Arithmetic Operations with Multiple Error Detection and Correction
机译:
具有多个错误检测和校正的容错算术运算
作者:
Mojtaba Valinataj
;
Saeed Safari
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
52.
Estimating Error Propagation Probabilities with Bounded Variances
机译:
用界差异估计误差传播概率
作者:
Hossein Asadi
;
Mehdi B. Tahoori
;
Chandra Tirumurti
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
53.
Online NoC Switch Fault Detection and Diagnosis Using a High Level Fault Model
机译:
在线NOC开关故障检测和诊断使用高级故障模型
作者:
Armin Alaghi
;
Naghmeh Karimi
;
Mahshid Sedghi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
54.
Effective Checkpoint and Rollback Using Hardware/OS Collaboration
机译:
使用硬件/操作系统协作有效检查点和回滚
作者:
Portolan Michele
;
Leveugle Regis
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
55.
RAM-based fault tolerant state machines for FPGAs
机译:
用于FPGA的基于RAM的容错状态机
作者:
Laura Frigerio
;
Fabio Salice
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
56.
Reduction of Fault Latency in Sequential Circuits by using Decomposition
机译:
使用分解减少顺序电路中的故障延迟
作者:
Ilya Levin
;
Benjamin Abramov
;
Vladimir Ostrovsky
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2007年
57.
Enhancing Silicon Debug via Periodic Monitoring
机译:
通过定期监测增强硅调试
作者:
Joon-Sung Yang
;
Nur A. Touba
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
58.
ATPG Heuristics Dependant Observation Point Insertion for Enhanced Compaction and Data Volume Reduction
机译:
ATPG启发式依赖性观察点插入,用于增强压缩和数据量减少
作者:
Santiago Remersaro
;
Janusz Rajski
;
Thomas Rinderknecht
;
Sudhakar M. Reddy
;
Irith Pomeranz
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
59.
Material Fatigue and Reliability of MEMS Accelerometers
机译:
MEMS加速度计的材料疲劳和可靠性
作者:
Xingguo Xiong
;
Yu-Liang Wu
;
Wen-Ben Jone
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
关键词:
Material fatigue;
Reliability;
Failure analysis;
MEMS accelerometer;
Redundancy repair;
60.
Core Test Wrapper Design to Reduce Test Application Time for Modular SoC Testing
机译:
核心测试包装器设计,减少模块化SOC测试的测试时间
作者:
Hyunbean Yi
;
Sandip Kundu
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
61.
Defect Tolerance for a Capacitance Based Nanoscale Biosensor
机译:
基于电容的纳米级生物传感器的缺陷耐受性
作者:
Glenn H. Chapman
;
Vijay K. Jain
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
62.
Minimization of CTS of k-CNOT Circuits for SSF and MSF Model
机译:
用于SSF和MSF模型的K-CNOT电路CTS的最小化
作者:
Muhammad Ibrahim
;
Ahsan Raja Chowdhury
;
Hafiz Md. Hasan Babu
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
63.
A Framework to Evaluate the Trade-off among AVF, Performance and Area of Soft Error Tolerant Microprocessors
机译:
一种框架,用于评估AVF,性能和耐软误差微处理器的性能和面积之间的权衡
作者:
GONG Rui
;
DAI Kui
;
WANG Zhiying
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
64.
Can knowledge regarding the presence of countermeasures against fault attacks simplify power attacks on cryptographic devices?
机译:
可以了解对故障攻击对策的存在简化了加密设备的电力攻击吗?
作者:
Francesco Regazzoni
;
Thomas Eisenbarth
;
Luca Breveglieri
;
Paolo Ienne
;
Israel Koren
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
65.
Fault Detection of Bloom Filters for Defect Maps
机译:
缺陷映射的绽放过滤器故障检测
作者:
Jae-Young Choi
;
Yoon-Hwa Choi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
66.
Impact of Technology and Voltage Scaling on the Soft Error Susceptibility in Nanoscale CMOS
机译:
技术与电压缩放对纳米级CMOS软误差敏感性的影响
作者:
Vikas Chandra
;
Robert Aitken
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
67.
Exploring Density-Reliability Tradeoffs on Nanoscale Substrates: When do smaller less reliable devices make sense?
机译:
探索纳米级基板上的密度可靠性权衡:当较小的可靠设备何时才能有意义?
作者:
Andrey Zykov
;
Gustavo de Veciana
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
68.
Soft Error Hardened FF Capable of Detecting Wide Error Pulse
机译:
软错误硬化FF能够检测宽误差脉冲
作者:
Shuangyu RUAN
;
Kazuteru NAMBA
;
Hideo ITO
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
69.
Automatic Detection of In-field Defect Growth in Image Sensors
机译:
自动检测图像传感器的现场缺陷生长
作者:
Jenny Leung
;
Glenn H. Chapman
;
Israel Koren
;
Zahava Koren
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
70.
A Generalized Approach for the Use of Convolutional Coding in SEU Mitigation
机译:
SEU缓解卷积编码使用的广义方法
作者:
L. Frigerio
;
M. A. Radaelli
;
F. Salice
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
71.
Module Grouping for Defect Tolerance in Nanoscale Memory
机译:
模块分组用于纳米级内存中的缺陷容差
作者:
Yoonjae Huh
;
Yoon-Hwa Choi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
72.
Design Space Exploration for the Design of Reliable SRAM-based FPGA Systems
机译:
基于可靠的SRAM的FPGA系统设计设计空间探索
作者:
Cristiana Bolchini
;
Antonio Miele
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
73.
Efficient Determination of Fault Criticality for Manufacturing Test Set Optimization
机译:
有效地确定制造测试集优化的故障临界性
作者:
Yiwen Shi
;
Kellie DiPalma
;
Jennifer Dworak
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
74.
XOR-based Low Cost Checkers for Combinational Logic
机译:
组合逻辑的基于XOR的低成本检查
作者:
C. A. L. Lisboa
;
L. Carro
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
75.
Fabrication Variations and Defect Tolerance for Nanomagnet-based QCA
机译:
基于纳米磁体的QCA的制造变化和缺陷耐受性
作者:
Michael Niemier
;
Michael Crocker
;
X. Sharon Hu
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
76.
A Fault Tolerance Aware Synthesis Methodology for Threshold Logic Gate Networks
机译:
阈值逻辑门网络的容错感知综合方法
作者:
Manoj Kumar Goparaju
;
Ashok Kumar Palaniswamy
;
Spyros Tragoudas
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
77.
Arbitrary Error Detection in Combinational Circuits by-using Partitioning
机译:
使用分区的组合电路中任意错误检测
作者:
Osnat Keren
;
Ilya Levin
;
Vladimir Ostrovsky
;
Beni Abramov
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
78.
System Reliabilities when Using Triple Modular Redundancy in Quantum-Dot Cellular Automata
机译:
在量子点蜂窝自动机中使用三重模块化冗余时的系统可靠性
作者:
Timothy J. Dysart
;
Peter M. Kogge
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
79.
Analyzing the Impact of Fault-tolerant BIST for VLSI Design
机译:
分析VLSI设计容错BIST的影响
作者:
W. Robert Daasch
;
Saurabh Jain
;
David Armbrust
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
80.
Realization of L2 Cache Defect Tolerance Using Multi-bit ECC
机译:
使用多位ECC实现L2高速缓存缺陷公差
作者:
Hongbin Sun
;
Nanning Zheng
;
Tong Zhang
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
81.
A Statistical Model for Assessing the Fault Tolerance of Variable Switching Currents for a 1Gb Spin Transfer Torque Magnetoresistive Random Access Memory
机译:
一种统计模型,用于评估1GB自旋转移扭矩磁阻随机存取存储器的可变切换电流的容错
作者:
Y. Asao
;
M. Iwayama
;
K. Tsuchida
;
A. Nitayama
;
H. Yoda
;
H. Aikawa S. Ikegawa
;
T. Kishi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
82.
On Reducing Circuit Malfunctions Caused by Soft Errors
机译:
关于减少柔软误差引起的电路故障
作者:
Ilia Polian
;
Sudhakar M. Reddy
;
Irith Pomeranz
;
Xun Tang
;
Bernd Becker
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
83.
A Low-Power Safety Mode for Variation Tolerant Systems-on-Chip
机译:
片上变化系统的低功耗安全模式
作者:
David Wolpert
;
Paul Ampadu
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
84.
On Optimizing Fault Coverage, Pattern Count, and ATPG Run Time Using A Hybrid Single-Capture Scheme for Testing Scan Designs
机译:
在使用混合单捕获方案进行测试扫描设计的优化故障覆盖,模式计数和ATPG运行时
作者:
Shianling Wu
;
Laung-Terng Wang
;
Zhigang Jiang
;
Jiayong Song
;
Boryau Sheu
;
Xiaoqing Wen
;
Michael S. Hsiao
;
James C.-M. Li
;
Jiun-Lang Huang
;
Ravi Apte
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
85.
Diagnosis of Analog Circuits by Using Multiple Transistors and Data Sampling
机译:
使用多晶硅和数据采样诊断模拟电路
作者:
Yukiya Miura
;
Jiro Kato
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
86.
Detection of Transistor Stuck-open Faults in Asynchronous Inputs of Scan Cells
机译:
检测扫描单元异步输入中的晶体管粘滞故障
作者:
Fan Yang
;
Sreejit Chakravarty
;
Narendra Devta-Prasanna
;
Sudhakar M. Reddy
;
Irith Pomeranz
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
87.
Design and Evaluation of a Timestamp-Based Concurrent Error Detection Method (CED) in a Modern Microprocessor Controller
机译:
现代微处理器控制器中的时间戳基同时误差检测方法(CED)的设计与评估
作者:
Michail Maniatakos
;
Naghmeh Karimi
;
Yiorgos Makris
;
Abhijit Jas
;
Chandra Tirumurti
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
88.
Checkpointing of Rectilinear Growth in DNA Self-assembly
机译:
DNA自组装中直霉生长检查
作者:
S. Frechette
;
Y. B. Kim
;
F. Lombardi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
关键词:
Checkpointing;
Error tolerance;
DNA self-assembly;
89.
A Power Efficient Masking Technique for Design of Robust Embedded Systems against SEUs and SETs
机译:
一种功率高效的掩蔽技术,用于设计强大的嵌入式系统和SEAS
作者:
M. Fazeli
;
S. G. Miremadi
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
90.
Using TMR Architectures for Yield Improvement
机译:
使用TMR架构进行产量改进
作者:
J. Vial
;
A. Bosio
;
P. Girard
;
C. Landrault
;
S. Pravossoudovitch
;
A. Virazel
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
91.
An Asymmetric Checkpointing and Rollback Error Recovery Scheme for Embedded Processors
机译:
嵌入式处理器的非对称检查和回滚误差恢复方案
作者:
Hamed Tabkhi
;
Seyed Ghassem Miremadi
;
Alireza Ejlali
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
92.
Delay Fault Testability on Two-Rail Logic Circuits
机译:
延迟双轨逻辑电路的故障可测试性
作者:
Kazuteru NAMBA
;
Hideo ITO
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
93.
Prioritization of Paths for Diagnosis
机译:
诊断路径的优先级
作者:
Rajsekhar Adapa
;
Spyros Tragoudas
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
94.
Coping with obsolescence of processor cores in critical applications
机译:
应对关键应用中处理器核的过时
作者:
F. Abate
;
M. Violante
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
95.
A Digital BIST for Phase-Locked Loops
机译:
锁相环的数字BIST
作者:
Kevin Sliech
;
Martin Margala
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
96.
Novel On-CMp Clock Jitter Measurement Scheme For High Performance Microprocessors
机译:
高性能微处理器的新型型CMP时钟抖动测量方案
作者:
C. Metra
;
M. Omana
;
T. M. Mak
;
A. Rahman
;
S. Tam
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
97.
Obtaining Microprocessor Vulnerability Factor Using Formal Methods
机译:
使用正式方法获取微处理器漏洞因素
作者:
Syed Z. Shazli
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
98.
Selective Hardening of NanoPLA Circuits
机译:
纳米电路的选择性硬化
作者:
Ilia Polian
;
Wenjing Rao
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
关键词:
NanoPLA circuits;
Robust design;
Selective hardening;
Fault tolerance;
99.
Network Fault Model for Dependability Assessment of Networked Embedded Systems
机译:
网络嵌入式系统可靠性评估的网络故障模型
作者:
F. Fummi
;
D. Quaglia
;
F. Stefanni
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
100.
Hardware Trojan Detection and Isolation Using Current Integration and Localized Current Analysis
机译:
硬件特洛伊木马检测和隔离采用电流集成和本地化电流分析
作者:
Xiaoxiao Wang
;
Hassan Salmani
;
Mohammad Tehranipoor
;
Jim Plusquellic
会议名称:
《International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems》
|
2008年
意见反馈
回到顶部
回到首页