一种SRAM型FPGA单粒子效应故障注入方法

摘要

With the extensive application of FPGA in aerospace,the SEE fault of SRAM-based FPGA has increasingly attracted attention.SEE simulation using Fault injection is an important way to study the SRAM device＇s Single Event Effect.This paper mainly studies SRA%随着FPGA在航天领域的广泛应用,SRAM型FPGA的单粒子故障也越来越引起人们的重视,用故障注入技术模拟单粒子效应是研究单粒子效应对SRAM器件影响的重要手段,该文主要研究SRAM型FPGA单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲的故障注入技术,并在伴随特性的基础上,提出一种单粒子瞬态脉冲故障注入技术。该方法使注入故障脉冲宽度达到真实值的数量级,并且注入时间、位置可控。