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具有浮置栅极的非易失性存储器件以及形成其的相关方法

摘要

一种非易失性存储器件可以包括:衬底,具有单元区;以及单元器件隔离层,位于该衬底的单元区上,以限定单元有源区。浮置栅极可以包括顺序层叠在单元有源区上的下部浮置栅极和上部浮置栅极,而隧道绝缘图形可以位于浮置栅极与单元有源区之间。控制栅电极可以位于该浮置栅极上,而且阻挡绝缘图形可以位于该控制栅电极与浮置栅极之间。更具体地说,上部浮置栅极可以包括位于该下部浮置栅极上的扁平部分和一对从与该单元器件隔离层相邻的扁平部分两边向上延伸的壁部分。此外,由该扁平部分和这对壁部分包围的空间上部的宽度可以大于该空间下部的宽度。还讨论了相关方法。

著录项

  • 公开/公告号CN1971917B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200610146422.5

  • 申请日2006-11-13

  • 分类号

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人林宇清

  • 地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-01-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/115 授权公告日:20100512 终止日期:20121113 申请日:20061113

    专利权的终止

  • 2010-05-12

    授权

    授权

  • 2008-12-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-05-30

    公开

    公开

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