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谢凯翔;
是德科技;
机译:通过直接和浮栅技术测量从非易失性浮动薄隧道氧化物存储器件中的超低水平陷阱辅助泄漏电流提取的缺陷的空间和能量分布
机译:基于模型的Al / ZrO2 / Al2O3 / ZrO2 / SiO2 / Si结构中注入电流的精确分析,用于电荷捕获非易失性存储器件
机译:具有LDD结构的非易失性存储器件中擦除操作后的导通电流减小
机译:用于非易失性存储器件的片内光CD测量
机译:基于氮化物的局部电荷陷阱非易失性存储器件的阈值电压不稳定性。
机译:基于铜酞菁的非易失性存储器件薄膜
机译:具有胶体1.0nm硅纳米颗粒的非易失性存储器件:操作,制造,测量和分析的原理
机译:非易失性和低温兼容的量子存储器件(QumEm)。
机译:波形感应电流测量装置,包含该波形的测量系统以及使用该感应电流测量方法的波形
机译:具有非易失性存储器(NVM)单元的存储器单元组件,其非易失性存储器(NVM)单元分布在存储器部分中,因此配置为使存储器部分的单元
机译:测量电压和电流波形的装置以及测量该装置的测量电压和电流波形的方法
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