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一种高晶体质量AlN外延层的生长方法

摘要

本发明涉及外延层生长技术领域,尤其涉及一种基于大倾角蓝宝石衬底上生长高晶体质量ALN外延层的方法。该生长方法采用大倾角蓝宝石衬底,包括以下步骤:烘烤衬底;低温沉积AlN成核层;升温退火;AlN高温外延生长,利用台阶聚效应导致的宏台阶降低位错密度;AlN表面形貌控制,提高生长速度修正表面形貌,促进所述宏台阶的减弱和消失,以获得表面平整的AlN表面。本发明提供了一种生长低位错密度和表面平整的高晶体质量AlN外延层的方法。本发明方法简单易行,且对MOCVD系统不会造成任何污染。

著录项

  • 公开/公告号CN104319234B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN201410542542.1

  • 申请日2014-10-14

  • 分类号H01L21/205(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人薛晨光

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 09:50:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-04

    授权

    授权

  • 2015-02-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/205 申请日:20141014

    实质审查的生效

  • 2015-01-28

    公开

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