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运用硅通孔的低阻止区差分传输结构及其层间互连结构

摘要

本发明公开一种运用硅通孔的低阻止区差分传输结构及其层间互连结构。本发明在兼顾屏蔽差分硅通孔优良电学传输性能的同时,显著改善了差分硅通孔传输结构的热力学特性。具体体现在利用硅通孔的差分传输结构制备过程中由于热应力不匹配造成的阻止布局区的减小,有利于在大规模阵列中晶体管集成度的提高。在三维集成电路的实际应用中,往往涉及多层结构间的差分信号传输。为提高传输效率,本发明公开一种层间结构的交叉互连方法。

著录项

  • 公开/公告号CN108538811A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201810229880.8

  • 申请日2018-03-20

  • 分类号H01L23/528(20060101);H01L23/532(20060101);H01L23/552(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人黄前泽

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2023-06-19 06:29:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/528 申请日:20180320

    实质审查的生效

  • 2018-09-14

    公开

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