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LIU sheng; 刘升; TANG wanchun; 唐万春;
中国电子学会;
差分硅通孔互连; 非对称结构; 共模噪声; 电磁干扰;
机译:非对称非均匀互连中差分到共模转换的扰动分析
机译:差分扫描光电容显微镜在三维硅通孔结构中金属互连线的缺陷定位
机译:高速数字电路中弱耦合差分蛇形延迟微带线的共模噪声分析
机译:通过硅通孔(TSV)具有高均匀性和低成本的硅通孔液相识的晶片级湿法蚀刻高密度互连3D包装的高密度互连
机译:通过硅互连结构的晶圆通孔传输功率的工艺开发
机译:具有无通孔多层金属互连的高度堆叠3D有机集成电路
机译:3D硅直通孔(TSV)对通孔挤出的处理效果互连:两种TSV结构的比较研究
机译:mCm高密度互连通孔的有限元建模与分析
机译:用硅通孔在基体腔中用硅通孔安装半导体装置的方法及用于FI-POP电互连的方法
机译:具有高差分阻抗和低共模阻抗的差分放大器(具有高差分和低共模阻抗的差分放大器)
机译:非对称双弯曲偏移补偿,用于将差分模式减小为共模转换
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