首页> 中国专利> 基于大数值孔径物镜整合暗场观察的椭偏仪及测量方法

基于大数值孔径物镜整合暗场观察的椭偏仪及测量方法

摘要

本发明属于光学测量相关技术领域,并具体公开了一种基于大数值孔径物镜整合暗场观察的椭偏仪及测量方法。所述椭偏仪包括物镜、镜筒透镜以及关于其中心轴对称布置的照明光路模块和明场光路模块,照明光路模块包括光源、单色仪、光纤、起偏臂以及第一反射镜,明场光路模块包括第二反射镜、检偏臂以及明场检测器。所述方法包括选择指定波长和特征的偏振光,先后经过照明光路模块实现偏振测量的倾斜入射条件,然后引入反射镜和垂直物镜光路,经过明场光路模块和暗场光路模块,可以同时实现明场和暗场观察测量。本发明可实现纳米结构薄膜光学常数以及膜厚、纳米结构特征线宽、线高、侧壁角等几何参数的全视场高分辨率、低成本、非破坏性精确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN110987817A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201911345061.0

  • 发明设计人 陈修国;庄锦峰;刘世元;

    申请日2019-12-24

  • 分类号G01N21/21(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智;孔娜

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-12-17 08:21:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/21 申请日:20191224

    实质审查的生效

  • 2020-04-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号