Ellipsometers; Ellipsometry; Corrosion; Films; Surface properties; Optical reflection; Uses; Operation; Performance;
机译:椭圆偏振光谱法揭示VO_2的绝缘体-金属跃迁中的不对称磁滞的微观性质
机译:光谱椭圆仪和穆勒椭圆仪在光学表征中的应用。
机译:光谱椭偏仪,光谱反射仪和光谱成像反射仪对厚度不均匀的SiO_xC_yH_z薄膜的光学表征
机译:温度依赖性光谱 - 椭偏针(T型椭圆形)固体基材上薄聚合物膜的表征
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:光谱椭圆形表征沉积和退火的非化学计量铟锌氧化锌薄膜
机译:腐蚀测量技术的特殊问题/趋势和未来。现代椭圆形。光谱椭圆形和红外椭圆形测定法。