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Growth Optimization of GaAsSb Lattice Matched to InP by Gas-Source Molecular- Beam-Epitaxy

机译:气源分子束外延生长与InP匹配的GaAsSb晶格生长优化

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摘要

[[abstract]]Bulk GaAsSb samples were grown lattice matched to InP substrates at different temperatures using gas-source molecular-beam epitaxy in order to optimize the crystal quality. Growth temperatures from 15 °C above the InP surface oxide desorption temperature to 145 °C below it have been investigated. Undesirable properties such as Sb composition variation and natural composition superlattices in the growth direction have occurred at high growth temperature possibly due to phase separation. High quality, single phase GaAsSb lattice matched to InP has been grown at 135 °C below the desorption temperature as evidenced by narrow linewidths and clear Pendellösung fringes displayed in high-resolution x-ray diffraction spectra.
机译:[[摘要]]使用气体源分子束外延技术在不同温度下将块状GaAsSb样品与InP衬底晶格匹配,以优化晶体质量。已经研究了生长温度从高于InP表面氧化物解吸温度15 C到低于InP表面氧化物解吸温度145 C的生长温度。可能由于相分离,在高生长温度下出现了不希望的特性,例如在生长方向上的Sb组成变化和自然组成超晶格。高质量,与InP匹配的单相GaAsSb晶格已在解吸温度以下135 C处生长,这由窄的线宽和高分辨率X射线衍射光谱中显示的清晰Pendellösung条纹证明。

著录项

  • 作者

    Bing-Ruey Wu;

  • 作者单位
  • 年度 2012
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 [[iso]]en
  • 中图分类

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