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【2h】

Identification of Doping Profiles in Semiconductor Devices

机译：识别半导体器件中的掺杂分布

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Martin Burger; Heinz W. Engl; Peter A. Markowich; Paola Pietra;
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年度 2001
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1. Identification of doping profiles in semiconductor devices [J] . Martin Burger, Heinz W Engl, Peter A Markowich, Inverse Problems: An International Journal of Inverse Problems, Inverse Methods and Computerised Inversion of Data . 2001,第6期

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