机译:用于高温(200℃)和大电流应用的塑料封装中金/铝键合的可靠性
STMicroelectronics, Via C.Olivetti 2, Agrate Brianza(Mi), Italy;
机译:Au / Al键合I塑料封装在高温(200℃)和大电流应用中的可靠性
机译:塑料封装中的金线键合:改进了高温(200C)和大电流应用的可靠性
机译:钯表面粗糙度对金球键合过程和高温可靠性的影响
机译:高温(200°C)和高电流塑料封装中铜线键合的可靠性 - (PPT)
机译:100万金丝键合在不同焊盘开口形状,尺寸和放置精度下的机械可靠性。
机译:纳米半导体封装中高温老化后金和钯包覆铜线的可靠性评估和活化能研究
机译:在高于200 ^ ^ deg的温度下操作的SiC电源模块的Al导线键合的可靠性。
机译:塑料封装热机械测量在pEms可靠性评估中的应用