机译:塑料封装中的金线键合:改进了高温(200C)和大电流应用的可靠性
STMicroelectronics, Via C.Olivetti 2, Agrate Brianza(Mi), Italy;
机译:用于高温(200℃)和大电流应用的塑料封装中金/铝键合的可靠性
机译:Au / Al键合I塑料封装在高温(200℃)和大电流应用中的可靠性
机译:汽车应用高温资格测试期间金铝键合线的降解机理:通过工艺改进提高质量
机译:Cu键合:塑料包装中高温可靠性改进
机译:100万金丝键合在不同焊盘开口形状,尺寸和放置精度下的机械可靠性。
机译:纳米半导体封装中高温老化后金和钯包覆铜线的可靠性评估和活化能研究
机译:耦合模拟瞬态热流和薄丝电流的仿真:在微电子芯片包装中的粘合线