机译:具有轴向载流子寿命梯度的P〜+ NN〜+二极管结构中的OCVD载流子寿命
Department of Electrotechnology, Czech Technical University in Prague, Technicka 2, 166 27 Praha 6, Czech Republic;
OCVD method; carrier lifetime gradient; power diode structures;
机译:在4H-SiC双极平面二极管上进行OCVD寿命测量:取决于载流子注入和二极管面积
机译:SIC功率MOSFET体二极管的OCVD载波寿命与温度测量与反向恢复行为的相关性
机译:Al〜+离子注入的4H-SiC垂直p〜+ -i-n二极管:漏电流和OCVD载流子寿命的处理依赖性
机译:非均匀二极管结构上的OCVD载流子寿命测量
机译:III-V和II-VI型天基红外探测器中的载流子寿命与质子辐射的关系
机译:抗体生长TiO2在光子应用中的光致电荷载体寿命优化
机译:具有轴向载流子寿命梯度的P + NN +二极管结构中的OCVD载流子寿命
机译:对于频率在0.5和18.5 mHz之间的si / siGe异质结pN二极管的等效电路和载波寿命的研究(Undersoekning av Ekvivalenta Kretsen samt Laddningsbaerarnas Livslaengder fr Frekvenser mellan 0,5 och 18,5 mHz i si / siGe Baserade Heterostruktur-Dioder av pN Typ)