HgCdTe中少数载流子寿命的微波反射法测量

摘要

用微波反射法测量HgCdTe中少数载流子寿命.分析了其测量原理,并与接触式的光电导衰减法进行了对比.结果表明,被测样品HgCdTe中的电学性能并不均匀,用微波反射法更能真实地反映样品光照区域少数载流子的寿命.