机译:片上互连对通过硅通孔的3D集成电路性能的影响:第一部分
Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA;
3-D integration; Joule heating; bandwidth; electromigration; interconnect; modeling; optimization; reliability; technology scaling; through silicon via (TSV); through silicon via (TSV).;
机译:片上互连对带有硅通孔的3D集成电路性能的影响:第二部分
机译:具有硅通孔的3D集成电路热性能分析的有效方法
机译:具有硅通孔的嵌入式三维混合集成电路集成系统级封装,用于有机基板/印刷电路板中的光电互连
机译:3-D集成电路中聚合物嵌入的硅通孔(TSV)的建模和表征
机译:基于TSV的3-D集成电路片上PDN互连的设计,模型和分析
机译:片上无线硅光子学:从可重新配置的互连到片上实验室设备
机译:在3-D集成电路中通过硅通孔(TSV)互连进行信令传输时。