机译:衬底偏置对NMOS器件中热载流子损坏的影响
机译:具有高k栅叠层的短沟道nMOS器件在交流应力下的沟道热载流子退化
机译:管芯位置对等离子刻蚀NMOS器件热载流子响应的影响
机译:宽和窄LDD NMOS晶体管中的热载流子应力损伤
机译:隔离氧化物在确定NMOS LDD器件的最坏情况下的热载流子应力条件中的作用
机译:氢/氘同位素效应在提高MOS器件的热载流子可靠性方面的基础和应用。
机译:NMO和相关疾病中的MOG-IgG:一项针对50位患者的多中心研究。第4部分:MOG-IgG血清阳性与AQP4-IgG血清阳性的患者在视神经炎后传入视觉系统的损害
机译:先进的NMOS晶体管中的热载流子机制