机译:负偏压温度不稳定性的物理机制
Department of Physics and Astronomy, Vanderbilt University, Nashville, Tennessee 37235;
机译:p-MOSFET负偏置温度不稳定性的产生和恢复的物理机制和栅极绝缘体材料依赖性
机译:通过重复应力/松弛实验重新评估负偏压温度不稳的机制
机译:聚合物基薄膜晶体管的负偏置应力不稳定性机理的物理成因与分析
机译:负偏压温度不稳定性:测量和降级机制
机译:关于高温高压下部分预混合稀燃,燃烧速度,火焰不稳定性和替代燃料的等离子体形成的实验和理论研究。
机译:聚丙烯酰胺水凝胶不稳定性的机理高温条件
机译:p-MOSFET中负偏压温度不稳定性的产生和恢复的物理机制和栅极绝缘体材料依赖性