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孙再吉;
FDSOI; 绝缘体上硅; 硅集成电路; 硅晶圆; 高性能处理器; 沟道效应; 二十一世纪; 高性能产品; 氧化层; 结深;
机译:采用28 nm完全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)技术的2.45 GHz 0.8 mW压控环形振荡器(VCRO)
机译:采用0.15 µm完全耗尽型绝缘体上硅(FDSOI)工艺的0.5 µW亚阈值运算跨导放大器
机译:椭偏光度法测定完全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)基板的光学性能
机译:适用于部分耗尽型绝缘体上硅(SOI)MOSFET的面积有效体接触。
机译:FinFET和带铁电电容器的全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)MOSFET的磁滞窗口研究
机译:全耗尽sOI(绝缘体上硅)mOsFET的短沟道效应
机译:完全耗尽的绝缘体上硅(FDSOI)晶体管器件和FDSOI本体暴露区域中的自对准有源区
机译:完全耗尽的绝缘体上硅(FDSOI)上的横向双扩散金属氧化物半导体(LDMOS)器件,可实现高输入电压
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