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杨邦朝; 苏宏; 任辉;
电子科技大学,610054;
无铅焊料; 电迁移; 电流集聚; 金属间化合物; 焊点下金属化层;
机译:交流电对无铅焊料合金电迁移和热迁移的破坏机理:实验研究
机译:阐明无铅焊料连接电迁移现象的基础研究
机译:晶粒结构对无铅焊料凸块电迁移失效的影响
机译:在薄膜陶瓷基板上的40μm或30μm直径的倒装芯片无铅焊料连接中的电迁移研究
机译:多晶无铅焊料中电迁移导致锡扩散引起的空洞成核和初始空洞生长的3D模型。
机译:Cu / Sn-3.0AG-0.5Cu / Cu / Cu / Cu / Cu焊点在电迁移期间锯齿状阴极溶解的结晶特征效应
机译:电迁移对焊点形成的影响:99.3sn-0.7Cu与96.5sn-3.0ag-0.5Cu无铅焊料的比较
机译:电迁移中电子结构效应的研究
机译:耐电迁移的无铅焊料互连结构
机译:低电流和高电流应力电迁移的互连装置及相关性研究
机译:用于在电子设计中表征电迁移效应的方法,系统和计算机程序产品
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